實(shí)驗(yàn)名稱:基于單端接觸原理的LED外延片無損檢測(cè)
實(shí)驗(yàn)內(nèi)容:基于單注入模式,使用新型檢測(cè)系統(tǒng)獲取LED外延片的電學(xué)參數(shù)與光學(xué)參數(shù)。
研究方向:LED外延片檢測(cè)
測(cè)試設(shè)備:光譜儀、函數(shù)信號(hào)發(fā)生器、ATA-2161高壓放大器、顯微鏡及成像系統(tǒng)、示波器、電腦等。
實(shí)驗(yàn)過程:
圖1:實(shí)驗(yàn)裝置原理圖
首先對(duì)LED外延片進(jìn)行光致發(fā)光(PL)測(cè)試,通過光譜儀獲取峰值波長(zhǎng)。然后,將測(cè)試設(shè)備按圖1所示連接完畢后,將待測(cè)LED外延片放置在ITO玻璃上,緩慢下降探針,直至LED外延片產(chǎn)生電致發(fā)光現(xiàn)象。通過光譜儀獲取峰值波長(zhǎng),示波器獲取電學(xué)參數(shù)。最后,使用傳統(tǒng)的電致發(fā)光(針測(cè))對(duì)LED外延片進(jìn)行測(cè)試。在保證光譜儀軟件顯示的相對(duì)強(qiáng)度在一致或接近時(shí),獲取LED外延片的電學(xué)參數(shù)和光學(xué)參數(shù)。
實(shí)驗(yàn)結(jié)果:
圖2:SC-EL所獲得的光學(xué)參數(shù)與針測(cè)所獲得的光學(xué)參數(shù)
圖3:SC-EL所獲得的光學(xué)參數(shù)與針測(cè)所獲得的光學(xué)參數(shù)
由于針測(cè)獲得的數(shù)據(jù)最具有可靠性,因此將其作為標(biāo)準(zhǔn)值來比較PL測(cè)試與單端接觸電致發(fā)光(SC-EL)測(cè)試所獲得數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,SC-EL所獲得的光學(xué)參數(shù)與針測(cè)所獲得的光學(xué)參數(shù)更加接近并且不會(huì)對(duì)LED外延片造成機(jī)械性損傷(如圖2、圖3所示)。此外,SC-EL所獲取的電學(xué)參數(shù)與針測(cè)所獲取的電學(xué)參數(shù)(反向漏電流)具有同樣的趨勢(shì),可以反映針測(cè)所獲取數(shù)據(jù)的水平(如圖4所示)。
圖4:針測(cè)所獲取數(shù)據(jù)的水平
高壓放大器推薦:ATA-2161
圖:ATA-2161高壓放大器指標(biāo)參數(shù)
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