主流DSP存儲(chǔ)器測(cè)試方法學(xué)習(xí)指南：TI KeyStone

　　摘要

　　存儲(chǔ)器相關(guān)的問題是DSP 應(yīng)用中非常普遍的問題。本文介紹KeyStone I 系列DSP 上一些存儲(chǔ)器測(cè)試的方法。

　　1 KeyStone DSP 存儲(chǔ)器系統(tǒng)簡(jiǎn)介

　　KeyStone DSP 存儲(chǔ)器架構(gòu)如圖1 所示。

　　圖1 KeyStone DSP 存儲(chǔ)器架構(gòu)

　　對(duì)不同的DSP，存儲(chǔ)器的大小可能不同，DSP 核和EDMA 傳輸控制器的個(gè)數(shù)也可能不同。表1比較了KeyStone I 系列中常用的3顆DSP。

　　表1 KeyStone I 存儲(chǔ)器系統(tǒng)比較

　　2 存儲(chǔ)器測(cè)試算法

　　本文介紹幾種存儲(chǔ)器測(cè)試算法，并討論這幾種算法的用途。

　　2.1 數(shù)據(jù)測(cè)試

　　下面是數(shù)據(jù)測(cè)試的偽代碼：

　　for（memory range under test）

　　fill the memory with a value;

　　for（memory range under test）

　　read back the memory and compare the readback value to the written value

　　通常，這個(gè)測(cè)試會(huì)被執(zhí)行幾次，每次填充的值不一樣。常用的填充值包括0x55555555，0xAAAAAAAA， 0x33333333， 0xCCCCCCCC， 0x0F0F0F0F， 0xF0F0F0F0， 0x00FF00FF，0xFF00FF00FF00， 0xFFFFFFFF， 0。

　　這個(gè)測(cè)試可以用來檢測(cè)數(shù)據(jù)比特粘連（bit-stuck）問題，例如，如果，

　　written value = 0， readback value = 0x8，

　　表示bit 3 粘連到1.

　　如果

　　written value = 0xFFFFFFFF， readback value = 0xFFFFFFFE，

　　表示bit 0 粘連到0.

　　如果能正確的寫入并讀出0x55555555（或0xAAAAAAAA），說明相鄰的兩個(gè)比特沒有粘連；如果能正確寫入并讀出0x33333333（或0xCCCCCCCC），說明相鄰的4 個(gè)比特沒有粘連；如果能正確寫入并讀出0x0F0F0F0F（或0xF0F0F0F0），說明相鄰的8 個(gè)比特沒有粘連…

　　這個(gè)算法既可以用來測(cè)試數(shù)據(jù)總線連接，也可以用于測(cè)試存儲(chǔ)器單元。當(dāng)用于測(cè)試存儲(chǔ)器單元時(shí)則每一個(gè)存儲(chǔ)單元都需要寫讀所有的值，這將是比較耗時(shí)的測(cè)試；而用于測(cè)試數(shù)據(jù)總線連接時(shí)，只需要把所有的值都寫讀一遍就可以了（地址不限）。

　　2.2 地址測(cè)試

　　地址測(cè)試的偽代碼如下：

　　for（memory range under test）

　　fill each memory unit with its address value;

　　for（memory range under test）

　　read back the memory and compare the readback value to the written value

　　這個(gè)測(cè)試可以用來檢測(cè)地址比特粘連（bit-stuck）問題。例如，如果

　　written value = 0 at address 0

　　written value = 1 at address 1

　　written value = 2 at address 2

　　written value = 3 at address 3

　　……

　　readback value = 2 at address 0

　　readback value = 3 at address 1

　　readback value = 2 at address 2

　　readback value = 3 at address 3

　　……

　　則說明地址線的比特1 粘連，因?yàn)榈刂?，2 中的數(shù)據(jù)相同，地址1，3 中的數(shù)據(jù)相同。

　　這個(gè)測(cè)試的主要目的是測(cè)試地址線和存儲(chǔ)器中的地址譯碼單元，但它實(shí)際上對(duì)所有存儲(chǔ)單元都做了數(shù)據(jù)寫讀，所以在一定程度上也測(cè)試了數(shù)據(jù)總線和存儲(chǔ)單元。如果由于測(cè)試時(shí)間的限制，只允許對(duì)整個(gè)存儲(chǔ)器空間進(jìn)行一遍寫讀測(cè)試時(shí)，本節(jié)介紹的地址測(cè)試是首選。

　　本文選自電子發(fā)燒友網(wǎng)6月《智能工業(yè)特刊》Change The World欄目，轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明出處！