單片機解密失敗的原因

1單片機解密失敗的原因

單片機解密存在失敗的概率，從我們解密的經(jīng)驗來看，按概率來講，大概存在1%單片機解密的失敗概率，存在0.3%的損壞母片的概率。所以我們不保證100%解密成功，也不保證100%不破壞母片，那么，單片機解密失敗有那幾點原因呢?

單片機解密失敗的原因很多，有人為因素，也有客觀環(huán)境因素的影響等等，下面是集中常見的造成單片機失敗的原因：

1.DECAP存在失敗的可能(這種占解密失敗原因的絕大部分)：

A.過腐蝕，PAD腐蝕壞，外部不能讀出程序

B.芯片流片工藝不好，DECAP的時候容易腐蝕PASSVATION表層(鈍化層)，使管芯實效，外部無法讀出程序

C.開蓋的時候把PIN腳氧化(酸弄到管腳上了)

D.無意中弄斷AL線

E.單片機機使用特殊封裝材料，無法和酸反應(yīng)

F.管芯特殊封裝，不在芯片正中位置，極容易開壞(下圖是MCU由2個管芯組成，通常稱為MCM)

E:芯片封裝的時候有雜質(zhì)，無法進行化學(xué)反應(yīng)。

2失敗的可能

2.FIB存在失敗的可能：

A:芯片流片工藝小，位子沒有找正確

B:FIB連線過長，離子注入失效

C:離子注入強度沒有控制好

D:FIB設(shè)備存在問題

E:某些芯片破解，需要在同一小區(qū)域做多項FIB，或者在同一時間內(nèi)，做多項FIB，那么就容易FIB出現(xiàn)問題。

目前加密的最新技術(shù)不斷出現(xiàn)、編程器軟件缺陷、芯片燒斷過多管腳并且燒斷保護電路、低級的誤操作都可能使解密失敗;

還有一些單片機是手工操作解密，比如HT,MDT等，這些和解密者的水平和經(jīng)驗有相當大的關(guān)系;

目前單片機的程序存儲是靠內(nèi)部電子作為介質(zhì)來存儲的，當芯片使用周期比較長或受到外部強磁場等環(huán)境的影響，失敗的概率更高;

另外帶時序功能GAL解密，帶有猜測性質(zhì)，也存在失敗的概率;如果采用純軟件的方式破解，和母片的編程軟件、生產(chǎn)日期和編程方式甚至編程語言等有很大關(guān)系，也存在失敗的概率。

對于單片機解密是否損壞母片?單片機解密解密存在損壞母片的概率，大概有0.3%的概率，所以也請客戶考慮這種風險。

審核編輯：湯梓紅