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深入解讀MOSFET關(guān)鍵特性及指標

UtFs_Zlgmcu7890 ? 來源:未知 ? 作者:胡薇 ? 2018-06-29 11:10 ? 次閱讀

MOSFET電子系統(tǒng)中的重要部件,需要深入了解它的關(guān)鍵特性及指標才能做出正確選擇。這些關(guān)鍵指標中,以靜態(tài)特性和動態(tài)特性更為重要,本文主要討論靜態(tài)特性。

本文選取Nexperia 最新推出的BUK7Y1R7-40H,以官方手冊中的數(shù)據(jù)和圖表,作為解讀依據(jù)。BUK7Y1R7-40H于2017年9月推出,基于最新工藝-Trench9制作,符合AEC-Q101認證??梢詮V泛應(yīng)用于12V汽車系統(tǒng),如EPS,E-Pump等。

靜態(tài)特性表

VBR(DSS) (漏極 - 源極擊穿電壓)- 表示在整個MOSFET溫度范圍內(nèi),保證器件在關(guān)斷狀態(tài)下阻隔的漏極和源極之間的最大電壓。溫度范圍為-55°C至+175°C。在電壓和溫度范圍內(nèi),BUK7Y1R7-40H漏極和源極之間的電流保證低250μA。若器件溫度低于+25°C,則該范圍VBR(DSS)小于等于40V;若器件溫度為+25°C至+175°C,則該范圍VBR(DSS)小于等于40V。

關(guān)斷狀態(tài)下溫度對特性的影響有兩方面。漏電流隨溫度升高而增大,可使器件導(dǎo)通。與漏電流增大一樣,擊穿電壓也隨溫度升高而上升。

VGS(th)(柵極 - 源極閾值電壓)對決定MOSFET的導(dǎo)通和關(guān)斷狀態(tài)而言,非常重要。VGS(th)在VDS=VGS 時定義,有時候也會針對固定的VDS值(例如10 V)進行引述。

需要注意,當柵極和漏極短接在一起時,針對特定電流的閾值電壓定義與教科書中的示例有所不同。教科書中的參數(shù)描述了MOSFET的物理狀態(tài)變化,與MOSFET芯片尺寸無關(guān)。但是,數(shù)據(jù)手冊中使用的參數(shù)針對指定電流值,與芯片尺寸有關(guān),因為電流與芯片面積成比例。

數(shù)據(jù)手冊中的閾值電壓,以最適合常規(guī)測量的方式定義,而不是以實際器件的通常使用方式為準。下圖中提供的圖形支持該參數(shù)。

圖1

圖2

第一張圖顯示了典型和限值器件在額定溫度范圍內(nèi)的閾值電壓變化。所有MOSFET都保證在兩條線之間存在閾值電壓。

因此,就25°C的BUK7Y1R7-40H而言,若VDS和VGS同時低于2V,則所有同型號器件承受的電流均低于1mA。若VDS和VGS均大于4V,則所有器件承受的電流都超過1mA。175°C時,器件下限下降至1V,上限下降至2.5V。下限值通常更為重要,因為它決定器件何時應(yīng)保證關(guān)斷,以及相關(guān)應(yīng)用需要具有多少噪聲裕量。

第二張圖顯示了器件如何在此閾值電壓附近導(dǎo)通。對于BUK7Y1R7-40H而言,若柵極電壓增加不到1 V,則電流增加100,000倍。示例表示漏極 - 源極電壓固定為5V的情況。

IDSS(漏極漏電流)保證器件在其關(guān)斷狀態(tài)下的最大額定漏極 - 源極電壓時可傳輸?shù)淖畲舐╇娏鳌?wù)必要注意高溫時的IDSS高出多少,這是最壞的情況。

IGSS(柵極漏電流)保證最大泄漏電流通過MOSFET的柵極。計算保持器件導(dǎo)通所需的電流時,IGSS是非常重要的參數(shù)。由于該電流是通過絕緣體的漏電流,因此與IDSS不同的是,它與溫度無關(guān)。

RDS(on)(漏極 - 源極導(dǎo)通電阻)是最重要的參數(shù)之一。之前的參數(shù)確保器件關(guān)斷時如何工作、器件如何關(guān)斷以及預(yù)期有多少漏電流。當在電池應(yīng)用中存在問題時,這些因素都很重要。

RDS(on) 是MOSFET導(dǎo)通時,其閉合開關(guān)的性能量度。它是決定含有MOSFET的電路功耗和效率的關(guān)鍵因素。導(dǎo)通電阻 RDS(on) × ID2表示MOSFET在完全導(dǎo)通情況下的功耗。功率MOSFET在導(dǎo)通狀態(tài)下可承受幾十甚至幾百安培的電流。

MOSFET中消耗的功率使芯片溫度上升至超過底座溫度。此外,當MOSFET芯片溫度升高時,其RDS(on) 也成比例地上升。建議的最大結(jié)點溫度為175°C(針對所有Nexperia封裝的 MOSFET 而言)。

以 BUK7Y1R7-40H 數(shù)據(jù)手冊為例:

結(jié)點(芯片)和底座之間每瓦的 Rth(j-mb) 溫度上升值為0.51 K/W (0.51°C/W)。

溫度上升150 K(Tmb = 25°C,Tj = 175°C)時,最大功耗

Pmax = 150/0.51 = 294 W(與手冊一致)。

芯片溫度(Tj)為175°C時的最大RDS(on) = 3.7mΩ。

MOSFET的RDS(on)取決于柵極-源極電壓,并且存在一個較低的數(shù)值,低于該值則該參數(shù)急劇上升。針對不同的柵極驅(qū)動器, RDS(on) 隨溫度上升的比例也不同。有關(guān)電阻如何隨溫度而上升的典型曲線,如下圖:

圖3

結(jié)語

功率MOSFET廣泛應(yīng)用于工業(yè)、消費和汽車領(lǐng)域。特別地,在剎車系統(tǒng)、動力轉(zhuǎn)向系統(tǒng)、小功率電機驅(qū)動和引擎管理電路中,MOSFET的地位越來越重要。了解MOSFET的關(guān)鍵參數(shù)和電氣性能,對于工程師后期的設(shè)計,能夠起到事半功倍的效果。

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原文標題:Nexperia 功率MOSFET電氣特性解讀

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