3G提高了通信速度,4G改變了我們的生活,5G時代則因為技術(shù)的革命性,整個社會形態(tài)與商業(yè)形態(tài)都被深刻影響,對于芯片封裝測試領(lǐng)域同樣也帶來了許多新的技術(shù)革新......
11月上旬,2018中國集成電路產(chǎn)業(yè)促進大會的5G通信芯片主題論壇上,Qorvo亞太區(qū)客戶質(zhì)量工程總監(jiān)周寅便用示例詳細介紹了傳統(tǒng)的芯片封裝測試工藝流程與5G芯片封裝技術(shù)演進路線。
Qorvo是全球少數(shù)能夠整合所有射頻全方位解決方案的公司,主要業(yè)務(wù)領(lǐng)域包括移動終端、基站芯片和航空航天等。工欲善其事,必先利其器,兩年前新投入運營的德州工廠是Qorvo全球范圍內(nèi)最大的組裝、封裝和測試運營中心,補充了Qorvo現(xiàn)有的北京制造業(yè)務(wù), 并與Qorvo北京工廠組成Qorvo中國制造中心,共同合力支撐全球的生產(chǎn)運營。
這一種很典型的十幾年前一種基于基板(Substrate)的層壓封裝結(jié)構(gòu)模型(Laminate Module Package),它大致上可分為幾個步驟:首先在基板表面貼裝SMT的被動元件,也就是我們平時常用到的電容、電感等。第二步貼主動元件,就是中間部分的晶圓,它實現(xiàn)芯片的大部分電路功能。這兩步做完之后,需要連接電路,以前一般用金線、銅線、鋁線進行連接,以實現(xiàn)芯片的電路功能。做完這三步后,芯片的功能便基本實現(xiàn)了,接下來還要用一些材料,比如陶瓷或聚脂,對芯片塑封以確??煽啃浴_@就是封裝最基本、最簡單的一套流程。
1晶圓研磨和切割工藝
2倒裝芯片貼裝工藝
在芯片里貼被動元件與在電路板上貼元件類似,刷上焊錫膏,把被動元件焊接到基板上面,實現(xiàn)它的連接功能,唯一的區(qū)別只是它用到的SMD元件會更小。今后的趨勢是分立元件會更多地集成在芯片里,外圍不會有太多元件。
作為功率放大的器件,需要高功率的、高帶寬的材料,比如砷化鎵、氮化鎵,也需要一些低頻的功率器件,共同做在晶圓上。每一片晶圓,可能包含許多直徑大概0.1到0.5毫米的小晶片,我們稱之為die。對晶圓的專用機器會使用環(huán)氧樹脂將晶圓粘接到目標表面,令目標與晶圓進行導(dǎo)電導(dǎo)熱的連接。環(huán)氧樹脂材料對die和die之間的距離有一定限制,隨著晶圓越做越小,也可能用到一些其它新材料,例如導(dǎo)電薄膜,從而使芯片的集成度提高。
3引線鍵合工藝
焊線(Wire Bond)將芯片上的電路連接起來。現(xiàn)在焊線的方式會用到一個mil(千分之一英寸,約0.0254mm)的金線,隨著成本控制和其它一些生產(chǎn)考量,也會用到合金、鋁線或其它一些焊線材料。不同的die之間互相用這種線進行連接。
雖然采用焊線的芯片,基板設(shè)計靈活度較高,但焊線制約了封裝的尺寸。隨著頻段越來越寬、頻譜越來越復(fù)雜,焊線技術(shù)已不太適用消費電子產(chǎn)品,尤其是可穿戴設(shè)備?,F(xiàn)在常用銅柱凸點倒裝的方式實現(xiàn)芯片內(nèi)的連接。
4塑封成型工藝
塑封前
塑封后
最終我們利用環(huán)氧樹脂、二氧化硅或其它材料對芯片進行塑封,以實現(xiàn)產(chǎn)品的可靠性,比如防潮、防震這些功能。塑封完成后會在芯片上面激光打碼,留下一些基本信息,通過這些信息就可以追溯芯片的生產(chǎn)記錄。打碼后會將整版芯片切割成單個芯片包裝。
5切割工藝
6檢驗
包括磁阻檢測、整板測試、干式烘焙測試、晶圓探測等。
//射頻芯片封裝模式的不斷演進//
縱觀芯片封裝模式的演進,5-10年前器件的封裝更多的是用Wire Bond間隔的模式,通過晶片貼到類似于傳統(tǒng)意義的PCB的基板上,達到厚度更薄密度更高。又或者是Wire Bond間隔的多個晶片及表面貼裝元件的混裝方式,能夠把wafer的其它一些功能,比如控制模塊、電源管理模塊、filter,包括開關(guān),全部封裝在里邊。
5年前的封裝模式現(xiàn)在很多主流的手機和基站產(chǎn)品仍在使用,更多用的是倒貼的方式。接下來的封裝,集成度會越來越高。系統(tǒng)級封裝(System In a Package)可將多種功能芯片,包括處理器、存儲器等功能芯片集成在一個封裝內(nèi),從而實現(xiàn)一個基本完整的功能。
此外,5G推動芯片向更高集成度、更小尺寸和更高的性能發(fā)展,新的封裝技術(shù)要求設(shè)計和制造能力的不斷提升。周寅最后指出,QorvoRF Fusion 射頻前端模塊,實現(xiàn)了功能集成上的突破,可將中頻/高頻模塊整合到一起。通過采用 Qorvo 獨有的內(nèi)核功能組合,可提升性能,降低功耗和解決方案整體的尺寸大小,同時提供更高的載波聚合容量,滿足5G時代智能手機制造商日益增長的全球覆蓋需求。
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原文標題:讀懂了傳統(tǒng)芯片封裝測試工藝,5G時代又有哪些新的技術(shù)革新挑戰(zhàn)?
文章出處:【微信號:RF_Semiconductor,微信公眾號:射頻半導(dǎo)體】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請注明出處。
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