--- 產(chǎn)品參數(shù) ---
- 產(chǎn)地 德國(guó)
--- 產(chǎn)品詳情 ---
因產(chǎn)品配置不同, 價(jià)格貨期需要電議, 圖片僅供參考, 一切以實(shí)際成交合同為準(zhǔn)
渦輪分子泵 HiPace 80 Neo
上海伯東 Pfeiffer 推出新款全系列渦輪分子泵 HiPace 80 Neo, 此款復(fù)合軸承分子泵體積小巧, 智能設(shè)計(jì), 堅(jiān)固耐用, 提供強(qiáng)大抽氣能力, 特別適用于質(zhì)譜分析, 電子顯微鏡, 檢漏儀和殘余氣體分析系統(tǒng)等對(duì)振動(dòng)敏感的應(yīng)用.
分子泵 HiPace 80 Neo 轉(zhuǎn)子使用德國(guó) Pfeiffer 專利 Laser Balancing? 激光平衡技術(shù), 是目前市場(chǎng)上同級(jí)別振動(dòng)更低和噪音更小的分子泵!
低振動(dòng)渦輪分子泵 HiPace 80 Neo 優(yōu)勢(shì)
全新智能設(shè)計(jì), 內(nèi)部實(shí)時(shí)轉(zhuǎn)子溫度測(cè)量
標(biāo)準(zhǔn)的電子驅(qū)動(dòng)是帶 RS-485 和遠(yuǎn)程的 TC 80
同級(jí)別分子泵占地面積更小, 抽氣性能強(qiáng)大 (尤其是小分子氣體), 易于系統(tǒng)集成
是目前市場(chǎng)上同級(jí)別分子泵振動(dòng)更低和噪音更?。?br>復(fù)合 Semi S2, UL, CSA, IP54, NEMA 12 認(rèn)證
Self-detecting 智能配件
渦輪分子泵 HiPace 80 Neo 技術(shù)參數(shù)
進(jìn)氣口 | DN 40 ISO - KF | DN 63 ISO -K | DN 63 CF -F |
圖片 | |||
氮?dú)獬樗?l/s | 35 | 67 | 67 |
氦氣抽速 l/s | 41 | 58 | 58 |
氫氣抽速 l/s | 38 | 48 | 48 |
氬氣抽速 l/s | 30 | 66 | 66 |
氮?dú)鈮嚎s比 | 1 X 1011 | 1 X 1011 | 1 X 1011 |
氦氣壓縮比 | 1.3 X107 | 1.3 X107 | 1.3 X107 |
氫氣壓縮比 | 1.4 X 105 | 1.4 X 105 | 1.4 X 105 |
氬氣壓縮比 | 1 X 1011 | 1 X 1011 | 1 X 1011 |
極限真空 mbar | 1 X 10-7 | 1 X 10-7 | 5 X 10-10 |
噪音 dB(A) | ≤48 | ≤48 | ≤48 |
電流最大值 A | 5.6 | 5.6 | 5.6 |
重量 kg | 1.7 | 1.7 | 3.1 |
資料下載 | 中文 PDF | 中文 PDF | 中文 PDF |
渦輪分子泵 HiPace 80 Neo 抽氣性能
為你推薦
-
inTEST BT28 桌面型高低溫沖擊熱流儀2024-09-12 13:56
產(chǎn)品型號(hào):inTEST BT28 溫度范圍:-28° 至 +225°C 溫度顯示和分辨率:+/- 0.1°C -
離子束刻蝕機(jī) 20 IBE-J2024-09-12 13:51
產(chǎn)品型號(hào):20 IBE-J 特點(diǎn):干法物理納米級(jí)刻蝕 射頻角度:可以任意調(diào)整 -
inTEST Sigma M256 高低溫試驗(yàn)箱2023-12-01 10:58
產(chǎn)品型號(hào):Sigma M256 產(chǎn)地:美國(guó) 腔室體積:255 L -
inTEST Sigma M170 高低溫試驗(yàn)箱2023-12-01 10:55
產(chǎn)品型號(hào):Sigma M170 產(chǎn)地:美國(guó) 溫度范圍:-185°C 至 400°C 腔室體積:165 L -
inTEST Sigma M58 高低溫試驗(yàn)箱2023-12-01 10:19
產(chǎn)品型號(hào):Sigma M58 產(chǎn)地:美國(guó) 寬溫度范圍:-185 °C 至 500°C 腔室體積:59 L -
inTEST Sigma M10 高低溫試驗(yàn)箱2023-12-01 10:06
產(chǎn)品型號(hào):Sigma M10 產(chǎn)地:美國(guó) 寬溫度范圍:-185°C 至 500°C 腔室體積:10 L -
inTEST Sigma 高低溫試驗(yàn)箱, 溫度環(huán)境試驗(yàn)箱2023-12-01 09:39
產(chǎn)品型號(hào):Sigma 品牌:inTEST 產(chǎn)地:美國(guó) 溫度范圍:-185°至 +500°C -
普發(fā)分流式分子泵 SplitFlow2023-07-11 10:13
產(chǎn)品型號(hào):SplitFlow 產(chǎn)地:德國(guó) -
普發(fā)分子泵 HiPace 80 Neo2023-07-11 10:09
產(chǎn)品型號(hào):HiPace 80 Neo 產(chǎn)地:德國(guó) -
銷售維修電容真空計(jì) PCR 2802023-05-26 15:04
產(chǎn)品型號(hào):PCR 280 品牌:德國(guó) Pfeiffer
-
氦質(zhì)譜檢漏儀 ASM 340W 鋰電池蓋帽(蓋板)檢漏系統(tǒng)2024-09-13 10:53
上海伯東氦質(zhì)譜檢漏儀 ASM 340W 適用于動(dòng)力電池行業(yè)和汽車行業(yè)的檢漏系統(tǒng), 提供鋰電池蓋帽(蓋板)檢漏, 汽車壓縮機(jī)真空檢漏解決方案.95瀏覽量 -
KRi 霍爾離子源 EH 2000 望遠(yuǎn)鏡鏡片光學(xué)鍍膜應(yīng)用2024-09-13 10:38
-
美國(guó) inTEST 高低溫沖擊熱流儀助力半導(dǎo)體芯片研發(fā)2024-09-13 10:19
上海伯東代理美國(guó) inTEST 高低溫沖擊熱流儀兼容各品牌半導(dǎo)體測(cè)試機(jī), 可正確評(píng)估與參數(shù)標(biāo)定芯片開發(fā), 器件或模塊研發(fā), 品質(zhì)檢查, 第三方認(rèn)證, 失效分析, FAE 等幾乎所有流程, 高低溫沖擊測(cè)試作為一種常見的測(cè)試手段, 適用于 IGBT, MOSFET, 三極管, 二極管等各類半導(dǎo)體特性測(cè)試.132瀏覽量 -
離子束刻蝕機(jī)物理量傳感器 MEMS 刻蝕應(yīng)用2024-09-12 13:31
-
氦質(zhì)譜檢漏儀應(yīng)用于半導(dǎo)體新材料和設(shè)備管道檢漏2023-11-09 15:31
-
氦質(zhì)譜檢漏儀應(yīng)用于真空鍍膜生產(chǎn)線2023-08-07 14:35
-
Gel-Pak VR真空釋放盒應(yīng)用于50V GaN HEMT 芯片2023-08-07 14:28
-
inTEST熱流儀邏輯芯片 FPGA高低溫沖擊測(cè)試2023-08-07 14:21
FPGA 芯片需要按照 JED22-A104 標(biāo)準(zhǔn)做溫度循環(huán) TC 測(cè)試, 讓其經(jīng)受極端高溫和低溫之間的快速轉(zhuǎn)換. 一般在?-55℃~150℃ 進(jìn)行測(cè)試, 傳統(tǒng)的環(huán)境箱因?yàn)樯禍厮俣仁芟? 無(wú)法滿足研發(fā)的快速循環(huán)測(cè)試需求. 上海伯東美國(guó) inTEST 熱流儀 ATS-710E 變溫速率約 10 s, 實(shí)現(xiàn) FPGA 芯片極端高溫和低溫之間的快速轉(zhuǎn)換測(cè)774瀏覽量 -
上海伯東分子泵應(yīng)用于 LED 芯片退火合金爐2023-08-07 14:14
-
美國(guó)KRi 離子源光通信應(yīng)用, 助力5G技術(shù)發(fā)展2023-08-07 14:08
-
鈮酸鋰 LiNbO3 薄膜 IBE 離子束刻蝕2024-09-13 10:59
-
美國(guó) Gel-Pak 應(yīng)用于 VCSEL 芯片生產(chǎn)2024-09-13 10:28
-
美國(guó)進(jìn)口 KRi 考夫曼離子源 KDC 160 硅片刻蝕清潔案例2024-09-13 10:10
-
inTEST 熱流儀車載顯示器高低溫光學(xué)測(cè)量應(yīng)用2024-09-12 14:17
通過(guò)美國(guó) inTEST ATS-545 熱流儀給車載顯示器升溫或降溫, 測(cè)量其在不同溫度下任意點(diǎn)的光學(xué)特性, 實(shí)現(xiàn)高低溫環(huán)境 -40 至 100℃ 下產(chǎn)品的亮度, 色度, 響應(yīng)時(shí)間和可視角度測(cè)試.53瀏覽量 -
HiCube 80 Eco 分子泵組搭配低溫阻抗測(cè)試儀應(yīng)用2023-12-08 14:29
-
SF6 密度繼電器氦質(zhì)譜檢漏法2023-12-08 14:21
-
新能源汽車 IGBT 功率器件高低溫沖擊測(cè)試2023-12-01 15:48
車用 IGBT 模塊對(duì)產(chǎn)品性能和質(zhì)量的要求要明顯高于消費(fèi)和工控領(lǐng)域, 需要通過(guò)嚴(yán)格的車規(guī)認(rèn)證, 汽車 IGBT 模塊測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)主要參照 AEC-Q101 和 AQG-324, 其中溫度沖擊, 功率循環(huán), 溫度循環(huán), 結(jié)溫等是其中重要的測(cè)試要求, 功率循環(huán)和溫度循環(huán)作為代表的耐久測(cè)試, 測(cè)試循環(huán)次數(shù)可能從幾萬(wàn)次到十萬(wàn)次不等. -
氦質(zhì)譜檢漏儀壓力傳感器芯片檢漏2023-12-01 14:56
-
Gel-Pak 芯片包裝盒光通訊行業(yè)應(yīng)用: OSA流轉(zhuǎn)工序以及自動(dòng) PnP拾取2023-12-01 14:38
-
inTEST ATS-710 車載芯片高低溫測(cè)試解決方案2023-12-01 14:24