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《檢測(cè)和校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)主能力認(rèn)可準(zhǔn)則在電磁兼容檢測(cè)領(lǐng)域的應(yīng)用說(shuō)明》CNAS-CL01-A008:2023版已正式發(fā)布實(shí)施及相應(yīng)的變化2023-05-04 16:46
根據(jù)ISO/IEC17025:2017版的變化結(jié)合電磁兼容檢測(cè)領(lǐng)域?qū)嶒?yàn)室認(rèn)可的現(xiàn)狀,中國(guó)合格評(píng)定國(guó)家認(rèn)可委員會(huì)(CNAS)秘書(shū)處修訂了CNAS-CL01-A008:2023《檢測(cè)和校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)主能力認(rèn)可準(zhǔn)則在電磁兼容檢測(cè)領(lǐng)域的應(yīng)用說(shuō)明》,該文件于2023年4月1日發(fā)布,2023年4月10日實(shí)施。CNAS-CL01-A008:2023《檢測(cè)和校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)主能力認(rèn)可準(zhǔn)則 -
屏蔽效能測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)大集合2023-05-04 16:46
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小窗法屏蔽效能測(cè)試箱在屏蔽效能測(cè)試中的應(yīng)用2023-04-03 16:40
隨著物聯(lián)網(wǎng)(IoT)的興起,智能設(shè)備正在釋放技術(shù)優(yōu)勢(shì),幫助人們創(chuàng)造更多的附加值,提高行業(yè)生產(chǎn)率。然而,物聯(lián)網(wǎng)也帶來(lái)了許多的挑戰(zhàn),例如新技術(shù)的復(fù)雜性,以及獲取和處理數(shù)據(jù)以做出明智決策的需求。換句話說(shuō),將產(chǎn)品特性轉(zhuǎn)化為系統(tǒng)解決方案是一項(xiàng)挑戰(zhàn)。在面對(duì)這些挑戰(zhàn)時(shí),我們多數(shù)的時(shí)候是利用屏蔽材料對(duì)產(chǎn)品的薄弱點(diǎn)進(jìn)行屏蔽或者隔離,在1-18GHz的頻率下,我們推薦使用小窗法 -
電動(dòng)汽車高壓連接器和線束的屏蔽效能測(cè)試--線注入法2023-04-03 16:40
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華瑞高,2023我們?cè)贓MC儀器持續(xù)發(fā)力2023-01-30 14:13
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電磁兼容儀器校準(zhǔn)件在實(shí)驗(yàn)室期間核查中的應(yīng)用2022-12-01 14:14
期間核查(intermediatechecks)是指為保持對(duì)設(shè)備校準(zhǔn)狀態(tài)的可信度,在兩次檢定之間進(jìn)行的核查,包括設(shè)備的期間核查和參考標(biāo)準(zhǔn)器的期間核查,二者合起來(lái)本質(zhì)上相當(dāng)于ISO/IEC導(dǎo)則25(1990)中的運(yùn)行檢查。這種核查應(yīng)按規(guī)定的程序進(jìn)行。通過(guò)期間核查可以增強(qiáng)實(shí)驗(yàn)室的信心,保證檢測(cè)數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確可靠。實(shí)驗(yàn)室做期間核查的目的是為了更好的了解儀器的運(yùn)行狀態(tài),電磁兼容 560瀏覽量 -
解析ISO 11452-4:2011(E)中的 TWC 測(cè)試方法2022-11-18 06:14
現(xiàn)代社會(huì)中,機(jī)動(dòng)車除了作為代步工具外,還集成了越來(lái)越多的電子零部件,為駕乘人員帶來(lái)更舒適便捷的行車體驗(yàn)。但機(jī)動(dòng)車電子零部件的可靠性,特別是如何保證整車所集成的各種功能能夠在惡劣的電磁干擾中維持正常工作,達(dá)到電磁兼容成為一個(gè)問(wèn)題。機(jī)動(dòng)車零部件的電磁兼容試驗(yàn)的重要性就凸顯出來(lái)了。在對(duì)機(jī)動(dòng)車零部件進(jìn)行EMC抗干擾測(cè)試時(shí),BCI(大電流注入)抗干擾測(cè)試作為一個(gè)比較經(jīng)TWC 2003瀏覽量 -
使用HDS-35屏蔽效能測(cè)試系統(tǒng)對(duì)銅箔屏蔽材料的屏蔽效能測(cè)量2022-11-11 06:14
1.目標(biāo)本次測(cè)試的目的是為了演示HDS-35屏蔽效能測(cè)試系統(tǒng)是如何用于測(cè)量銅箔屏蔽材料的屏蔽效能值。2.測(cè)量設(shè)置HDS-35屏蔽效能測(cè)試系統(tǒng)具有3.6GHz頻率的屏蔽效能測(cè)試,配合我司的頻譜分析儀,非常適合做平面材料的電磁屏蔽效能測(cè)量,如下圖所示:HDS-35屏蔽效能測(cè)試系統(tǒng)由屏蔽效能測(cè)試裝置、屏蔽分析儀、自動(dòng)測(cè)試軟件一起組成,如上圖。3.開(kāi)始測(cè)量打開(kāi)自動(dòng)測(cè)測(cè)量 1201瀏覽量 -
使用HEM系列TEM小室對(duì)2.4GHZ器件的輻射測(cè)量2022-11-08 06:11
1.目標(biāo)本文的目的是演示HEM系列TEM小室如何用于測(cè)量2.4GHz設(shè)備(如藍(lán)牙和WiFi)的光譜。2.測(cè)量設(shè)置HEM系列TEM小室具有40x40mm的大電場(chǎng)注入面積,非常適合測(cè)量頻譜USB藍(lán)牙和WiFi設(shè)備,如圖1所示圖1.USB藍(lán)牙和WiFi設(shè)備所需的額外設(shè)備是一臺(tái)計(jì)算機(jī),用于為設(shè)備供電和激活,以及頻譜分析儀。對(duì)于本文所述的測(cè)量,使用我司提供的XSA10測(cè)量 900瀏覽量 -
TEM小室法應(yīng)用在集成電路制造的電磁兼容測(cè)試2022-09-15 01:19
集成電路(IC)的電磁兼容性,是衡量IC器件在預(yù)定電磁環(huán)境下工作時(shí)是否會(huì)對(duì)其他器件的工作產(chǎn)生騷擾,同時(shí)自身性能是否會(huì)受到其他器件所騷擾的一個(gè)重要指標(biāo)。對(duì)于集成電路來(lái)說(shuō),這個(gè)指標(biāo)的提出是電子產(chǎn)品電磁環(huán)境高可靠設(shè)計(jì)的需求,同時(shí)也是芯片集成度日益增高時(shí)電磁環(huán)境可靠性問(wèn)題越來(lái)越突出以致直接關(guān)系到芯片性能的結(jié)果。集成電路的電磁兼容性測(cè)試在國(guó)內(nèi)屬于一個(gè)相對(duì)較新的領(lǐng)域,在電磁兼容 1729瀏覽量