磁控濺射技術(shù)是在真空中,經(jīng)電場(chǎng)作用,將氬氣電離成Ar+正離子,Ar+經(jīng)加速后撞擊靶材膜料,從而濺射到襯底上,制成薄膜。
2024-03-20 11:27:13182 中圖儀器SJ5800系列生產(chǎn)配件輪廓度檢測(cè)儀采用超高精度納米衍射光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)、超高直線(xiàn)度研磨級(jí)摩擦導(dǎo)軌、高性能直流伺服驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)、高性能計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)技術(shù),實(shí)現(xiàn)對(duì)軸承及工件表面粗糙度和輪廓的高精度測(cè)量
2024-03-06 11:11:59
雖然UV光學(xué)薄膜面臨諸多挑戰(zhàn),但I(xiàn)BS技術(shù)的出現(xiàn),使沉積高質(zhì)量的UV光學(xué)薄膜成為可能。
2024-01-31 14:24:0375 薄膜表面檢測(cè)技術(shù)在各行業(yè)中扮演著至關(guān)重要的角色。無(wú)論是在電子、光學(xué)、食品包裝還是醫(yī)療領(lǐng)域,薄膜的質(zhì)量和表面狀況對(duì)產(chǎn)品性能和品質(zhì)都有著直接的影響。針對(duì)薄膜表面檢測(cè)的相關(guān)技術(shù)和方法不斷發(fā)展,成為確保
2024-01-25 14:11:40228 光學(xué)上常用的基板 玻璃----在光學(xué)應(yīng)用上最重要 陶瓷 光學(xué)晶體 光學(xué)塑料(如PC、PMMA等) 金屬 玻璃可以分為: 1、普通玻璃 2、無(wú)色光學(xué)玻璃 3、有色光學(xué)玻璃 4、特殊玻璃等 無(wú)色玻璃
2024-01-22 06:35:21100 在光學(xué)薄膜中,反射膜和增透膜幾乎同樣重要。對(duì)于光學(xué)儀器中的反射系統(tǒng)來(lái)說(shuō),一般單純金屬膜的特性大都已經(jīng)滿(mǎn)足常用要求。在某些應(yīng)用中,要求更高的反射率則可用金屬增強(qiáng)鏡。而全介質(zhì)多層反射膜,由于這種反射
2024-01-18 06:38:58128 減反膜 1、減反膜的作用 增加光學(xué)系統(tǒng)透過(guò)率 減少雜散光 提高象質(zhì) 增加作用距離 2、減反膜按層數(shù)分類(lèi) a、單層減反膜 b、雙層減反膜 c、多層減反膜 3、另一種分類(lèi) a、單點(diǎn)減反 b、寬波段
2024-01-17 06:32:30108 熔點(diǎn)檢測(cè)是化學(xué)和材料科學(xué)中一種常用的技術(shù),用于確定物質(zhì)在特定溫度下的物理狀態(tài)變化。通過(guò)熔點(diǎn)檢測(cè),科學(xué)家可以了解物質(zhì)的性質(zhì)、純度以及其可能的用途。本文將深入探討熔點(diǎn)檢測(cè)的重要性、方法以及其在實(shí)際
2024-01-04 11:13:38132 兩片高反射腔鏡組成光學(xué)諧振腔,當(dāng)一束脈沖激光沿著光軸入射到腔內(nèi),忽略衍射及散射損耗,單脈沖激光在兩個(gè)腔鏡之間往返振蕩時(shí),遵從單指數(shù)衰減規(guī)律,其所測(cè)的反射率是衰蕩時(shí)間的函數(shù)。因此,獲取衰蕩時(shí)間,即可求出待測(cè)樣品的反射率。
2023-12-28 17:18:07330 檢測(cè)儀器來(lái)進(jìn)行檢測(cè)。因此「美能光伏」生產(chǎn)了美能Poly在線(xiàn)膜厚測(cè)試儀,該設(shè)備采用光伏行業(yè)領(lǐng)先的微納米薄膜光學(xué)測(cè)量創(chuàng)新技術(shù),且適用于大規(guī)模產(chǎn)線(xiàn)自動(dòng)化檢測(cè)工序,可幫助
2023-12-16 08:33:09300 中圖儀器SuperViewW1白光干涉表面形貌檢測(cè)儀是利用光學(xué)干涉原理研制開(kāi)發(fā)的超精細(xì)表面輪廓測(cè)量?jī)x器。它具有測(cè)量精度高、操作便捷、功能齊全、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn),測(cè)量單個(gè)精細(xì)器件的過(guò)程用時(shí)短
2023-12-04 14:52:41
在工業(yè)應(yīng)用中,SuperViewW三維光學(xué)輪廓檢測(cè)儀超0.1nm的縱向分辨能力能夠高精度測(cè)量物體的表面形貌,可用于質(zhì)量控制、表面工程和納米制造等領(lǐng)域。與其它表面形貌測(cè)量方法相比,SuperViewW
2023-11-30 10:14:52
中圖儀器SuperViewW系列3D光學(xué)檢測(cè)儀器用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量。它基于白光干涉原理,以3D非接觸方式,測(cè)量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸,典型結(jié)果包括:1、三維表面
2023-11-17 08:59:04
上海伯東美國(guó) KRi 高能量射頻離子源 RFICP 220 應(yīng)用于光學(xué)鍍膜機(jī), 增強(qiáng)光學(xué)基片反射及透射率, 助力光學(xué)薄膜技術(shù)發(fā)展.
2023-11-14 12:57:22305 視覺(jué)檢測(cè)儀閃測(cè)儀即閃測(cè)儀,能一鍵測(cè)量二維平面尺寸測(cè)量,或是搭載光學(xué)非接觸式測(cè)頭實(shí)現(xiàn)高度尺寸、平面度等參數(shù)的精密快速測(cè)量。VX8000視覺(jué)檢測(cè)儀閃測(cè)儀在測(cè)量時(shí),只需一鍵,數(shù)秒內(nèi)即可完成測(cè)量,CNC模式
2023-11-13 10:12:48
一、引言塑料薄膜在各種行業(yè),如包裝、印刷、建筑等,都有廣泛的應(yīng)用。薄膜的厚度是決定其性能和質(zhì)量的關(guān)鍵因素之一。為了確保薄膜的質(zhì)量和性能,需要對(duì)薄膜的厚度進(jìn)行精確測(cè)量。機(jī)械接觸式塑料薄膜測(cè)厚檢測(cè)儀
2023-10-30 16:51:02
,對(duì)于保證包裝的密封性和安全性具有重要意義。二、包裝薄膜熱合強(qiáng)度檢測(cè)儀的工作原理包裝薄膜熱合強(qiáng)度檢測(cè)儀主要基于拉伸試驗(yàn)的原理進(jìn)行測(cè)量。設(shè)備內(nèi)部通常包括一個(gè)測(cè)力系統(tǒng)。
2023-10-27 16:23:32
和重要性。一、工作原理紙張厚度檢測(cè)儀主要通過(guò)測(cè)量紙張的厚度來(lái)評(píng)估其質(zhì)量和使用性能。檢測(cè)儀采用高精度的測(cè)量傳感器和計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng),可以準(zhǔn)確地測(cè)量和記錄紙張的厚度。一般而言
2023-10-23 14:59:09
電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《基于自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)儀通信系統(tǒng)設(shè)計(jì).pdf》資料免費(fèi)下載
2023-10-18 10:33:200 簡(jiǎn)單,易上手操作,設(shè)備的性能也很穩(wěn)定可靠。VX8000系列圖像尺寸檢測(cè)儀采用雙遠(yuǎn)心高分辨率光學(xué)鏡頭,結(jié)合高精度圖像分析算法,并融入一鍵閃測(cè)原理。CNC模式下,只需
2023-10-18 09:19:51
上海伯東提供適用于光學(xué)鍍膜機(jī)的離子源和真空系統(tǒng) 光的干涉在薄膜光學(xué)中應(yīng)用廣泛. 光學(xué)薄膜技術(shù)的普遍方法是借助真空濺射的方式在玻璃基板上涂鍍薄膜. 光學(xué)鍍膜是光學(xué)器件上的單個(gè)或多個(gè)材料沉積薄層, 實(shí)現(xiàn)
2023-09-08 11:34:11677 光學(xué)3D表面輪廓儀是基于白光干涉技術(shù),結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等快速、準(zhǔn)確測(cè)量物體表面的形狀和輪廓的檢測(cè)儀器。它利用光學(xué)投射原理,通過(guò)光學(xué)傳感器對(duì)物體表面進(jìn)行掃描,并根據(jù)反射光的信息來(lái)
2023-08-21 13:41:46
現(xiàn)代的任何一種光學(xué)儀器或光電裝置,幾乎都與光學(xué)薄膜息息相關(guān),如光纖通訊、生物晶片、光顯示器。
2023-07-25 09:22:36926 根據(jù)檢測(cè)工藝所處的環(huán)節(jié),IC集成電路檢測(cè)被分為設(shè)計(jì)驗(yàn)證、前道量檢測(cè)和后道檢測(cè)。
2023-07-13 11:19:58691 SQ2000純蒸汽質(zhì)量測(cè)試系統(tǒng),純蒸汽質(zhì)量檢測(cè)儀,蒸汽品質(zhì)測(cè)試儀,全自動(dòng)純蒸汽質(zhì)量檢測(cè)儀純蒸汽是指不含任何雜質(zhì)和液滴的蒸汽,通常用于工業(yè)生產(chǎn)中的各種加熱和動(dòng)力設(shè)備。為了確保純蒸汽的質(zhì)量和安全性,需要
2023-07-11 15:28:17
氨氣檢測(cè)儀可以快速測(cè)定在工業(yè)燃燒、農(nóng)業(yè)養(yǎng)殖以及日常生活中氨氣濃度,檢測(cè)儀提供的數(shù)據(jù),包括多采樣點(diǎn)的氨氣濃度值、采樣通道和時(shí)間報(bào)警信息以及檢測(cè)儀系統(tǒng)自身的參數(shù)信息等。 如何記錄更準(zhǔn)確全面
2023-07-03 10:15:46
。 中圖儀器SuperViewW1光學(xué)輪廓儀粗糙度檢測(cè)儀器以白光干涉技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對(duì)器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像
2023-06-30 13:36:25
管廊氣體檢測(cè)儀是用于檢測(cè)和監(jiān)測(cè)管廊內(nèi)部空氣中的氣體濃度和污染物的儀器設(shè)備。管廊是指地下的管道和通道系統(tǒng),如地鐵、交通隧道、排水管道等。以下是管廊氣體檢測(cè)儀的一些重要應(yīng)用和功能: 1. 氣體泄漏檢測(cè)
2023-06-01 11:39:33371 露點(diǎn)檢測(cè)儀的維護(hù)。在線(xiàn)式露點(diǎn)儀,便攜式露點(diǎn)儀的維護(hù)保養(yǎng)
2023-05-13 14:00:54923 、Excel、Dxf等形式存在。 中圖儀器Novator系列光學(xué)全自動(dòng)影像檢測(cè)儀是一種全自動(dòng)影像測(cè)量?jī)x,采用大理石主體機(jī)臺(tái)和精密伺服控制系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)高精度運(yùn)動(dòng)測(cè)
2023-05-04 15:58:56
基礎(chǔ)和重要的項(xiàng)目。目前常用的微結(jié)構(gòu)表面形貌測(cè)量方法分為接觸式和非接觸式。運(yùn)用非接觸式測(cè)量技術(shù)的3D光學(xué)檢測(cè)儀器,大多是基于光學(xué)方法(干涉顯微法、自動(dòng)聚焦法、激光干
2023-04-21 14:17:16863 基礎(chǔ)和重要的項(xiàng)目。目前常用的微結(jié)構(gòu)表面形貌測(cè)量方法分為接觸式和非接觸式。運(yùn)用非接觸式測(cè)量技術(shù)的3D光學(xué)檢測(cè)儀器,大多是基于光學(xué)方法(干涉顯微法、自動(dòng)聚焦法、激光干
2023-04-21 11:20:340 一、簡(jiǎn)介 氰化氫因其強(qiáng)烈的毒性而受到重視,其在工業(yè)、農(nóng)業(yè)、生活中的使用都可能產(chǎn)生危害,如果不能及時(shí)發(fā)現(xiàn)和控制,可能會(huì)造成環(huán)境污染和人身傷害。氰化氫檢測(cè)儀是一種快速、準(zhǔn)確地檢測(cè)氰化氫含量的儀器,它可
2023-04-19 11:34:01307 光學(xué)薄膜是利用薄膜對(duì)光的作用而工作的一種功能薄膜,光學(xué)薄膜在改變光強(qiáng)方面可以實(shí)現(xiàn)分光透射、分光反射、分光吸收以及光的減反、增反、分束、高通、低通、窄帶濾波等功能。
2023-04-17 11:46:253343 現(xiàn)代工業(yè)生產(chǎn)對(duì)薄膜表面的質(zhì)量提出越來(lái)越高的要求,傳統(tǒng)的檢測(cè)方法如人工目視抽檢已經(jīng)遠(yuǎn)遠(yuǎn)不能滿(mǎn)足現(xiàn)在工業(yè)生產(chǎn)中高速、高分辨率和無(wú)損只能檢測(cè)的要求,simvision薄膜瑕疵檢測(cè)系統(tǒng)與傳統(tǒng)的人工肉眼檢測(cè)相比,具有快速、可靠。準(zhǔn)確的優(yōu)點(diǎn),目前已被許多薄膜企業(yè)所應(yīng)用。
2023-04-11 09:48:56257 PCBA產(chǎn)品的檢測(cè)技術(shù)主要可以分為:焊膏涂敷檢測(cè)SPI、自動(dòng)光學(xué)檢查AOI、自動(dòng)X光檢測(cè)AXI、在線(xiàn)檢測(cè)ICT、飛針檢測(cè)FP,以及功能檢測(cè)FT等?! ?、自動(dòng)光學(xué)檢查(AOI) 檢測(cè)原理:AOI檢測(cè)儀
2023-04-07 14:41:37
有無(wú)亂碼,圖形是不是分色,有無(wú)靜電線(xiàn),膠片是不是有劃痕等等。? 4、薄膜開(kāi)關(guān)外表是不是有臟,有時(shí)候藥液和機(jī)軌輥也可能致使菲林的外表有污點(diǎn),這會(huì)影響到曬版的質(zhì)量。 5、套齊疑問(wèn):定位點(diǎn)和角線(xiàn),版標(biāo)
2023-03-27 15:39:12
評(píng)論
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