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SPEA

SPEA成立于1976年，注于于電路板和電路模塊檢測，為半導體IC和 MEMS傳感器設計并制造自動測試設備，提供標準化產(chǎn)品和定制化服務方案

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SPEA 4085飛針測試設備

型號： 4085

--- 產(chǎn)品詳情 ---

 

4085飛針測試設備是市面上性能最強大而又最緊湊的自動 8 倍飛針測試儀。

它具有一流的吞吐量，每年可測試超過 800,000 件電路板， 適合高產(chǎn)量的生產(chǎn)測試1。飛針定位具有高度的精確性和可重復 性，分別為20μm和5μm，能夠測試帶有小于 50μm 的微焊盤 和SMD01005 元件的高密度電路板。此外，系統(tǒng)設計還可接 觸更微型的元件，例如SMD 008004。

體積小，吞吐量大

4085的超高速運動，讓它每年可測試超過  800,000 件電路板， 滿足大量生產(chǎn)的需求1。應用于  X-Y-Z  軸線性運動技術可提供無 可比擬的加速度和速度，8  個飛針每秒可對電路板頂部和底部進 行高達  180  次接觸。測試儀的集成傳送帶可將被測器件快速載 入和載出測試區(qū)域，索引時間為 2.5 秒。


 

4085系統(tǒng)采用最先進的飛針測試技術，結構緊湊而功能強大。其性能/尺寸比確實獨一無二：包括集成傳送帶在內，每一個測 試儀的工業(yè)占地面積僅為 1.34m2。

 

4085堅固耐用，可保證其出類拔萃的性能經(jīng)久不變：事實上， 測試儀結構是為在生產(chǎn)環(huán)境中連續(xù)作業(yè)而設計的，把維護需求降 至最低。借助 SPEA 自動加載模塊，可實現(xiàn)測試過程總吞吐量最 大化，從而設置全自動化的緊湊測試單元。例如，4085 測試儀 結合一個雙向加載模塊，長度可減少 2 米，總占地面積可減少 2.3m2。

 XYZ 軸全線性運動 

 

最高的運動速度 

定位可重復，行程無限制

無機械磨損 

比其他運動技術具有更少機械部件

 

 XYZ 軸上的線性光學編碼器 

 

實時定位反饋 ·

閉環(huán)精度 

軸定位直接測量，無附加機械元件導致的錯誤

長時間操作下的定位測量穩(wěn)定性

 

 精選的花崗巖底盤 

 

優(yōu)秀的減震性能 

非常低的熱膨脹 

較高的剛性 

設備架構動態(tài)穩(wěn)定性極高
 

5G 器件射頻測試

 

射頻測試是一種針對消費電子產(chǎn)品生產(chǎn)和維修操作的功能測試技 術，用于檢驗接收和傳輸 500 MHz 至 6 GHz 信號的射頻組件 的正常運行。
 

射頻測試測量被測器件發(fā)出信號的頻率和幅度，檢查其是否符合 預期參數(shù)，或生成射頻信號并詢問器件，驗證其是否正確接收。通過配置測量儀器的綜合設置范圍，可以生成和分析任何射頻信 號。
 

該項測試技術可用于4085多功能系統(tǒng)，可完全滿足 5G 電路板 的測試要求，例如最新一代智能手機和平板電腦使用的電路板?？蓽y試技術包括：GSM 、 LTE、Wi-Fi (2.4-5GHz) 、藍牙 、GPS 、FM 立體聲收音機、WCDMA 、 DVB 、 DAB 、LR-WPAN 、CDMA等

精準度高

4085測試儀專為滿足新的微電子技術需求而設計和生產(chǎn)，后者 要求高度的可達性和檢測精度
 

系統(tǒng)各軸上直接安裝了具備亞微米分辨率的線性光學編碼器，在 接觸 SMD 01005 元件和小于 50μm 的測試焊盤時可提供極高 的定位精度(20μm)和一致的可重復性(5μm)。此外，4085 專為接觸更小的元件而設計，例如  SMD  008004。這一切都沒有損 壞的風險：超快速的線性電機具有探針輪廓受控下降的功能，確 保安全接觸。
 

天然花崗巖底盤可保證極高的系統(tǒng)穩(wěn)定性，將振動減至最小，保 持檢測精度經(jīng)久不變。此外，X-Y-Z 軸安裝了高分辨率的測量 儀器，可進行超精確測量，分辨率為 0.1pF，信號采集時間為毫秒級。

 

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