電源產(chǎn)品在做驗(yàn)證時(shí)，經(jīng)常會(huì)遭遇到電磁干擾(EMI)的問題，有時(shí)處理起來(lái)需花費(fèi)非常多的時(shí)間，許多工程師在對(duì)策電磁干擾時(shí)也是經(jīng)驗(yàn)重于理論，知道哪個(gè)頻段要對(duì)策哪些組件，但對(duì)于理論上的分析卻很欠缺。
2022-09-26 11:11:27
1012 示教器的使用環(huán)境通常是電磁干擾、溫濕度變化、灰塵覆蓋等多變的工業(yè)場(chǎng)所，同時(shí)示教器作為手持操作裝置，也存在脫手跌落、振動(dòng)沖擊等可能性。那么示教器該如何應(yīng)對(duì)？ZTP800示教器的開發(fā)測(cè)試過(guò)程告訴
2023-07-01 10:01:29295 
3708A噪聲和干擾測(cè)試裝置
2018-12-11 16:23:22
本文旨在對(duì)4G LTE和LTE-Advanced設(shè)備在制造和測(cè)試過(guò)程中會(huì)遇到的一些挑戰(zhàn)進(jìn)行分析。這些挑戰(zhàn)既有技術(shù)方面的，也有經(jīng)濟(jì)方面的。了解哪些缺陷需要檢測(cè)有助于我們?cè)趯?shí)際的生產(chǎn)環(huán)境中采用更好的測(cè)試
2019-07-18 06:22:43
的分析卻很欠缺。筆者從事開關(guān)電源設(shè)計(jì)多年，希望能藉由之前對(duì)策的經(jīng)驗(yàn)與相關(guān)理論基礎(chǔ)做個(gè)整理，讓目前正從事或未來(lái)想從事開關(guān)電源設(shè)計(jì)的人員對(duì)電磁干擾防制技術(shù)能有初步的認(rèn)識(shí)。開關(guān)電源的電磁干擾測(cè)試可分為傳導(dǎo)
2020-10-22 13:44:56
干擾測(cè)試-靜場(chǎng)探頭 測(cè)試項(xiàng)目：一、EMI（電磁騷擾）分射頻和工頻兩類測(cè)試1.射頻類測(cè)試項(xiàng)目：1.1 射頻分傳導(dǎo)和輻射兩項(xiàng)測(cè)試射頻傳導(dǎo)（屏蔽室測(cè)試）1.1.1 傳導(dǎo)分電壓和功率兩項(xiàng)測(cè)試1.1.2 傳導(dǎo)
2019-11-19 15:31:32
在雙極測(cè)試過(guò)程中經(jīng)常出現(xiàn)表面打火，將芯片表面的雙極擊穿了，測(cè)試電壓在600--800v.請(qǐng)問哪位大俠有解決的方法嗎？
2012-09-12 21:41:51
到輻射源,捕捉“鬼怪”,判斷“兇宅”,確認(rèn)安全生活區(qū)；判斷產(chǎn)品輻射的電磁波是否合格,屏蔽層品質(zhì)優(yōu)劣,尋找鋼板裂縫等等,比神仙還靈。知用EM5080B電磁干擾測(cè)試儀(一).電磁干擾測(cè)試儀產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)：（1
2017-09-13 11:57:47
符合要求運(yùn)行并不對(duì)其環(huán)境中的任何設(shè)備產(chǎn)生無(wú)法忍受的電磁干擾的能力。 EMC設(shè)計(jì)與EMC測(cè)試是相輔相成的。EMC設(shè)計(jì)的好壞是要通過(guò)EMC測(cè)試來(lái)衡量的。只有在產(chǎn)品的EMC設(shè)計(jì)和研制的全過(guò)程中，進(jìn)行EMC的相容性
2012-03-23 10:09:08
各類電子企業(yè)為使產(chǎn)品達(dá)到國(guó)際EMC 要求，促使EMC 測(cè)試場(chǎng)地快速成長(zhǎng)，大型企業(yè)都趨向自行籌建EMC 實(shí)驗(yàn)室。為了驗(yàn)證電子電機(jī)設(shè)備EMC 設(shè)計(jì)是否良好，必須在研發(fā)之整個(gè)過(guò)程中，對(duì)各種電磁干擾源之發(fā)射干擾
2008-09-12 17:49:36
為了更好的服務(wù)客戶，公司研制出高性價(jià)比，面向研發(fā)生產(chǎn)方向的電磁兼容測(cè)試儀器--UN105ACE101專用EMC測(cè)試儀、UN105BC EMI傳導(dǎo)干擾測(cè)試系統(tǒng)、UN105BM EMC傳導(dǎo)輻射測(cè)試系統(tǒng)
2015-05-28 10:12:14
為了更好的服務(wù)客戶，公司研制出高性價(jià)比，面向研發(fā)生產(chǎn)方向的電磁兼容測(cè)試儀器--UN105ACE101專用EMC測(cè)試儀、UN105BC EMI傳導(dǎo)干擾測(cè)試系統(tǒng)、UN105BM EMC傳導(dǎo)輻射測(cè)試系統(tǒng)
2015-05-27 10:19:40
和配置管理，學(xué)會(huì)在開發(fā)工具的同時(shí)也學(xué)會(huì)一些開發(fā)和測(cè)試自動(dòng)化流程。而在測(cè)試過(guò)程中，因?yàn)殚_發(fā)的工具不是非常系統(tǒng)化，所以可以主要從功能點(diǎn)(按照需求列好功能點(diǎn)測(cè)試)、異常分析(例如：合法性測(cè)試、異常操作測(cè)試等
2020-10-12 19:02:52
AD芯片在調(diào)試過(guò)程中遇到的問題，應(yīng)該怎么解決？一款TI/國(guó)半的超高速ADC調(diào)試經(jīng)驗(yàn)分享
2021-04-09 06:41:24
本帖最后由 一只耳朵怪 于 2018-6-26 14:46 編輯
多頻輻射抗擾度測(cè)試系統(tǒng)MT06000 多個(gè)頻點(diǎn)干擾信號(hào)， 一般輻射抗擾度測(cè)試需要大量的時(shí)間來(lái)完成全頻段測(cè)試。大多數(shù)測(cè)試人員都
2018-06-26 13:38:34
EMC設(shè)計(jì)與EMC測(cè)試是相輔相成的。EMC設(shè)計(jì)的好壞是要通過(guò)EMC測(cè)試來(lái)衡量的。只有在產(chǎn)品的EMC設(shè)計(jì)和研制的全過(guò)程中，進(jìn)行EMC的相容性預(yù)測(cè)和評(píng)估，才能及早發(fā)現(xiàn)可能存在的電磁干擾，并采取必要的抑制
2019-05-31 07:23:03
***韋，騰訊為三零零三伍陸零陸玖壹電磁兼容是研究在有限的空間、時(shí)間、頻譜資源條件下，各種用電設(shè)備（廣義還包括生物體）可以共存，并不致引起降級(jí)的一門學(xué)科。它包括電磁干擾和電磁敏感度兩部分，電磁干擾測(cè)試
2018-04-11 18:41:01
電磁干擾是電子電路設(shè)計(jì)過(guò)程中最常見的問題，設(shè)計(jì)師們一直在尋找能夠完全消除或降低電磁干擾，也就是EMI的方法。但想要完全的消除EMI的干擾，首先需要的就是了解EMI是什么，它的傳播過(guò)程是怎樣的，本文
2019-05-31 06:42:24
的市場(chǎng)需求，采用當(dāng)前國(guó)際高新技術(shù)。我公司最新研制生產(chǎn)出全自動(dòng)，全景掃描與分析的電磁干擾EMI測(cè)試接收機(jī)（KH3900系列）填補(bǔ)了該設(shè)備在國(guó)內(nèi)的供應(yīng)。我公司產(chǎn)品在技術(shù)力量與性能測(cè)試方面都是居于國(guó)內(nèi)領(lǐng)先地位的。我
2013-03-29 09:49:15
NSAT-7000 電機(jī)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)軟件安裝在上位機(jī)控制裝置上，系統(tǒng)通過(guò)使用USB、RS232、LAN等通訊接口實(shí)現(xiàn)對(duì)電機(jī)測(cè)試過(guò)程中所用到的儀器（測(cè)功機(jī)、功率分析儀、電源、示波器、溫度記錄儀等
2019-03-01 09:37:31
T-BOX 7637-2拋負(fù)載瞬態(tài)干擾測(cè)試的相關(guān)資料分享，錯(cuò)過(guò)后悔
2022-01-14 06:44:28
在測(cè)試過(guò)程中，我打開一個(gè)界面，設(shè)置好SN1參數(shù)之后，按enter鍵，vi開始自動(dòng)運(yùn)行；在該vi運(yùn)行中會(huì)彈出一個(gè)報(bào)警窗口，經(jīng)過(guò)2s后自動(dòng)關(guān)閉，但是光標(biāo)回不到SN1輸入的位置，如果不彈出報(bào)警窗口，光標(biāo)是可以自動(dòng)返回SN1輸入框；請(qǐng)問有什么方法可以解決嗎？坐等大神。。。。
2013-12-27 10:15:26
本帖最后由 cwfwh 于 2016-12-7 20:06 編輯
前面已經(jīng)介紹過(guò)，基于Fedora環(huán)境的嵌入式交叉編譯環(huán)境搭建過(guò)程，有個(gè)這個(gè)基礎(chǔ)后，這里介紹一個(gè)簡(jiǎn)單完整的嵌入式程序的編譯
2016-12-07 20:04:14
使用的陶瓷樣品材料的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)。 陶瓷樣品材料自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)是使用LabWindows/CVI完成軟件開發(fā)；通過(guò)VISA庫(kù)實(shí)現(xiàn)對(duì)儀器的通信控制功能；通過(guò)多線程技術(shù)實(shí)現(xiàn)測(cè)試過(guò)程的采集、顯示和保存；用過(guò)
2020-12-29 18:07:21
:人工電源網(wǎng)絡(luò)(LINS)一臺(tái)（KH3760型）3:限幅器一個(gè)(KH43101) ２：：頻率范圍(9KHz-300MHz)傳導(dǎo)測(cè)試同上：功率輻射干擾測(cè)試．這時(shí)需要建屏蔽室進(jìn)行功率干擾測(cè)試：1）電動(dòng)工具
2012-05-10 17:26:22
系到企業(yè)在行業(yè)中的競(jìng)爭(zhēng)?！ ?duì)電磁干擾的設(shè)計(jì)我們主要從硬件和軟件方面進(jìn)行設(shè)計(jì)處理，下面就是從單片機(jī)的PCB設(shè)計(jì)到軟件處理方面來(lái)介紹對(duì)電磁兼容性的處理。單片機(jī)設(shè)計(jì)過(guò)程中如何擺脫電磁干擾？ 一、影響EMC
2018-09-09 09:52:40
在安裝RK3399Pro包的過(guò)程中會(huì)遇到哪些問題呢？
2022-02-15 07:28:40
真實(shí)世界中，為了確保汽車內(nèi)的電子元器件仍舊穩(wěn)健和有效，它們需要在一個(gè)受控環(huán)境中進(jìn)行EMI干擾測(cè)試。輻射抗擾室是一個(gè)完全密封的傳導(dǎo)空間，是一個(gè)理想的EMI測(cè)試環(huán)境，因?yàn)樗軌蛲耆刂瓶臻g中產(chǎn)生的電磁
2019-06-10 08:23:39
微波電磁環(huán)境測(cè)試系統(tǒng)是由哪些部分組成的？如何去測(cè)試微波電磁環(huán)境測(cè)試系統(tǒng)的可行性？
2021-05-25 06:11:15
DSP系統(tǒng)的干擾主要來(lái)源如何在DSP系統(tǒng)的PCB制作過(guò)程中減小各種干擾？如何解決電磁干擾問題
2021-04-26 07:03:37
如何擺脫單片機(jī)設(shè)計(jì)過(guò)程中的電磁干擾
2015-07-01 16:12:32
概述 如果一個(gè)新產(chǎn)品在電磁干擾（EMI ）預(yù)兼容測(cè)試或者標(biāo)準(zhǔn)兼容測(cè)試中失敗，進(jìn)行故障診斷和改進(jìn)是當(dāng)務(wù)之急。而近場(chǎng)探頭配合頻譜分析儀查找干擾源，并驗(yàn)證改進(jìn)效果是最常見易行的方法?！ D一 安捷倫X系列信號(hào)分析儀和N9311X-100 近場(chǎng)探頭
2019-07-22 07:54:10
行EMI干擾測(cè)試。輻射抗擾室是一個(gè)完全密封的傳導(dǎo)空間，是一個(gè)理想的EMI測(cè)試環(huán)境，因?yàn)樗軌蛲耆刂瓶臻g中產(chǎn)生的電磁場(chǎng)的頻率，方向，波長(zhǎng)。而且因?yàn)?b class="flag-6" style="color: red">電磁場(chǎng)無(wú)法進(jìn)入密閉的空間，在抗擾室測(cè)試的汽車部件在測(cè)試過(guò)程中
2019-01-18 16:08:07
無(wú)線系統(tǒng)都受干擾的影響，能夠在無(wú)線系統(tǒng)及其周圍快速并精確地測(cè)量頻譜至關(guān)重要。本應(yīng)用指南介紹了使用便攜式頻譜分析儀（HSA）測(cè)量及定位無(wú)線干擾的流程及技術(shù)。由于干擾測(cè)試可能包含特定載波測(cè)量、寬帶頻譜搜索
2019-06-05 07:49:11
靈動(dòng)微MCU測(cè)試過(guò)程中確保頻率校準(zhǔn)方法
2020-12-31 06:55:28
我們的電路板出現(xiàn)了問題，在定位問題的過(guò)程中通常會(huì)用到萬(wàn)用表、示波器等測(cè)試工具，這些設(shè)備在測(cè)試過(guò)程中自身的阻抗是需要考慮的，比如在測(cè)電流的時(shí)候要考慮萬(wàn)用表自身的電阻，示波器探頭自身的電阻，下面就是一個(gè)
2022-01-11 07:52:05
電機(jī)控制系統(tǒng)在啟動(dòng)時(shí)，經(jīng)常會(huì)發(fā)生控制板死機(jī)等異常現(xiàn)象，現(xiàn)場(chǎng)情況如下圖所示。為了找出問題原因，使用MI1062對(duì)該電機(jī)系統(tǒng)的啟動(dòng)和運(yùn)行過(guò)程進(jìn)行分析。本案例將著重分析控制板電源在電機(jī)啟動(dòng)過(guò)程中的干擾情況
2017-08-04 09:54:46
本文簡(jiǎn)單介紹了相位噪聲的定義，詳細(xì)介紹了附加相位噪聲的測(cè)試過(guò)程，給出了實(shí)際的測(cè)試結(jié)果，指出了附加相位噪聲測(cè)試過(guò)程中的一些注意事項(xiàng)，希望對(duì)附加相位噪聲測(cè)試人員有一定的借鑒意義。
2021-05-11 06:50:14
靜電放電抗干擾測(cè)試容易出現(xiàn)的問題是什么？有哪些處理措施？
2021-05-11 06:11:42
產(chǎn)品概述SYS3000系列自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)遵循行業(yè)最新標(biāo)準(zhǔn)針對(duì)光伏逆變器測(cè)試老化而設(shè)計(jì)的系統(tǒng)平臺(tái)，配置最優(yōu)化的測(cè)試項(xiàng)目,系統(tǒng)通過(guò)通訊配置采集逆變器測(cè)試過(guò)程中測(cè)量?jī)x器、電源及負(fù)載實(shí)時(shí)的狀態(tài)數(shù)據(jù)，實(shí)現(xiàn)測(cè)試
2022-09-06 15:47:37
系統(tǒng)測(cè)試是軟件開發(fā)過(guò)程中的重要環(huán)節(jié)，系統(tǒng)測(cè)試過(guò)程的動(dòng)態(tài)模型有助于更好地理解和分析系統(tǒng)行為，做出正確的判斷和決策；相對(duì)于已有的軟件測(cè)試模型，通過(guò)對(duì)錯(cuò)誤發(fā)現(xiàn)效率的
2009-07-16 11:58:55
8 針對(duì)流水線式電源產(chǎn)品性能測(cè)試過(guò)程效率低、人為干擾大等問題，開發(fā)了開關(guān)電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)。為便于升級(jí)和維護(hù)，系統(tǒng)硬件均采用模塊化設(shè)計(jì)；并基于虛擬儀器技術(shù)實(shí)現(xiàn)對(duì)多
2009-12-31 14:45:17195 汽車電磁閥測(cè)試系統(tǒng)產(chǎn)品概述：汽車電磁閥測(cè)試系統(tǒng)，是對(duì)電機(jī)的電阻和電感等項(xiàng)目進(jìn)行測(cè)試。系統(tǒng)采用工控機(jī)進(jìn)行集中控制，一次接線即可完成全部測(cè)試項(xiàng)目，并對(duì)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)進(jìn)行分析、判斷、統(tǒng)計(jì)、存儲(chǔ)、打印?？深A(yù)置
2023-10-28 10:05:40
本文介紹了在建設(shè)WCDMA網(wǎng)絡(luò)前，為了保證使用的頻段各項(xiàng)電磁指標(biāo)達(dá)到網(wǎng)絡(luò)運(yùn)行的條件，使用專門儀器對(duì)覆蓋區(qū)域進(jìn)行電磁背景干擾測(cè)試，獲得的數(shù)據(jù)將作為網(wǎng)絡(luò)開通前的參 考。在
2010-09-15 16:18:3651
SFH6318T SFH6319T抗瞬變干擾測(cè)試電路及波形電路圖
2009-06-30 09:49:02512 
6N137抗瞬變干擾測(cè)試電路和電壓波形電路圖
2009-07-01 10:56:331262 
6N138 6N139抗瞬變干擾測(cè)試電路和電壓波形電路圖
2009-07-01 10:58:11946 
HCPL2502抗瞬變干擾測(cè)試電路及波形電路圖
2009-07-01 11:00:44420 
HCPL2530 HCPL2531抗瞬變干擾測(cè)試電路和電壓波形電路圖
2009-07-01 11:05:08969 
HCPL2601抗瞬變干擾測(cè)試電路和電壓波形電路圖
2009-07-01 11:06:25705 
HCPL2630抗瞬變干擾測(cè)試電路和波形電路圖
2009-07-01 11:07:362382 
HCPL2631抗瞬變干擾測(cè)試電路和波形電路圖
2009-07-01 11:09:312591 
HCPL2730 HCPL2731抗瞬變干擾測(cè)試電路和波形電路圖
2009-07-01 11:09:56615 
在電子產(chǎn)品研制的早期階段，運(yùn)用 電磁干擾 預(yù)測(cè)試技術(shù)可以明顯降低研制成本，也可大大提高產(chǎn)品認(rèn)證測(cè)試的一次性通過(guò)率。本文對(duì)電磁干擾預(yù)測(cè)試系統(tǒng)的相關(guān)實(shí)現(xiàn)技術(shù)進(jìn)行了深入研
2011-07-04 15:25:1632 LED測(cè)試過(guò)程中所遇到的幾個(gè)問題 LED測(cè)試隨方向性變化的問題 LED光學(xué)特性隨溫度變化的問題
2011-11-23 14:21:1859 為使所有無(wú)線系統(tǒng)正常工作，干擾的識(shí)別和降低顯得格外重要。在無(wú)線環(huán)境中執(zhí)行干擾測(cè)試絕非易事，它要求采用新的測(cè)量技術(shù)并對(duì)現(xiàn)有的測(cè)量?jī)x器提出更高要求。高效執(zhí)行干擾測(cè)試需
2012-12-04 10:21:371700 本文討論了使用實(shí)時(shí)示波器進(jìn)行EMI輻射干擾測(cè)試的推薦方法，測(cè)試設(shè)置以及最佳實(shí)踐。
2016-01-13 14:30:034606 用于檢測(cè)電磁干擾的儀器是： 電磁干擾檢測(cè)儀。電磁干擾測(cè)試儀插在現(xiàn)場(chǎng)電源口，能自動(dòng)捕捉電磁騷擾，滿記錄4000個(gè)。在電腦上使用“電磁騷擾分析軟件”便可顯示出：電磁騷擾發(fā)生的時(shí)間、瞬態(tài)的電壓和頻率的極值，為制定抗干擾措施提供真實(shí)依據(jù)；也可用來(lái)檢驗(yàn)抗干擾措施的真實(shí)效果。它清0后又可繼續(xù)使用。
2017-11-28 15:30:2627660 微波器件的薄膜化過(guò)程中會(huì)遇到很多的技術(shù)難點(diǎn)，本文以環(huán)形器薄膜化過(guò)程中遇到的技術(shù)難點(diǎn)為例來(lái)分析微波器件薄膜化過(guò)程中所遇到的共性與個(gè)性的技術(shù)難點(diǎn)。
工作在微波波段（300～300000兆 赫）的器件。
2019-03-18 14:38:21998 
根據(jù)壓力傳感器的實(shí)際測(cè)試過(guò)程中的各個(gè)環(huán)節(jié)已經(jīng)或可能產(chǎn)生的影響，獲取壓力傳感器真實(shí)性能輸出數(shù)據(jù)的因素，采用可靠性的分析方法對(duì)其進(jìn)行分析；提示了測(cè)試過(guò)程中影響傳感器輸出的規(guī)律，減小傳感器因在測(cè)試過(guò)程中產(chǎn)生的誤差；并為深入研究壓力傳感器提供一條新的思路，為研究新的壓力傳感器提供一定的理論依據(jù)。
2018-01-18 11:21:593467 
本文主要講述了web應(yīng)用系統(tǒng)的搭建測(cè)試環(huán)境和web測(cè)試方法，在測(cè)試過(guò)程中，有的僅需要手動(dòng)測(cè)試的，有的需要自動(dòng)化測(cè)試工具的幫助，所以web系統(tǒng)的測(cè)試要求測(cè)試人員有很深的自動(dòng)化測(cè)試技術(shù)。
2018-01-31 17:07:3317914 單片機(jī)調(diào)試過(guò)程中，經(jīng)常會(huì)遇到類似第3只眼的問題。何謂第3只眼呢？
2018-12-30 17:12:007006 
是不是真的就如當(dāng)初宣傳的那么完美呢？我覺得并不是的，至少，在我使用的過(guò)程中，還是會(huì)遇到這樣或者那樣的問題。當(dāng)然，也不能說(shuō)因?yàn)檫@些問題，它就不是一個(gè)好耳機(jī)。
2019-02-17 09:36:264168 當(dāng)談?wù)摰?b class="flag-6" style="color: red">電磁干擾時(shí)，一般來(lái)將有兩種干擾源；一種是傳導(dǎo)干擾(EMS)，主要是電子設(shè)備產(chǎn)生的干擾信號(hào)通過(guò)導(dǎo)電介質(zhì)或公共電源線互相產(chǎn)生干擾，LED燈具的FCC認(rèn)證傳導(dǎo)干擾掃瞄測(cè)試頻率從0.15MHz開始至30MHz結(jié)束，CE認(rèn)證中的傳導(dǎo)干擾掃瞄測(cè)試頻率從9KHz開始至30MHz結(jié)束。
2019-04-11 15:34:583683 
開關(guān)電源的電磁干擾測(cè)試可分為傳導(dǎo)測(cè)試與輻射測(cè)試，一般開關(guān)電源的傳導(dǎo)測(cè)試頻段是指150K~30MHz之間，而輻射干擾的頻段是指30M~300MHz，300MHz之后的頻段一般皆不是電源所產(chǎn)生，因此大都可以給予忽略。
2020-02-17 16:41:416427 
輻射抗擾室是一個(gè)完全密封的傳導(dǎo)空間，是一個(gè)理想的EMI測(cè)試環(huán)境，因?yàn)樗軌蛲耆刂瓶臻g中產(chǎn)生的電磁場(chǎng)的頻率，方向，波長(zhǎng)。而且因?yàn)?b class="flag-6" style="color: red">電磁場(chǎng)無(wú)法進(jìn)入密閉的空間，在抗擾室測(cè)試的汽車部件在測(cè)試過(guò)程中能夠接收精確且高度可控的電磁波。
2020-05-04 17:27:002700 EMC測(cè)試指的是對(duì)電子產(chǎn)品在電磁場(chǎng)方面干擾大?。‥MI）和抗干擾能力（EMS）的綜合評(píng)定，是產(chǎn)品質(zhì)量最重要的指標(biāo)之一，電磁兼容的測(cè)量由測(cè)試場(chǎng)地和測(cè)試儀器組成。
2020-04-16 16:24:443734 電磁輻射從電荷的運(yùn)動(dòng)中產(chǎn)生，并且是包含電磁能的力。由于所有電氣和電子設(shè)備本身都受到這些電磁波的影響，人們也會(huì)受到各種干擾。例如，已知電磁波會(huì)引起頭痛，頭暈，疲勞，疲勞，眼睛灼傷和夜間嗜睡。這些都是
2020-06-11 17:05:403977 干擾測(cè)試系統(tǒng)和電磁輻射度兼容工具，適合在研發(fā)過(guò)程中對(duì)元件組和PCB板進(jìn)行干擾發(fā)射測(cè)量。近場(chǎng)干擾測(cè)量特別適合進(jìn)行組件和設(shè)備開發(fā)的工程師來(lái)使用，他們使用近場(chǎng)測(cè)量來(lái)獲得干擾發(fā)射原因的重要數(shù)據(jù)。近場(chǎng)測(cè)量方法
2021-01-14 17:56:384481 淺析一種用于電流互感器的抗電磁干擾測(cè)試方法
2022-01-21 18:19:2421 在進(jìn)行氣密性測(cè)試的時(shí)候測(cè)試過(guò)程中有時(shí)候會(huì)出現(xiàn)負(fù)的泄漏值，為什么會(huì)出現(xiàn)負(fù)的泄漏值呢？在了解這個(gè)問題之前，我們首先需要知道的是檢測(cè)過(guò)程中的測(cè)試原理，是在產(chǎn)品腔體內(nèi)充入一定壓力的氣體，到達(dá)設(shè)定的壓力值后再斷開氣體供給
2022-04-08 11:38:274051 
如今，環(huán)境中的無(wú)線通信設(shè)備的增多，導(dǎo)致道路電磁環(huán)境日益復(fù)雜，ADAS系統(tǒng)也面臨著各類復(fù)雜的電磁干擾。而由于ADAS是自動(dòng)駕駛車輛中的一個(gè)大型綜合系統(tǒng)，對(duì)道路使用者的安全有著極大的影響，因此其電磁
2022-06-07 16:05:251691 系統(tǒng)測(cè)試是為了發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤而執(zhí)行程序的過(guò)程，成功的測(cè)試是發(fā)現(xiàn)了至今尚未發(fā)現(xiàn)的錯(cuò)誤的測(cè)試。目的是在真實(shí)系統(tǒng)工作環(huán)境下通過(guò)與系統(tǒng)的需求定義作比較，檢驗(yàn)完整的軟件配置項(xiàng)能否和系統(tǒng)正確連接，發(fā)現(xiàn)軟件與系統(tǒng)
2022-11-19 09:58:17640 便攜式充電樁檢測(cè)設(shè)備可進(jìn)行充電電能計(jì)量誤差檢定、通訊協(xié)議一致性試驗(yàn)及傳導(dǎo)充電互操作性測(cè)試，全程可實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化測(cè)試。在整個(gè)測(cè)試過(guò)程中，充電樁測(cè)試系統(tǒng)根據(jù)預(yù)先安裝的軟件自動(dòng)工作，避免了人為因素對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響，使測(cè)試結(jié)果更加準(zhǔn)確，時(shí)間更加少，工作效率也得到了提高。
2022-12-01 11:27:481356 本篇只是簡(jiǎn)單分享平常筆者滲透測(cè)試過(guò)程中所使用的抓包方法，后面會(huì)繼續(xù)更新其他以及安卓端的抓包方法，比較適合沒理解過(guò)這方面的新手作參考。
2023-02-01 15:41:51990 ■?■ 通信、人工智能、云計(jì)算、智能終端等產(chǎn)品功能越來(lái)越強(qiáng)大、電路也越來(lái)越復(fù)雜，在這些產(chǎn)品的測(cè)試過(guò)程中，往往需要多路的供電。與此同時(shí)，每個(gè)供電通道的電壓和電流規(guī)格各異，上電或下電過(guò)程電壓斜率、時(shí)序
2023-02-15 16:25:04571 近場(chǎng)探頭是用于測(cè)試電磁波的一種測(cè)量設(shè)備，可以用于天線測(cè)試、無(wú)線電設(shè)備測(cè)試以及電磁兼容性測(cè)試等。在近場(chǎng)探頭的測(cè)試過(guò)程中，我們需要注意以下問題。
2023-04-12 11:49:43782 目前傳導(dǎo)測(cè)試系統(tǒng)主要由各大設(shè)備廠商根據(jù)客戶及相應(yīng)的EMC檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)的要求，搭建和配置測(cè)試系統(tǒng)，但是針對(duì)不同行業(yè)、不同電壓、不同電流以及不同測(cè)試頻率的測(cè)試樣品,需配備不同型號(hào)的LISN,而不同型
2023-04-19 11:36:15715 質(zhì)量問題后，很難立刻找到問題點(diǎn)以及問題根源。在歐洲以及美國(guó)等地已經(jīng)逐漸變?yōu)?b class="flag-6" style="color: red">自動(dòng)/半自動(dòng)化測(cè)試。因?yàn)楦哳l線纜受到環(huán)境的干擾影響較大，測(cè)量過(guò)程中應(yīng)盡量減少人為因素對(duì)于測(cè)量的干擾?！ SAT-1000射頻無(wú)源器件自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)能
2023-04-27 18:14:462 點(diǎn)擊上方藍(lán)字關(guān)注我們防靜電ESD測(cè)試過(guò)程展示本期內(nèi)容為ESD的測(cè)試過(guò)程，先來(lái)看一下規(guī)格書中有哪些參數(shù)VRWM和IT是固定的，可用作設(shè)置參考，所以我們要測(cè)試的就是VBIPPVCIRC和VESD。測(cè)試
2021-09-30 17:18:58934 
示教器的使用環(huán)境通常是電磁干擾、溫濕度變化、灰塵覆蓋等多變的工業(yè)場(chǎng)所，同時(shí)示教器作為手持操作裝置，也存在脫手跌落、振動(dòng)沖擊等可能性。那么示教器該如何應(yīng)對(duì)？ZTP800示教器的開發(fā)測(cè)試過(guò)程告訴
2023-06-30 11:40:02208 
走進(jìn)優(yōu)爾鴻信EMC實(shí)驗(yàn)室，探尋電磁兼容測(cè)試機(jī)構(gòu)這是Amanda王莉的第47篇文章。點(diǎn)這里關(guān)注我，記得標(biāo)星EMC電磁兼容測(cè)試，包括EMI電磁干擾測(cè)試和EMS電磁敏感性測(cè)試等方面內(nèi)容。EMI測(cè)試EMI
2023-07-05 10:05:41591 
工業(yè)交換機(jī)在出廠前要經(jīng)過(guò)哪些測(cè)試呢？測(cè)試過(guò)程又是怎么樣的呢？主要是工業(yè)交換機(jī)性能檢驗(yàn)和可靠性檢驗(yàn)，又包括了電阻檢驗(yàn)、電容耐壓測(cè)試、電源功率測(cè)試、線材、模塊、電纜、網(wǎng)卡數(shù)據(jù)流量性能測(cè)試、高低溫耐沖擊
2023-07-07 11:03:39259 
在現(xiàn)代的電磁環(huán)境中，我們周圍的電子設(shè)備數(shù)量越來(lái)越多，這也就意味著電磁干擾的問題也越來(lái)越突出。為了確保電子設(shè)備的正常運(yùn)行和相互之間的兼容性，進(jìn)行電磁干擾測(cè)試變得至關(guān)重要。而正確選擇適用于不同測(cè)試環(huán)境的電磁干擾測(cè)試探頭，則是執(zhí)行一項(xiàng)成功的測(cè)試的關(guān)鍵。
2023-07-19 14:34:03281 電磁干擾測(cè)試（Electromagnetic Interference Testing）：這種測(cè)試主要是評(píng)估電子設(shè)備在電磁環(huán)境中的性能。它測(cè)量設(shè)備是否會(huì)產(chǎn)生或受到來(lái)自其他設(shè)備或電磁場(chǎng)的干擾。這些測(cè)試可以包括輻射測(cè)量、導(dǎo)電測(cè)量、抗干擾性測(cè)試等，以確保設(shè)備在正常操作時(shí)不會(huì)發(fā)生故障或數(shù)據(jù)傳輸錯(cuò)誤。
2023-08-07 15:05:463059 ch32v003抗干擾測(cè)試方案 抗干擾測(cè)試方案的制定是電氣、電子、通信等領(lǐng)域工程師為保證電子產(chǎn)品抗干擾能力的一種必要的實(shí)驗(yàn)步驟?？?b class="flag-6" style="color: red">干擾測(cè)試方案的主要目的是確保設(shè)備能夠在電磁干擾下正常、穩(wěn)定地工作
2023-08-22 16:05:26539 ESD靜電放電在芯片實(shí)際使用過(guò)程中越來(lái)越影響到芯片的可靠性，是影響芯片質(zhì)量和性能的重要因素之一。因此，ESD抗干擾測(cè)試是非常重要的，防止ESD對(duì)芯片造成損壞。
2023-10-08 16:24:01565 如何解決車載部品測(cè)試過(guò)程中峰值電流不足的問題？ 隨著汽車電子系統(tǒng)的不斷發(fā)展和普及，車載部品的測(cè)試過(guò)程變得更加復(fù)雜和嚴(yán)峻。其中一個(gè)常見的問題是峰值電流不足。峰值電流不足可能導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果不準(zhǔn)確、設(shè)備損壞
2023-11-23 10:33:05205 納米軟件ATE自動(dòng)測(cè)試設(shè)備包含軟件ATE測(cè)試系統(tǒng)以及測(cè)試中需要的硬件設(shè)備，軟硬件會(huì)集成在一個(gè)機(jī)柜中，方便測(cè)試。ATE測(cè)試系統(tǒng)采取B/S架構(gòu)，無(wú)代碼開發(fā)，對(duì)操作人員沒有高技術(shù)要求，可快速上手測(cè)試。自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)在測(cè)試過(guò)程中實(shí)時(shí)自動(dòng)采集記錄數(shù)據(jù)，并對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行多維度分析，快速定位問題。
2023-12-28 15:55:30190
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