半導體參數(shù)測試儀&能測 IGBT. Mosfet. Diode. BJT......
半導體參數(shù)測試儀能測試很多電子元器件的靜態(tài)直流參數(shù)（如擊穿電壓V(BR)CES/V(BR)DSs、漏電流ICEs/lGEs/IGSs/lDSs、閾值電壓/VGE(th)、開啟電壓/VCE(on)、跨導/Gfe/Gfs、壓降/Vf、導通內阻Rds(on)）。
測試種類覆蓋 7 大類別26分類，包括“二極管類”“三極管類（如BJT、MOSFET、IGBT）”“保護類器件”“穩(wěn)壓集成類”“繼電器類”“光耦類”“傳感監(jiān)測類”等品類的繁多的電子元器件。
高壓源標配1400V（選配2KV），高流源標配100A（選配40A,200A,500A）
控制極/柵極電壓40V，柵極電流100mA
分辨率最高至1.5uV / 1.5pA，精度最高可至0.1%
STD2000半導體參數(shù)測試儀適用于半導體參數(shù)測試還可測試“結電容”，支持“脈沖式一鍵加熱”和“分選機連接”
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研發(fā)生產(chǎn) 半導體檢測·電學檢測·可靠性檢測·老化實驗 各類儀器設備
第一部分：規(guī)格&環(huán)境
1.1、產(chǎn)品信息
產(chǎn)品型號：STD2000
產(chǎn)品名稱：半導體參數(shù)測試儀
1.2、物理規(guī)格
主機尺寸：深660*寬430*高210(mm)
主機重量：＜35kg
1.3、電氣環(huán)境
主機功耗：＜300W
海拔高度：海拔不超過 4000m；
環(huán)境要求：-20℃～60℃（儲存）、5℃～50℃（工作）；
相對濕度： 20%RH～75%RH (無凝露，濕球溫度計溫度 45℃以下)；
大氣壓力：86Kpa～106Kpa；
防護條件：無較大灰塵，腐蝕或爆炸性氣體，導電粉塵等；
電網(wǎng)要求：AC220V、±10%、50Hz±1Hz；
工作時間：連續(xù)；
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第二部分：應用場景和產(chǎn)品特點
一、應用場景
1、測試分析（功率器件研發(fā)設計階段的初始測試，主要功能為曲線追蹤儀）
2、失效分析（對失效器件進行測試分析，查找失效機理。以便于對電子整機的整體設計和使用過程提出改善方案）
3、選型配對（在器件焊接至電路板之前進行全部測試，將測試數(shù)據(jù)比較一致的器件進行分類配對）
4、來料檢驗（研究所及電子廠的質量部（IQC）對入廠器件進行抽檢/全檢，把控器件的良品率）
5、量產(chǎn)測試（可連接機械手、掃碼槍、分選機等各類輔助機械設備，實現(xiàn)規(guī)?；⒆詣踊瘻y試）
6、替代進口（STD2000IV半導體參數(shù)測試儀系統(tǒng)可替代同級別進口產(chǎn)品）
二、產(chǎn)品特點
1、程控高壓源10~1400V，提供2000V選配；
2、程控高流源1uA~100A，提供40A,200A,500A選配；
3、驅動電壓10mV~40V
4、控制極電流10uA~100mA；
5、16位ADC，1M/S采樣速率；
6、自動識別器件極性 NPN/PNP
7、曲線追蹤儀，四線開爾文連接保證加載測量的準確
8、通過 RS232 接口連接校準數(shù)字表，對系統(tǒng)進行校驗
9、不同的封裝形式提供對應的夾具和適配器（如TO220、SOP-8、DIP、SOT-23等等）
10、半導體參數(shù)測試儀系統(tǒng)能測很多電子元器件（如二極管、三極管、MOSFET、IGBT、可控硅、光耦、繼電器等等）；
11、半導體參數(shù)測試儀系統(tǒng)能實現(xiàn)曲線追蹤儀（如擊穿電壓V(BR)CES/V(BR)DSs、漏電流ICEs/lGEs/IGSs/lDSs、閾值電壓/VGE(th)、開啟電壓/VCE(on)、跨導/Gfe/Gfs、壓降/Vf、導通內阻Rds(on) ）
12、結電容參數(shù)也可以測試，諸如Cka，Ciss，Crss，Coss；
13、脈沖電流自動加熱功能，方便高溫測試，無需外掛升溫裝置；
14、Prober 接口、Handler 接口可選（16Bin），連接分選機最高效率1h/9000個；
15、半導體參數(shù)測試儀系統(tǒng)在各大電子廠的IQC、實驗室有著廣泛的應用；
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第三部分：產(chǎn)品介紹
3.1、產(chǎn)品介紹
STD2000半導體參數(shù)測試儀系統(tǒng) 是由我公司技術團隊結合IV半導體參數(shù)測試儀系統(tǒng)的多年經(jīng)驗，以及眾多國內外測試系統(tǒng)產(chǎn)品的熟悉了解后，完全自主開發(fā)設計的全新一代“IV半導體參數(shù)測試儀系統(tǒng)”。軟件及硬件均由團隊自主完成。這就決定了這款產(chǎn)品的功能性和可靠性能夠得到持續(xù)完善和不斷的提升。
半導體參數(shù)測試儀系統(tǒng)脈沖信號源輸出方面，高壓源標配1400V（選配2KV），高流源標配100A（選配40A,200A,500A）柵極電壓40V，柵極電流100mA，分辨率最高至1uV / 1.5pA，精度最高可至0.1%。程控軟件基于Lab VIEW平臺編寫，填充式菜單界面。采用帶有開爾文感應結構的測試插座，自動補償由于系統(tǒng)內部及測試電纜長度引起的任何壓降，保證測試結果準確可靠。產(chǎn)品可測試 Si, SiC, GaN 材料的 IGBTs, DIODEs, MOSFETs, BJTs, SCRs 等7大類26分類的電子元器件。涵蓋電子產(chǎn)品中幾乎所有的常見器件。無論電壓電流源還是功能配置都有著極強的擴展性。
產(chǎn)品為桌面放置的臺式機結構，由測試主機和程控電腦兩大部分組成。外掛各類夾具和適配器，還能夠通過Prober 接口、Handler 接口可選（16Bin）連接分選機和機械手建立工作站，實現(xiàn)快速批量化測試。通過軟件設置可依照被測器件的參數(shù)等級進行自動分類存放。能夠極好的應對“來料檢驗”“失效分析”“選型配對”“量產(chǎn)測試”等不同場景。
半導體參數(shù)測試儀系統(tǒng)產(chǎn)品的可靠性和測試數(shù)據(jù)的重復性以及測試效率都有著非常優(yōu)秀的表現(xiàn)。創(chuàng)新的“點控式夾具”讓操作人員在夾具上實現(xiàn)一點即測。操作更簡單效率更高。測試數(shù)據(jù)可保存為EXCEL文本，方便快捷的完成曲線追蹤儀。
3.2、人機界面（STD2000IV半導體參數(shù)測試儀系統(tǒng)）
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第四部分：功能配置
4.1、配置選項
STD2000半導體參數(shù)測試儀系統(tǒng)的功能配置如下
4.2、適配器選型
STD2000半導體參數(shù)測試儀系統(tǒng)的適配器有如下
4.3、測試種類及參數(shù)
STD2000半導體參數(shù)測試儀系統(tǒng)的測試種類和參數(shù)如下
(1)二極管類：二極管 Diode
Kelvin，Vrrm，Irrm，Vf，△Vf，△Vrrm，Cka，Tr（選配）；
(2)二極管類：穩(wěn)壓二極管 ZD（Zener Diode）
Kelvin，Vz，lr，Vf，△Vf，△Vz，Roz，lzm，Cka；
(3)二極管類：穩(wěn)壓二極管 ZD（Zener Diode）
Kelvin、Vz、lr、Vf、△Vf、△Vz、Roz、lzm、Cka；
(4)二極管類：三端肖特基二極管SBD（SchottkyBarrierDiode）
Kelvin 、Type_ident 、Pin_test 、Vrrm、Irrm、Vf、△Vf、V_Vrrm、I_Irrm、△Vrrm、Cka、Tr（選配）；
(5)二極管類：瞬態(tài)二極管 TVS
Kelvin 、Vrrm 、Irrm、Vf、△Vf、△Vrrm 、Cka ；
(6)二極管類：整流橋堆
Kelvin 、Vrrm、Irrm、Ir_ac、Vf、△Vf、△Vrrm 、Cka；
(7)二極管類：三相整流橋堆
Kelvin 、Vrrm 、Irrm、Ir_ac、Vf、△Vf、△Vrrm、Cka；
(8)三極管類：三極管
Kelvin 、Type_ident、Pin_chk 、V(br)cbo 、V(br)ceo 、V(br)ebo 、Icbo、lceo、Iebo、Hfe、Vce(sat)、Vbe(sat)、△Vsat、△Bvceo 、△Bvcbo 、Vbe、lcm、Vsd 、Ccbo 、Cces、Heater、Tr （選配）、Ts（選配）、Value_process；
(9) 三極管類：雙向可控硅
Kelvin、Type_ident、Qs_chk、Pin_test、Igt、Vgt、Vtm、Vdrm、Vrrm、Vdrm rrm、Irrm、 Idrm、Irrm_drm、Ih、IL、C_vtm、△Vdrm、△Vrrm、△Vtm；
(10)三極管類：單向可控硅
Kelvin、 Type_ident、 Qs_chk、 Pin test、 lgt、 Vgt、 Vtm、 Vdrm Vrrm、 IH、IL、△Vdrm△Vrrm、Vtm；
(11)三極管類：MOSFET
Kelvin 、Type_ident、Pin_test、VGS(th) 、V(BR)Dss 、Rds(on) 、Bvds_rz、△Bvds、Gfs、Igss、ldss 、Idss zero 、Vds(on)、 Vsd、Ciss、Coss、Crss、Bvgs 、ld_lim 、Heater、Value_proces、△Rds(on) ；
(12)三極管類：雙MOSFET
Kelvin、 Pin_chk、Ic_fx_chk、 Type_ident、 Vgs1(th)、 VGs2(th)、 VBR)Dss1、 VBR)Dss2、 Rds1(on)、 Rds2(on)、 Bvds1 rz、 Bvds2_rz、 Gfs1、Gfs2、lgss1、lgss2、Idss1、Idss2、Vsd1、Vsd2、Ciss、Coss、Crss；
(13)三極管類：JFET
Kelvin、VGS(off )、V(BR)Dss、Rds(on)、Bvds_rz、Gfs、lgss、 Idss(off)、 Idss(on)、 vds(on)、 Vsd、Ciss、Crss、Coss；
(14)三極管類：IGBT
Kelvin、VGE(th)、V(BR)CES、Vce(on)、Gfe、lges、 lces、Vf、Ciss、Coss、Crss；
(15)三極管類：三端開關功率驅動器
Kelvin、Vbb(AZ)、 Von(CL)、 Rson、Ibb(off)、Il(lim)、Coss、Fun_pin_volt；
(16)三極管類：七端半橋驅動器
Kelvin、lvs(off)、lvs(on)、Rson_h、Rson_l、lin、Iinh、ls_Volt、Sr_volt；
(17)三極管類：高邊功率開關
Kelvin、Vbb(AZ)、Von(CL)、Rson、Ibb(off)、ll(Iim)、Coss、Fun_pin_volt；
(18)保護類：壓敏電阻
Kelvin、Vrrm、 Vdrm、Irrm、Idrm、Cka、 △Vr ;
(19)保護類：單組電壓保護器
Kelvin 、Vrrm、Vdrm、Irrm、Idrm、Cka、△Vr；
(20)保護類：雙組電壓保護器
Kelvin、Vrrm、Vdrm、Irrm、Idrm、Cka、△Vr；
(21)穩(wěn)壓集成類：三端穩(wěn)壓器
Kelvin 、Type_ident 、Treg_ix_chk 、Vout 、Reg_Line、Reg_Load、IB、IB_I、Roz、△IB、VD、ISC、Max_lo、Ro、Ext _Sw、Ic_fx_chk；
(22)穩(wěn)壓集成類：基準IC（TL431）
Kelvin、Vref、△Vref、lref、Imin、loff、Zka、Vka；
(23)穩(wěn)壓集成類：四端穩(wěn)壓
Kelvin、Type_ident、Treg_ix_chk、Vout、Reg_Line、Reg_Load、IB、IB_I、Roz、△lB、VD、Isc、Max_lo、Ro、Ext_Sw、Ic_fx_chk；
(24)穩(wěn)壓集成類：開關穩(wěn)壓集成器
選配；
(25)繼電器類：4腳單刀單組、5腳單刀雙組、8腳雙組雙刀、8腳雙組四刀、固態(tài)繼電器
Kelvin、Pin_chk、Dip6_type_ident、Vf、Ir、Vl、Il、Ift、Ron、Ton（選配）、Toff（選配）；
(26)光耦類：4腳光耦、6腳光耦、8腳光耦、16腳光耦
Kelvin、Pin_chk、Vf、Ir、Bvceo、Bveco、Iceo、Ctr、Vce(sat)、Tr、Tf；
(27)傳感監(jiān)測類：
電流傳感器（ACS712XX系列、CSNR_15XX系列）（選配）；
霍爾器件（MT44XX系列、A12XX系列）（選配）；
電壓監(jiān)控器（選配）；
電壓復位IC（選配）；
曲線追蹤儀
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第五部分：性能指標
STD2000半導體參數(shù)測試儀系統(tǒng)的性能指標如下
5.1、電流/電壓源（VIS）自帶VI測量單元
（1）加壓(FV)
量程±40V分辨率625uV精度±0.1% 設定值±3mV
量程±20V分辨率320uV精度±0.1% 設定值±3mV
量程±10V分辨率160uV精度±0.1% 設定值±3mV
量程±5V分辨率80uV精度±0.1% 設定值±2mV
量程±2V分辨率32uV精度±0.1% 設定值±2mV
（2）加流(FI)
量程±40A 分辨率625uA精度±0.5% 設定值±30mA
量程±4A 分辨率62.5uA精度±0.2% 設定值±2mA
量程±400mA分辨率6.25uA精度±0.1% 設定值±500uA
量程±40mA分辨率625nA精度±0.1% 設定值±50uA
量程±4mA分辨率62.5nA精度±0.1% 設定值±5uA
量程±400uA分辨率6.25nA精度±0.1% 設定值±500nA
量程±40uA分辨率625pA精度±0.1% 設定值±50nA
量程±4uA分辨率62.5pA精度±0.1% 設定值±5nA
說明：電流大于1.5A自動轉為脈沖方式輸出，脈寬范圍：300us-1000us可調
（3）電流測量(MI)
量程±40A分辨率1.22mA精度±1% 讀數(shù)值±20mA
量程±4A分辨率122uA精度±0.5% 讀數(shù)值±2mA
量程±400mA分辨率12.2uA精度±0.5% 讀數(shù)值±200uA
量程±40mA分辨率1.22uA精度±0.5% 讀數(shù)值±20uA
量程±4mA分辨率122nA精度±0.5% 讀數(shù)值±2uA
量程±400uA分辨率12.2nA精度±0.5% 讀數(shù)值±200nA
量程±40uA分辨率1.22nA精度±1% 讀數(shù)值±20nA
（4）電壓測量(MV)
量程±40V分辨率1.22mV精度±1% 讀數(shù)值±20mV
量程±20V分辨率122uV 精度±0.5% 讀數(shù)值±2mV
量程±10V分辨率12.2uV 精度±0.5% 讀數(shù)值±200uV
量程±5V分辨率1.22uV 精度±0.5% 讀數(shù)值±20uV
5.2、數(shù)據(jù)采集部分（VM）
16位ADC，1M/S采樣速率
（1）電壓測量(MV)
量程±2000V分辨率30.5mV精度±0.5%讀數(shù)值±200mV
量程±1000V分辨率15.3mV精度±0.2%讀數(shù)值±20mV
量程±100V分辨率1.53mV精度±0.1%讀數(shù)值±10mV
量程±10V分辨率153uV精度±0.1%讀數(shù)值±5mV
量程±1V分辨率15.3uV精度±0.1%讀數(shù)值±2mV
量程±0.1V分辨率1.53uV精度±0.2%讀數(shù)值±2mV
（2）漏電流測量(MI)
量程±100mA分辨率1.53uA精度±0.2%讀數(shù)值±100uA
量程±10mA分辨率153nA精度±0.1%讀數(shù)值±3uA
量程±1mA分辨率15.3nA精度±0.1%讀數(shù)值±300nA
量程±100uA分辨率1.53nA精度±0.1%讀數(shù)值±100nA
量程±10uA分辨率153pA精度±0.1%讀數(shù)值±20nA
量程±1uA 分辨率15.3pA精度±0.5%讀數(shù)值±5nA
量程±100nA分辨率1.53pA精度±0.5%讀數(shù)值±0.5nA
（3）電容容量測量(MC)
量程6nF分辨率10PF精度±5%讀數(shù)值±50PF
量程60nF分辨率100PF精度±5%讀數(shù)值±100PF
5.3、高壓源（HVS）(基本)12位DAC
（1）加壓(FV)
量程2000V/10mA分辨率30.5mV精度±0.5%設定值±500mV
量程200V/10mA分辨率30.5mV精度±0.2%設定值±50mV
量程40V/50mA分辨率30.5mV精度±0.1%設定值±5mV
（2）加流(FI)：
量程10mA分辨率3.81uA 精度±0.5%設定值±10uA
量程2mA分辨率381nA精度±0.5%設定值±2uA
量程200uA分辨率38.1nA精度±0.5%設定值±200nA
量程20uA分辨率3.81nA精度±0.5%設定值±20nA
量程2uA分辨率381pA精度±0.5%設定值±20nA
STD2000半導體參數(shù)測試儀系統(tǒng)能測很多電子元器件（如二極管、三極管、MOSFET、IGBT、可控硅、光耦、繼電器等等）產(chǎn)品廣泛的應用在院所高校、封測廠、電子廠.....
