測(cè)試配置 - 主流DSP存儲(chǔ)器測(cè)試方法學(xué)習(xí)指南：TI KeyStone

　　4.2 測(cè)試配置

　　測(cè)試代碼中有多個(gè)宏參數(shù)可以用來(lái)對(duì)測(cè)試進(jìn)行配置。

　　數(shù)據(jù)測(cè)試填充的數(shù)值在“DSP_core_mem_test.c”中定義如下。用戶可以在這里添加，刪除或修改填充的數(shù)值。

　　unsigned long long ulDataPatternTable[ ] = {

　　0x0000000000000000，

　　0xffffffffffffffff，

　　0xaaaaaaaaaaaaaaaa，

　　0x5555555555555555，

　　0xcccccccccccccccc，

　　0x3333333333333333，

　　0xf0f0f0f0f0f0f0f0，

　　0x0f0f0f0f0f0f0f0f，

　　0xff00ff00ff00ff00，

　　0x00ff00ff00ff00ff

　　};

　　本文介紹的三個(gè)主要測(cè)試算法可以通用以下在“DSP_core_mem_test.c”和“DMA_mem_test.c”中定義的宏開(kāi)關(guān)使能或禁用。“1”表示使能，“0”表示禁用。

　　#define BIT_PATTERN_FILLING_TEST 1

　　#define ADDRESS_TEST 1

　　#define BIT_WALKING_TEST 1

　　每個(gè)存儲(chǔ)器都可以通過(guò)“KeyStone_mem_test_main.c”中定義的宏開(kāi)關(guān)控制是否被測(cè)試。

　　#define LL1_MEM_TEST 1

　　#define OTHER_L1_TEST 1

　　#define LL2_MEM_TEST 1

　　#define OTHER_L2_TEST 1

　　#define SL2_MEM_TEST 1

　　#define EXTERNAL_MEM_TEST 1

　　是否用DSP 和或DMA 測(cè)試存儲(chǔ)器也可以通過(guò)“KeyStone_mem_test_main.c”中定義的宏開(kāi)關(guān)控制。

　　#define TEST_BY_DSP_CORE 1

　　#define TEST_BY_DMA 1

　　這個(gè)測(cè)試工程是在TI 的評(píng)估板上實(shí)現(xiàn)的。如果要在用戶真實(shí)的板子上運(yùn)行，需要根據(jù)板子的設(shè)計(jì)在“KeyStone_DDR_Init.c”中修改相應(yīng)的DDR 參數(shù)。PLL 倍頻系數(shù)也可能需要在調(diào)用KeyStone_main_PLL_init（）的代碼中修改。

　　要讓這些修改后的配置生效，測(cè)試工程必須被重新編譯。由于測(cè)試工程用到了CSL （Chip SupportLibrary）中的頭文件，在重編之前可能還需要重新指定CSL 的包含路徑。

　　4.3 測(cè)試時(shí)間

　　測(cè)試花的時(shí)間主要取決于存儲(chǔ)器大小，DSP 和存儲(chǔ)器速度。表3 列出了本文介紹的所有存儲(chǔ)器測(cè)試在TI 的評(píng)估板（EVM）上測(cè)試所花的時(shí)間。

　　表3 在EVM 板上的測(cè)試時(shí)間

　　總線測(cè)試花的時(shí)間只有幾百微秒，而存儲(chǔ)單元全空間測(cè)試花的時(shí)間很多。其中，超過(guò)90%的時(shí)間都花在對(duì)DDR 的測(cè)試上。

　　對(duì)存儲(chǔ)單元的數(shù)據(jù)測(cè)試，地址測(cè)試，和走比特測(cè)試所花的時(shí)間的比例大概是10:1：64，因?yàn)閿?shù)據(jù)測(cè)試寫(xiě)讀了10 個(gè)不同的值，地址測(cè)試寫(xiě)讀了1 個(gè)值，而走比特測(cè)試寫(xiě)讀了64 個(gè)值。

　　用戶可以根據(jù)測(cè)試時(shí)間的要求選用不同的測(cè)試用例。一般可能有三種組合：

　　1. 用毫秒級(jí)的時(shí)間做簡(jiǎn)單快速的總線測(cè)試。

　　2. 用秒級(jí)時(shí)間做全存儲(chǔ)器空間的基本測(cè)試。測(cè)試用例包括總線測(cè)試和地址測(cè)試。

　　3. 用幾分鐘甚至幾十分鐘做全存儲(chǔ)器空間的完善測(cè)試，執(zhí)行本文介紹的所有測(cè)試用例。

　　本文選自電子發(fā)燒友網(wǎng)6月《智能工業(yè)特刊》Change The World欄目，轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明出處！
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