TVS(Transient Voltage Suppressor)二極管,即瞬態(tài)抑制二極管,是一種用于保護(hù)電子設(shè)備免受瞬態(tài)過電壓(如雷擊、靜電放電等)損害的重要元件。判斷TVS二極管的好壞,通常需要從外觀檢查、電氣特性測試以及實(shí)際應(yīng)用表現(xiàn)等多個(gè)方面進(jìn)行綜合評估。以下是對如何判斷TVS二極管好壞的介紹:
一、外觀檢查
- 包裝與引腳 :
- 檢查TVS二極管的包裝是否完好,焊盤和引腳是否無損、無遺漏或變形。
- 注意引腳是否有彎曲、斷裂或氧化現(xiàn)象,這些都可能影響TVS二極管的性能。
- 外殼與標(biāo)記 :
- TVS二極管的外殼通常由塑料或金屬制成,應(yīng)檢查外殼是否有裂紋、刮擦或其他物理損傷。
- 檢查外殼上印刷的型號、品牌標(biāo)志等是否清晰可辨,無模糊或印刷深淺不一的情況。
- 封裝氣密性 :
- 使用放大鏡仔細(xì)檢查封裝是否具備良好的氣密性,觀察封裝內(nèi)部是否有氣泡、殘留物或其他外來物質(zhì)。這些現(xiàn)象可能表明封裝存在缺陷或生產(chǎn)過程中的問題。
二、電氣特性測試
- 阻抗測量 :
- 電壓測量 :
- 施加不同的電壓到TVS二極管上,觀察其響應(yīng)情況。逐步增加電壓并監(jiān)測電流和電壓之間的關(guān)系。如果在達(dá)到規(guī)定電壓時(shí),電流急劇增加或電壓無法繼續(xù)增加,這可能表明TVS二極管已損壞或失去保護(hù)功能。
- 耐壓能力測試 :
- TVS二極管的一個(gè)重要功能是保護(hù)其他電子元件免受瞬態(tài)過電壓的影響。因此,測試其耐壓能力至關(guān)重要。通過施加超過其額定工作電壓的瞬態(tài)高壓來測量TVS二極管的響應(yīng)。如果TVS二極管能快速響應(yīng)、分流并保持過電壓在安全范圍內(nèi),說明其具備很好的瞬態(tài)抑制能力。
- 線性特性測試 :
三、實(shí)際應(yīng)用表現(xiàn)
- 功能驗(yàn)證 :
- 將TVS二極管安裝在設(shè)計(jì)的電路中進(jìn)行功能驗(yàn)證。模擬實(shí)際工作中可能遇到的電壓沖擊,觀察TVS二極管是否能有效抑制高電壓并保護(hù)關(guān)鍵元件。這是評估TVS二極管性能最直接的方法之一。
- 長期可靠性測試 :
- 長時(shí)間運(yùn)行電路以檢查TVS二極管是否存在過熱或性能下降的問題。長期可靠性測試能夠反映TVS二極管在實(shí)際工作環(huán)境中的穩(wěn)定性和耐久性。
四、其他注意事項(xiàng)
- 參考規(guī)格書 :
- 在判斷TVS二極管好壞時(shí),應(yīng)參考相應(yīng)的規(guī)格書或數(shù)據(jù)手冊。不同型號和品牌的TVS二極管其特性和參數(shù)可能會有所不同。因此,了解并遵循規(guī)格書上的要求對于準(zhǔn)確判斷TVS二極管的好壞至關(guān)重要。
- 專業(yè)測試設(shè)備 :
- 盡可能使用專業(yè)的測試設(shè)備來進(jìn)行電氣特性測試。專業(yè)的測試設(shè)備能夠提供更準(zhǔn)確、更可靠的測試結(jié)果有助于更準(zhǔn)確地判斷TVS二極管的好壞。
- 定期維護(hù)檢查 :
- 在TVS二極管的使用過程中應(yīng)定期進(jìn)行性能檢查和更換。特別是在惡劣的工作環(huán)境下更應(yīng)加強(qiáng)維護(hù)和檢查以確保電路的長期安全和穩(wěn)定。
五、TVS二極管失效分析
1 過電應(yīng)力
當(dāng)瞬態(tài)脈沖能量超過 TVS 所能承受能量時(shí)會引起 TVS 器件過電應(yīng)力損傷,特別是當(dāng)瞬態(tài)脈沖能量達(dá)到 TVS 所能承受能量的數(shù)倍時(shí)會直接導(dǎo)致 TVS 器件過電應(yīng)力燒毀,失效模式表現(xiàn)為短路。過電應(yīng)力短路失效的 TVS 芯片在掃描電鏡下觀察,可發(fā)現(xiàn) pn 結(jié)表面邊緣的熔融區(qū)域或體內(nèi)硅片的上表面和下表面的黑斑。
試驗(yàn)表明,發(fā)生在結(jié)表面邊緣過電應(yīng)力短路失效通常是由持續(xù)時(shí)間極短(ns 級)的高能量瞬態(tài)脈沖所致,例如:EMP、ESD 產(chǎn)生的脈沖;體內(nèi)過電應(yīng)力失效通常是由持續(xù)時(shí)間稍長(μs 級以上)高能量脈沖所致,例如:電快速瞬變,雷電產(chǎn)生的脈沖。如果高能量瞬態(tài)脈沖持續(xù)時(shí)間介于 ns 級和 μs 級之間,則短路可能發(fā)生在結(jié)邊緣表面,也可能發(fā)生在體內(nèi)。這一結(jié)果可通過熱傳導(dǎo)速率、硅和電極金屬的熔融溫度得到解釋。如圖5所示,pn 結(jié)邊緣到熱沉的傳熱路徑比體內(nèi)長,傳熱較體內(nèi)慢,因此結(jié)邊緣溫度比體內(nèi)高。持續(xù)時(shí)間極短(ns 級)的高能量瞬態(tài)脈沖使邊緣溫度急劇升高,導(dǎo)致邊緣熱擊穿而燒毀。而持續(xù)時(shí)間較長(μs 以上)脈沖使邊緣熱量有足夠的時(shí)間傳至芯片中心周圍。隨著芯片溫度的升高,芯片中心周圍產(chǎn)生熔融通道。當(dāng)熔融從芯片的一表面延伸到另一表面時(shí),硅片溫度超過1400 ℃,處于熔融和非晶狀態(tài),成為導(dǎo)體,形成導(dǎo)電通路,使芯片短路。如果脈沖持續(xù)時(shí)間達(dá)到ms 級,例如,雷電產(chǎn)生的脈沖,還會使鉛錫焊料達(dá)到700 ℃以上而發(fā)生熔融。
2 高溫
當(dāng) TVS 器件工作溫度超過其最大允許工作溫度時(shí),易發(fā)生短路失效且通常發(fā)生在pn 結(jié)表面。這是因?yàn)?,在高溫條件工作下,表面可動離子的數(shù)量大大增加,表面電流也隨之增大,表面功率密度和溫度比體內(nèi)高,使 pn 結(jié)邊緣結(jié)溫超過 200℃,邊緣局部區(qū)域晶格遭受致命性的損壞。TVS 在高溫反偏篩選中短路失效情況統(tǒng)計(jì)表明:高擊穿電壓(150 V 以上)TVS 器件更容易發(fā)生短路失效。這是因?yàn)樵谙嗤~定功率的 TVS 系列中,在承受相同功率時(shí),高擊穿電壓 TVS 芯片溫升更高。
3 長時(shí)間工作耗損
對篩選合格的 TVS 器件進(jìn)行浪涌壽命試驗(yàn),發(fā)現(xiàn) TVS 器件經(jīng)過成千上萬次標(biāo)準(zhǔn)指數(shù)脈沖(所能承受的浪涌脈沖次數(shù)與質(zhì)量等級相關(guān))沖擊后失效,失效模式通常為短路。對失效樣品進(jìn)行解剖后,在掃描電鏡下觀察芯片,發(fā)現(xiàn)結(jié)邊緣發(fā)生熔融現(xiàn)象和結(jié)邊緣焊料結(jié)構(gòu)發(fā)生了變化,且結(jié)最邊緣處最為嚴(yán)重。失效機(jī)理可能結(jié)邊緣焊料形成金屬化合物而脆化,使管芯與底座熱沉逐漸分離,結(jié)邊緣的散熱能力降低,長時(shí)間工作結(jié)溫持續(xù)增大導(dǎo)致過熱燒毀。
內(nèi)在質(zhì)量因素引起 TVS 短路失效的機(jī)理主要是 TVS 制造工藝過程造成的芯片缺陷或損傷使 TVS 在承受脈沖沖擊時(shí)芯片局部電流集中,導(dǎo)致芯片局部過熱而燒毀。引發(fā) TVS 短路的使用因素主要有過電應(yīng)力、高溫和長時(shí)間使用耗損。在 TVS 實(shí)際使用中,TVS 短路失效可能是各種因素綜合作用的結(jié)果。
要減少 TVS短路失效,首先應(yīng)加強(qiáng) TVS 制造工藝過程的控制,尤其是對燒焊、臺面成型、堿腐蝕清洗、摻雜等工藝過程的控制,以減少或消除TVS 的固有缺陷。例如:國際上采用先進(jìn)的燒焊工藝已能將空洞面積控制在 10 %以下,采用離子注入摻雜能對摻雜過程進(jìn)行更好的控制,這些都大大提高了 TVS 的可靠性。其次,做到 TVS 的正確選型與安裝,最好對 TVS 進(jìn)行降額使用,這樣可使 TVS 承受的功率較小,使用可靠性大大增加。此外,為使 TVS 發(fā)生短路失效時(shí)對被保護(hù)電子設(shè)備的影響降到最低,通常可在 TVS 前串接一條與之匹配的保險(xiǎn)絲。
綜上所述,判斷TVS二極管的好壞需要從外觀檢查、電氣特性測試以及實(shí)際應(yīng)用表現(xiàn)等多個(gè)方面進(jìn)行綜合評估。通過綜合應(yīng)用這些方法可以更準(zhǔn)確地了解TVS二極管的性能狀況從而及時(shí)采取相應(yīng)措施進(jìn)行修復(fù)或更換。
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