1、引言
智能天線技術(shù)的研究起始于20世紀(jì)60年代,最初的研究對象是雷達(dá)天線陣,主要目的是提高雷達(dá)的性能和電子對抗的能力。隨著移動通信的發(fā)展及對移動通信電波傳播、組網(wǎng)技術(shù)、天線理論等方面研究的逐漸深入,數(shù)字信號處理芯片處理能力不斷提高,利用數(shù)字技術(shù)在基帶形成天線波束成為可能。到了20世紀(jì)90年代,陣列處理技術(shù)引入移動通信領(lǐng)域,很快形成了一個新的研究熱點(diǎn)——智能天線。其中,我國在享有獨(dú)立自主知識產(chǎn)權(quán)的TD-SCDMA技術(shù)中,就已經(jīng)成功地引進(jìn)了智能天線技術(shù)。從某種程度上可以說,智能天線是3G區(qū)別于2G系統(tǒng)的關(guān)鍵標(biāo)志之一。
智能天線是利用數(shù)字信號處理技術(shù)產(chǎn)生空間定向波束,使天線的主波束跟蹤用戶信號到達(dá)方向,旁瓣或零陷對準(zhǔn)干擾信號到達(dá)方向,利用多個天線單元空間的正交性和信號在傳輸方向上的差別,將同頻率或同時隙、同碼道的信號區(qū)分開來,最大限度地利用有限的信道資源。它在提高系統(tǒng)通信質(zhì)量、緩解無線通信業(yè)務(wù)日益發(fā)展與頻譜資源不足的矛盾以及降低系統(tǒng)整體造價和改善系統(tǒng)管理等方面,都具有獨(dú)特的優(yōu)點(diǎn)。
既然智能天線有如此多的好處,那么隨著TD-SCDMA系統(tǒng)商用化的腳步越來越近,作為T D-SCDMA系統(tǒng)的關(guān)鍵技術(shù)之一的智能天線技術(shù)也越來越得到大家的重視,因此智能天線的測試方法也就顯得至關(guān)重要。
2、智能天線的分類
智能天線按照類型可以分為全向智能天線陣和定向智能天線陣。
對于定向智能天線陣來說,包括以下三類測試參數(shù)。
(1)電路參數(shù)。包括垂直面電下傾角預(yù)設(shè)置值、垂直面電下傾角精度、垂直面機(jī)械下傾范圍;輸入阻抗、各單元端口駐波比、相鄰單元端口隔離度、每端口連續(xù)波功率容量。
?。?)校準(zhǔn)參數(shù)。包括校準(zhǔn)端口至各單元端口的耦合度、校準(zhǔn)端口至各單元端口幅度最大偏差、校準(zhǔn)端口至各單元端口相位最大偏差、校準(zhǔn)端口駐波比、校準(zhǔn)通道耦合方向性。
?。?)性能參數(shù)。包括各單元端口有源輸入回波損耗、垂直面半功率波束寬度、垂直面上部第一旁瓣抑制和下部第一零點(diǎn)填充;單元波束水平面半功率波束寬度、增益、前后比交叉極化比(軸向)和交叉極化比(±60°范圍內(nèi));業(yè)務(wù)波束水平面半功率波束寬度、視軸增益、水平面旁瓣電平和前后比、廣播波束水平面半功率波束寬度、視軸增益、視軸增益Φ=±60°處電平下降、半功率波束寬度內(nèi)的電平波動。
對于全向智能天線陣來說,也可以分為三類測試參數(shù)。
(1)電路參數(shù)。包括垂直面電下傾角預(yù)設(shè)置值、垂直面電下傾角精度;輸入阻抗、各單元端口駐波比、相鄰單元端口隔離度、每端口連續(xù)波功率容量。
(2)校準(zhǔn)參數(shù)。包括校準(zhǔn)端口至各單元端口的耦合度、校準(zhǔn)端口至各單元端口幅度最大偏差、校準(zhǔn)端口至各單元端口相位最大偏差、校準(zhǔn)端口駐波比、校準(zhǔn)通道耦合方向性。
?。?)性能參數(shù)。包括各單元端口有源輸入回波損耗、垂直面半功率波束寬度、垂直面上部第一旁瓣抑制和下部第一零點(diǎn)填充;單元波束水平面半功率波束寬度、增益、前后比交叉極化比(軸向)和交叉極化比(±60°范圍內(nèi));業(yè)務(wù)波束水平面半功率波束寬度、視軸增益、水平面旁瓣電平、廣播波束視軸增益、方向圖圓度。
3、智能天線的測試項(xiàng)目及測試方法
下面針對智能天線不同于普通天線的測試項(xiàng)目進(jìn)行介紹。
首先,智能天線比普通天線增加了校準(zhǔn)端口,主要是為了動態(tài)地校準(zhǔn)各個單元端口的幅度和相位的一致性,校準(zhǔn)的準(zhǔn)確與否直接決定了智能天線的應(yīng)用效果,因此,對校準(zhǔn)端口至各單元端口幅度最大偏差和校準(zhǔn)端口至各單元端口相位最大偏差提出了相應(yīng)的要求。在測試的過程中,校準(zhǔn)端口與每個饋電端口形成一個校準(zhǔn)通道,對任意端口進(jìn)行測量得到相位/幅度誤差,在相同頻點(diǎn)上取所有測量值之間的最大偏差即得到本指標(biāo)。
校準(zhǔn)電路參數(shù)的測量示意如圖1所示。
圖1
測量步驟如下:
(1)將被測天線安裝在符合測量條件的自由空間或模擬自由空間;
(2)按測量系統(tǒng)要求進(jìn)行系統(tǒng)校準(zhǔn);
(3)將測量系統(tǒng)與被測天線的校準(zhǔn)端口和第i個饋電端口相連接,被測天線的其余端口一律接匹配負(fù)載,在工作頻率范圍內(nèi)進(jìn)行傳輸系數(shù)S(i,CAL)的測量;
?。?)重復(fù)步驟(3),測試所有端口的S(i,CAL)值。
測出校準(zhǔn)端口CAL至多個輻射端口i的傳輸系數(shù)S(i,CAL)后,對所有測試的S(i,CAL)值分別求模和求相角,將所有模曲線和相角曲線分別畫在兩張圖中,比較并分別求出最大的模(即幅度)偏差和相位偏差。
其次,是各單元端口有源輸入回波損耗。
有源輸入回波損耗區(qū)別于普通的回波損耗的地方在于它是在各個單元端口均有輸入信號,且是形成不同方向波束的情況下的回波損耗,因此將它叫作有源輸入回波損耗,測量示意如圖2所示。
圖2
有源輸入回波損耗間接測量步驟如下:
?。?)將被測天線安裝在符合測量條件 的自由空間或模擬自由空間;
?。?)按測量系統(tǒng)要求進(jìn)行系統(tǒng)校準(zhǔn);
?。?)將測量系統(tǒng)與被測天線的第i個饋電端口相連接,被測天線的其余端口一律接匹配負(fù)載,在工作頻率范圍內(nèi)進(jìn)行復(fù)反射系數(shù)Sii的測量,測量的Sii讀數(shù)就是第i個饋電端口的自反射系數(shù);
?。?)將測量系統(tǒng)與被測天線的第i個和第j個饋電端口相連接,被測天線的其余端口一律接匹配負(fù)載,在工作頻率范圍內(nèi)進(jìn)行傳輸系數(shù)Sij的測量,測試的Sij讀數(shù)就是第j個饋電端口到i個饋電端口的傳輸系數(shù);
(5)重復(fù)(3)、(4)步驟,測量所有端口的Sii和Sij的值;
(6)根據(jù)矩陣公式:[b]=[S][a],可以求出任意幅/相激勵ai對應(yīng)的反射信號bi,從而求出第i個輻射端口的復(fù)反射系數(shù)Γi=bi/ai,根據(jù)復(fù)反射系數(shù)可以求出第i個饋電端口相應(yīng)的有源輸入回波損耗為20lg(Γi);
?。?)求所有輻射端口有源回波損耗的最大值;
(8)重復(fù)步驟(6)給出掃描角為0°、±30°、±45°、±55°的幅/相激勵ai,求相應(yīng)的有源回波損耗,重復(fù)步驟(7),求所有有源回波損耗的最大值。
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