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電子發(fā)燒友網(wǎng)>測量儀表>射頻/微波/無線測試> - 多重通訊的挑戰(zhàn)與測試方案

- 多重通訊的挑戰(zhàn)與測試方案

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2021-10-25 17:15:462779

萬物互聯(lián)時代看IoT測試如何應對“芯”挑戰(zhàn)

本期線上直播分為干貨分享、客戶連線、互動答疑、直播抽獎多個環(huán)節(jié)。加速科技資深IoT解決方案開發(fā)專家李敏從IoT芯片發(fā)展與趨勢、IoT測試需求與挑戰(zhàn)、加速科技高性價比IoT測試方案等角度,通過分析實際案例講述如何實現(xiàn)IoT測試提質增效。
2022-07-21 16:37:09548

基于示波器測試電源和信號完整性的挑戰(zhàn)

使用基于示波器的解決方案測試電源和信號完整性存在一些測試挑戰(zhàn),必須考慮并解決這些測試挑戰(zhàn)才能獲得最佳性能。
2022-08-01 11:51:58466

Chiplet和異構集成時代芯片測試挑戰(zhàn)與機遇

雖然Chiplet近年來越來越流行,將推動晶體管規(guī)模和封裝密度的持續(xù)增長,但從設計、制造、封裝到測試,Chiplet和異構集成也面臨著多重挑戰(zhàn)。因此,進一步通過減少缺陷逃逸率,降低報廢成本,優(yōu)化測試成本通過設計-制造-測試閉環(huán)實現(xiàn)良率目標已成為當務之急。
2023-07-12 15:04:181110

【賦能IoT生態(tài)系列5之4】多重網(wǎng)絡智控模塊升級方案

【賦能IoT生態(tài)系列5之4】多重網(wǎng)絡智控模塊升級方案
2023-08-14 15:48:31286

FPGA測試面臨哪些挑戰(zhàn)測試方案是什么?

FPGA技術的發(fā)展,大容量、高速率和低功耗已經(jīng)成為FPGA的發(fā)展重點,也對FPGA測試提出了新的需求。本文根據(jù)FPGA的發(fā)展趨勢,討論了FPGA測試面臨哪些挑戰(zhàn)?測試方案是什么? FPGA處于高速發(fā)展期 FPGA技術正處于高速發(fā)展時期。目前其產品的應用領域已經(jīng)擴展到
2023-10-23 15:20:01460

pcb應變測試多重要?一文了解!

pcb應變測試多重要?一文了解!
2024-02-24 16:26:35570

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