存儲器電路測試程序 - 大容量存儲器集成電路測試

　　系統(tǒng)不同的功能模塊,以不同的方式對存儲器電路進行測試,實現(xiàn)對存存儲單元的各種參數(shù)進行測試,綜合不同測試方式和所有測試矢量的結(jié)果,對存儲單元的準確性和可靠性進行分類、輸出顯示。存儲器電路測試程序是測試系統(tǒng)的核心部分。

　　2.1 Page-WR-RD模塊

　　FP-WR-RD模塊就是測試存儲器電路以PAGE(頁)方式時的正確性。該方式在寫讀數(shù)據(jù)時均以“WORD”32bit/次的方式進行,每次寫數(shù)據(jù)時不是將所有存儲單元一次全部填充完畢,而是按照存儲器電路的特性,將存儲器電路共64M bytes(以8M×8為例)待測存儲單元以64K bytes為單位將存儲單元分為不同的區(qū)(400I-王個)。以64K bytes為單位寫入存儲單元后再讀出比較正確性,若有錯則調(diào)用記錄錯誤子程序,若無錯誤則繼續(xù)下一數(shù)據(jù)的寫入。將待寫數(shù)據(jù)以字符串形式處理,每次取用一個數(shù)據(jù)。

　　2.2 FAST-WRITE-READ模塊

　　FAST-WRITE-READ模塊就是測試存儲器電路連續(xù)寫入固定數(shù)據(jù)的準確性,它以32bit/次將16M bytes存儲單元全部寫同一數(shù)據(jù),然后再讀出全部數(shù)據(jù)以測試其準確性。此模塊目的在于測試存儲器電路在快速連續(xù)寫入/讀出的工作方式下各個存儲單元的準確性。

　　2.3 MODIFY-WRITE-READ模塊

　　MODIFY-WRITE-READ模塊測試存儲器電路在連續(xù)寫變化數(shù)據(jù)時的準確性,將每次寫數(shù)據(jù)的變量內(nèi)容取反,則每連續(xù)兩次寫入的內(nèi)容相反,在讀數(shù)據(jù)時若檢測出每兩次內(nèi)容并非相反則存儲單元有錯。此功能對檢測其存儲單元是否有相互干擾而產(chǎn)生不穩(wěn)定的情況。

　　2.4 MOVE-WRITE-READ模塊

　　MOVE-WRITE-READ模塊測試存儲器電路在快速寫連續(xù)循環(huán)變化數(shù)據(jù)的準確性。每次寫入的數(shù)據(jù)變量EAX的內(nèi)容向左循環(huán)移一位,則相鄰每次寫入數(shù)據(jù)均不相同,進一步檢查存儲單元確穩(wěn)定性。

　　2.5 結(jié)果顯示輸出模塊

　　進行存儲器電路測試的目的是將存儲器電路按其錯誤存儲單元的情況進行分類標識,標識的結(jié)果必須易于記錄、區(qū)分、焊接和使用,以滿足實際生產(chǎn)的需要,而經(jīng)過上述模塊測試的結(jié)果數(shù)據(jù)存放在EAX內(nèi),地址存放在ES：[DI]內(nèi),對存儲器電路必須對其進行分類作出標識,控制機械手輸送到相應(yīng)的分配卡位。

　　2.6 顯示界面功能模塊

　　測試系統(tǒng)開機后在顯示屏應(yīng)出現(xiàn)測試界面,顯示測試系統(tǒng)配置,正在處理的存儲器電路規(guī)格類型,顯示正在執(zhí)行的運行模式,以便觀察該存儲器電路對于何種模式較為敏感,在處理時有針對性地加強該測試模式處理。顯示測試運行LOOP數(shù),觀察正在測試的存儲器電路在工作狀態(tài)的性能,以便觀察存儲器電路工作長時間的穩(wěn)定性。各大容量存儲器電路生產(chǎn)商在存儲技術(shù)上略有不同,在測試界面中,用軟件技術(shù)解決在產(chǎn)品變換中的適應(yīng)性問題。只要設(shè)置相關(guān)軟件變量,即可適用各種不同的存儲器電路。

　　3 技術(shù)優(yōu)勢

　　系統(tǒng)采用了上述關(guān)鍵的技術(shù)和獨特的測試模塊方式,測試存儲器電路的各項指標(速度、準確率、穩(wěn)定性),擁有自主的知識產(chǎn)權(quán)。作為存儲器電路專用測試設(shè)備,程序設(shè)計完全仿真存儲器電路在實際工作中的各種狀態(tài),測試能力強、速度快、可測試率高、適應(yīng)于各種不同的存儲器電路,具有較大的靈活性。由于采用虛擬矢量存儲器技術(shù),使本測試系統(tǒng)在測試容量方面具有相當?shù)陌l(fā)展空間,測試成本非常低。在存儲器集成電路的測試技術(shù)領(lǐng)域和測試系統(tǒng)市場中具有一定之優(yōu)勢。