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陜西天士立科技有限公司

陜西天士立科技有限公司,源頭廠家,自有工廠研發(fā)制造,主營(yíng)業(yè)務(wù):半導(dǎo)體器件專(zhuān)用設(shè)備制造、儀器儀表制造、電子元器件制造、機(jī)械電氣設(shè)備制造等

29 內(nèi)容數(shù) 1.1k 瀏覽量 4 粉絲

半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試儀系統(tǒng)_陜西天士立科技研發(fā)生產(chǎn)_平替T3Ster_Phase11熱特性測(cè)試儀

型號(hào): ST-HeatX

--- 產(chǎn)品參數(shù) ---

  • 輸出方式 隔離輸出
  • 輸出范圍 -10V ~ 20V
  • 輸出誤差 ≤0.1V + 0.5%set
  • 分辨率 0.01V
  • 同步時(shí)間誤差 ≤1μs

--- 產(chǎn)品詳情 ---

 

半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試儀系統(tǒng)_陜西天士立科技研發(fā)生產(chǎn)_平替T3Ster_Phase11熱特性測(cè)試儀。產(chǎn)品符合JESD 51-1、JESD 51-14標(biāo)準(zhǔn),用于DIODE、IGBT、MOSFET、HEMT、GTO、功率IC等多種類(lèi)型功率器件及其模組瞬態(tài)熱阻抗、熱結(jié)構(gòu)分析、結(jié)構(gòu)函數(shù)輸出

ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試儀系統(tǒng)

ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試儀系統(tǒng)的產(chǎn)品特點(diǎn)

超高精度:溫度(T;)分辨率0.01℃℃,1MHz變頻采樣:

技術(shù)領(lǐng)先:第三代瞬態(tài)熱測(cè)試技術(shù),可輸出結(jié)構(gòu)函數(shù)進(jìn)行熱結(jié)構(gòu)分析

行業(yè)領(lǐng)先:具備4路高速高精度采集模塊,采樣速度,精度均達(dá)到行業(yè)頂尖水平

架構(gòu)領(lǐng)先:采用B/S架構(gòu)控制系統(tǒng)、可遠(yuǎn)程對(duì)設(shè)備進(jìn)行狀態(tài)監(jiān)控和控制,實(shí)現(xiàn)智能化;

瞬態(tài)監(jiān)測(cè):連續(xù)采集加熱和冷卻區(qū)的結(jié)溫變化,同步采集溫度監(jiān)控點(diǎn)數(shù)據(jù);

NPS技術(shù):同步采集溫度監(jiān)控點(diǎn)(NTC/PTC)和結(jié)溫?cái)?shù)據(jù),形成數(shù)據(jù)關(guān)系矩陣。

ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試儀系統(tǒng)的應(yīng)用場(chǎng)景

器件結(jié)殼熱阻測(cè)量ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試儀系統(tǒng)  

散熱結(jié)構(gòu)分析ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試儀系統(tǒng)  

Die-Attach熱阻測(cè)量ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試儀系統(tǒng)  

DBC/AMB基本熱特性測(cè)量ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試儀系統(tǒng)  

界面熱阻測(cè)量與分析ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試儀系統(tǒng)  

PCB板級(jí)散熱結(jié)構(gòu)分析ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試儀系統(tǒng)  

散熱器性能測(cè)量ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試儀系統(tǒng)  

TIM材料熱導(dǎo)率測(cè)試ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試儀系統(tǒng)  

熱缺陷檢測(cè)ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試儀系統(tǒng)  

ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試儀系統(tǒng)的“功能指標(biāo)”

 產(chǎn)品品牌天士立
 產(chǎn)品型號(hào)ST-HeatX
 產(chǎn)品名稱(chēng)半導(dǎo)體熱特性測(cè)試系統(tǒng)
 主要功能適用于多種類(lèi)型功率器件及其模組的瞬態(tài)熱阻抗、熱結(jié)構(gòu)分析、結(jié)構(gòu)函數(shù)輸出
 試驗(yàn)對(duì)象DIODE、MOSFET、IGBT/IGCT、HEMT、GTO、IC
 試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)符合JESD51-1、JESD51-14、IEC 60747-8、IEC 60747-9、IEC 60747-15、IEC 60749-23、IEC 60749-34、AEC-Q101、AQG 324等相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)要求
 試驗(yàn)?zāi)J?/td>

DIODE模式

SAT模式

IGBT模式

RDSON模式

HEMT模式

 門(mén)控電源

數(shù)量 4 

輸出方式 隔離輸出 

輸出范圍 -10V ~ 20V 

輸出誤差 ≤0.1V + 0.5%set 

分辨率 0.01V

 

NTC/PTC

數(shù)據(jù)同步

采集

NTC測(cè)量范圍 250kΩ ? 100Ω 

PTC測(cè)量范圍 100Ω ? 250kΩ 

最高采樣頻率 1MHZ 

同步時(shí)間誤差 ≤1μs

 

柵極漏電

測(cè)量

量程分辨率1nA ~ 850nA@0.01nA

量程分辨率850nA ~ 1mA@0.01uA

 加熱電源

量程 30A / 10V 

電流輸出誤差 ≤0.05A + 0.1%set 

電流設(shè)定分辨率 0.01A 

開(kāi)關(guān)速度1μs

 

測(cè)溫電流源

(主)

量程 ±0.1A ~ ±1A / 10V 

分辨率 1mA 

誤差 ≤2mA + 0.5%set

 

測(cè)溫電流源

(輔)

量程 0 ~ 100mA / 10V 

分辨率 0.01mA 

誤差 0~10mA ≤50μA + 0.5%set 

誤差 10 ~ 100mA ≤0.5mA + 0.5%set

 測(cè)量通道

數(shù)量 4 

動(dòng)態(tài)電壓測(cè)量范圍 ±5V(差分模式) 

動(dòng)態(tài)電壓測(cè)量誤差 ≤1mV + 0.5%set 

動(dòng)態(tài)電壓量程 100mV、200mV、400mV、800mV 

動(dòng)態(tài)電壓分辨率 1.6μV 

采樣頻率 最高1MHz 

采樣模式 連續(xù)變頻采樣

ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試儀系統(tǒng)的“溫度系數(shù)標(biāo)定”

 

ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試儀系統(tǒng)的“瞬態(tài)熱測(cè)試”

 

四、數(shù)據(jù)處理與輸出 

4.1、“數(shù)據(jù)處理與輸出”ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試儀系統(tǒng)

 

 

4.2、“熱模型抽取”ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試儀系統(tǒng)

4.3、“脈沖熱阻”ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試儀系統(tǒng)

4.4、“安全工作區(qū)”ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試儀系統(tǒng)

ST-HeatX迷你版(10A5V1C1P版本)

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