企業(yè)號(hào)介紹

全部
  • 全部
  • 產(chǎn)品
  • 方案
  • 文章
  • 資料
  • 企業(yè)

伯東企業(yè)(上海)有限公司

上海伯東是德國(guó)Pfeiffer 全系列真空產(chǎn)品,美國(guó) KRI 離子源,美國(guó)HVA 真空閥門,美國(guó) inTEST熱流儀代理商

167 內(nèi)容數(shù) 5.4w 瀏覽量 2 粉絲

普發(fā)分子泵 HiPace 80 Neo

型號(hào): HiPace 80 Neo

--- 產(chǎn)品參數(shù) ---

  • 產(chǎn)地 德國(guó)

--- 產(chǎn)品詳情 ---

因產(chǎn)品配置不同, 價(jià)格貨期需要電議, 圖片僅供參考, 一切以實(shí)際成交合同為準(zhǔn)
渦輪分子泵 HiPace 80 Neo
上海伯東 Pfeiffer 推出新款全系列渦輪分子泵 HiPace 80 Neo, 此款復(fù)合軸承分子泵體積小巧, 智能設(shè)計(jì), 堅(jiān)固耐用, 提供強(qiáng)大抽氣能力, 特別適用于質(zhì)譜分析, 電子顯微鏡, 檢漏儀和殘余氣體分析系統(tǒng)等對(duì)振動(dòng)敏感的應(yīng)用.

分子泵 HiPace 80 Neo 轉(zhuǎn)子使用德國(guó) Pfeiffer 專利  Laser Balancing? 激光平衡技術(shù), 是目前市場(chǎng)上同級(jí)別振動(dòng)更低和噪音更小的分子泵!

低振動(dòng)渦輪分子泵 HiPace 80 Neo 優(yōu)勢(shì)
全新智能設(shè)計(jì), 內(nèi)部實(shí)時(shí)轉(zhuǎn)子溫度測(cè)量
標(biāo)準(zhǔn)的電子驅(qū)動(dòng)是帶 RS-485 和遠(yuǎn)程的 TC 80
同級(jí)別分子泵占地面積更小, 抽氣性能強(qiáng)大 (尤其是小分子氣體), 易于系統(tǒng)集成
是目前市場(chǎng)上同級(jí)別分子泵振動(dòng)更低和噪音更?。?br>復(fù)合 Semi S2, UL, CSA, IP54, NEMA 12 認(rèn)證
Self-detecting 智能配件

渦輪分子泵 HiPace 80 Neo 技術(shù)參數(shù)

進(jìn)氣口

DN 40 ISO - KF

DN 63 ISO -K

DN 63 CF -F

圖片

分子泵 HiPace 80 Neo
分子泵 HiPace 80 Neo
分子泵 HiPace 80 Neo

氮?dú)獬樗?l/s

35

67

67

氦氣抽速 l/s

41

58

58

氫氣抽速 l/s

38

48

48

氬氣抽速 l/s

30

66

66

氮?dú)鈮嚎s比

1 X 1011

1 X 1011

1 X 1011

氦氣壓縮比

1.3 X107

1.3 X107

1.3 X107

氫氣壓縮比

1.4 X 105

1.4 X 105

1.4 X 105

氬氣壓縮比

1 X 1011

1 X 1011

1 X 1011

極限真空 mbar

1 X 10-7

1 X 10-7

5 X 10-10

噪音 dB(A)

≤48

≤48

≤48

電流最大值 A

5.6

5.6

5.6

重量 kg

1.7

1.7

3.1

資料下載

中文 PDF

中文 PDF

中文 PDF


渦輪分子泵 HiPace 80 Neo 抽氣性能
 

分子泵 HiPace 80 Neo  抽氣性能

 

為你推薦

  • 鈮酸鋰 LiNbO3 薄膜 IBE 離子束刻蝕2024-09-13 10:59

    隨著基于鈮酸鋰 LN 的光源, 光調(diào)制, 光探測(cè)等重要器件的實(shí)現(xiàn), 鈮酸鋰 LN 光子集成芯片有望像硅基集成電路一樣, 成為高速率, 高容量, 低能耗光學(xué)信息處理的重要平臺(tái), LiNbO3 薄膜刻蝕成特定的圖形才能用于芯片, 因 LiNbO3 惰性特性, 使用 ICP 或 RIE 工藝無(wú)法完成刻蝕, 上海伯東 IBE 離子束刻蝕機(jī)為鈮酸鋰 LiNbO3 薄膜刻蝕提供解決方案
  • 美國(guó) Gel-Pak 應(yīng)用于 VCSEL 芯片生產(chǎn)2024-09-13 10:28

    上海伯東美國(guó) Gel-Pak 提供 VCSEL 芯片生產(chǎn)使用的 DGL 膠膜和真空釋放托盤
    75瀏覽量
  • 美國(guó)進(jìn)口 KRi 考夫曼離子源 KDC 160 硅片刻蝕清潔案例2024-09-13 10:10

    上海伯東美國(guó) KRi 大尺寸考夫曼離子源 KDC 160 適用于 2-4英寸的硅片刻蝕和清潔應(yīng)用, KRi KDC 160 是直流柵網(wǎng)離子源, 高輸出離子束電流超過(guò) 1000mA. 高功率光束無(wú)需對(duì)離子源進(jìn)行水冷卻即可實(shí)現(xiàn). KDC 160 配備了雙燈絲. 在標(biāo)準(zhǔn)配置下, KDC 160 典型離子能量范圍為 100 至 1200eV, 離子電流可超過(guò) 800mA.
    83瀏覽量
  • inTEST 熱流儀車載顯示器高低溫光學(xué)測(cè)量應(yīng)用2024-09-12 14:17

    通過(guò)美國(guó) inTEST ATS-545 熱流儀給車載顯示器升溫或降溫, 測(cè)量其在不同溫度下任意點(diǎn)的光學(xué)特性, 實(shí)現(xiàn)高低溫環(huán)境 -40 至 100℃ 下產(chǎn)品的亮度, 色度, 響應(yīng)時(shí)間和可視角度測(cè)試.
  • HiCube 80 Eco 分子泵組搭配低溫阻抗測(cè)試儀應(yīng)用2023-12-08 14:29

    上海伯東代理德國(guó) Pfeiffer 渦輪分子泵組 HiCube 80 Eco 成功應(yīng)用于低溫阻抗測(cè)試系統(tǒng), 分析電子元器件在低溫環(huán)境下電阻的變化.
  • SF6 密度繼電器氦質(zhì)譜檢漏法2023-12-08 14:21

    應(yīng)用于各類電廠, 變電站, 電氣化鐵道等行業(yè)的 SF6 六氟化硫密度繼電器, 通過(guò)監(jiān)測(cè)密封容器中的 SF6 氣體的密度, 診斷出電氣設(shè)備中 SF6 氣體的泄漏, 防止因?yàn)?SF6 氣體密度的下降而導(dǎo)致其電氣絕緣能力的下降. 嚴(yán)重時(shí)會(huì)發(fā)生閃絡(luò)擊穿, 威脅人身設(shè)備安全.
  • 新能源汽車 IGBT 功率器件高低溫沖擊測(cè)試2023-12-01 15:48

    車用 IGBT 模塊對(duì)產(chǎn)品性能和質(zhì)量的要求要明顯高于消費(fèi)和工控領(lǐng)域, 需要通過(guò)嚴(yán)格的車規(guī)認(rèn)證, 汽車 IGBT 模塊測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)主要參照 AEC-Q101 和 AQG-324, 其中溫度沖擊, 功率循環(huán), 溫度循環(huán), 結(jié)溫等是其中重要的測(cè)試要求, 功率循環(huán)和溫度循環(huán)作為代表的耐久測(cè)試, 測(cè)試循環(huán)次數(shù)可能從幾萬(wàn)次到十萬(wàn)次不等.
  • 氦質(zhì)譜檢漏儀壓力傳感器芯片檢漏2023-12-01 14:56

    應(yīng)用于新能源汽車的壓力傳感器芯片, 屬于電子元器件的一種, 傳統(tǒng)的壓力傳感器包括電路分析, 材料分析和無(wú)源器件分析等, 即包括 MEMS 芯片, ASIC 芯片, 電容, 電阻,? 陶瓷 PCB, 塑封蓋, 金屬套管等, 因?yàn)樘厥舛鴩?yán)苛的工作環(huán)境, 這些元器件通過(guò)焊接工藝封裝到一起, 這就要求壓力傳感器的密封性高, 在使用過(guò)程中不會(huì)出現(xiàn)泄漏的問(wèn)題, 為保證密封質(zhì)量, 國(guó)標(biāo)要求壓力傳感器芯片出廠前必
  • Gel-Pak 芯片包裝盒光通訊行業(yè)應(yīng)用: OSA流轉(zhuǎn)工序以及自動(dòng) PnP拾取2023-12-01 14:38

    光通訊行業(yè)中, 光纖收發(fā)器 Optical Transceiver 一般由 OSA , IC, PCB 板和殼體組成. 上海伯東代理美國(guó) Gel-Pak 芯片包裝盒適用于 OSA 制程之間的流轉(zhuǎn)工序以及自動(dòng) PnP 設(shè)備實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化拾取.
    421瀏覽量
  • inTEST ATS-710 車載芯片高低溫測(cè)試解決方案2023-12-01 14:24

    上海伯東美國(guó) inTEST ThermoStream? 高低溫沖擊熱流儀, 為車載芯片提供穩(wěn)定和高效的溫度測(cè)試解決方案, 保證車規(guī)產(chǎn)品的高安全性, 高可靠性和高穩(wěn)定性, inTEST 高度適配各類測(cè)試平臺(tái), 協(xié)助企業(yè)生產(chǎn)研發(fā)符合 AEC-Q100 可靠性認(rèn)證的車載芯片.