--- 產(chǎn)品參數(shù) ---
- 服務(wù)區(qū)域 全國(guó)
- 服務(wù)資質(zhì) CNAS認(rèn)可
- 發(fā)票 可提供
- 報(bào)告類型 中英文電子/紙質(zhì)報(bào)告
--- 產(chǎn)品詳情 ---
服務(wù)范圍
PCB、PCBA、汽車焊接零部件
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)
1、整車廠標(biāo)準(zhǔn):韓系(含合資)-ES90000系列、?系(含合資)-TSC0507G、TSC0509G、 TSC0510GTSC3005G、德系(含合資)-VW80000系列、美系(含合資)-GMW3172、吉利汽車系列標(biāo)準(zhǔn)、奇瑞汽車系列標(biāo)準(zhǔn)、一汽汽車系列標(biāo)準(zhǔn)等
2、其他行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)/國(guó)標(biāo)/特殊行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)等:GB/2423、AJEDECJESD22、NSIIPC/J-STD-020、J-STD-001、J-STD-002、J-STD-003、IPC-A-610、IPC-TM-650、IPC-9704、 IPC-6012、IPC-6013、JISZ3198、IEC60068等
檢測(cè)項(xiàng)目
試驗(yàn)類型 | 試驗(yàn)項(xiàng)? |
(汽車電子)無(wú)鉛工藝質(zhì)量 | 常規(guī)環(huán)境試驗(yàn)、X 射線透視檢查、?相切片分析、焊點(diǎn)剪切力拉力測(cè)試、離子污染、離子?譜、SEM&EDS分析、傅?葉紅外光譜分析、應(yīng)力應(yīng)變測(cè)試、可焊性測(cè)試、超聲分析等 |
PCB/PCBA 失效分析 | PCB/PCBA 失效分析 |
常規(guī)環(huán)境試驗(yàn) | 高溫工作、高溫反偏、高溫柵偏壓、溫度循環(huán)、高溫存貯、低溫存貯、高壓蒸煮、HAST、高溫高濕反偏、高溫高濕工作、低溫工作、脈沖工作、間歇工作壽命、功率溫度循環(huán)、常加速、振動(dòng)、沖擊、跌落、粗細(xì)檢漏、?密性、鹽霧、凝露、硫化氫?體腐蝕、混合?體腐蝕等 |
相關(guān)資質(zhì)
CNAS
服務(wù)背景
電子產(chǎn)品工藝質(zhì)量問(wèn)題占成熟汽車電子供應(yīng)商質(zhì)量問(wèn)題比重的80%。同時(shí)工藝質(zhì)量異常輕可造成產(chǎn)品失靈失效;重可引起整個(gè)系統(tǒng)異常,從而導(dǎo)致批次性召回,對(duì)電子產(chǎn)品制造商造成嚴(yán)重的損失,更有可能對(duì)使乘員生命構(gòu)成威脅。
廣電計(jì)量的專業(yè)團(tuán)隊(duì)具備10多年失效分析經(jīng)驗(yàn)支撐,可提供vw80000系列、ES90000系列等整車廠的汽車電子無(wú)鉛工藝質(zhì)量評(píng)價(jià),幫助企業(yè)發(fā)現(xiàn)潛在質(zhì)量缺陷、控制產(chǎn)品質(zhì)量風(fēng)險(xiǎn)。
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廣電計(jì)量|功率場(chǎng)效應(yīng)管過(guò)壓失效機(jī)理及典型特征分析2024-09-18 10:55
失效分析最常觀察到的現(xiàn)象是EOS過(guò)電失效,分為過(guò)壓失效及過(guò)流失效的兩種失效模式。對(duì)于以功率器件為代表的EOS過(guò)電失效樣品,其失效表征往往表現(xiàn)為芯片的大面積熔融,導(dǎo)致難以進(jìn)一步判定其失效模式。本文以常規(guī)MOS、IGBT場(chǎng)效應(yīng)管為例,從芯片內(nèi)部結(jié)構(gòu)進(jìn)行分析和明確過(guò)壓擊穿容易出現(xiàn)的失效位置及機(jī)理解釋。763瀏覽量 -
新技術(shù)丨廣電計(jì)量成功開(kāi)發(fā)系統(tǒng)級(jí)電磁脈沖防護(hù)仿真技術(shù)2024-09-11 11:01
系統(tǒng)級(jí)電磁脈沖效應(yīng)是電磁脈沖對(duì)系統(tǒng)內(nèi)部電子設(shè)備的影響和作用,這種效應(yīng)能夠通過(guò)各種途徑耦合到系統(tǒng)內(nèi)部,對(duì)電子設(shè)備造成威脅。為提升研究系統(tǒng)級(jí)電磁脈沖效應(yīng)及其防護(hù)技術(shù)效率,增強(qiáng)各行業(yè)系統(tǒng)抗電磁脈沖能力,廣電計(jì)量電磁安全工程研究所成立科研專項(xiàng)組開(kāi)展系統(tǒng)級(jí)電磁脈沖防護(hù)仿真技術(shù)研究。424瀏覽量 -
Robotaxi發(fā)展再加速,智能駕駛傳感領(lǐng)域檢測(cè)迎來(lái)全新挑戰(zhàn)2024-08-23 11:01
高階智駕的發(fā)展是無(wú)人駕駛系統(tǒng)在技術(shù)層面落地的基石,而感知是智能駕駛的先決條件,車輛的傳感器需要通過(guò)嚴(yán)苛的可靠性驗(yàn)證,方可保障智能駕駛的行駛安全。本期“專家訪談”欄目,我們邀請(qǐng)到廣電計(jì)量集成電路測(cè)試與分析事業(yè)部資深技術(shù)專家王河清博士,探討智能駕駛中傳感系統(tǒng)面臨的安全性挑戰(zhàn)以及如何助力提升系統(tǒng)及產(chǎn)品測(cè)試效率和設(shè)計(jì)質(zhì)量等問(wèn)題。1139瀏覽量 -
技術(shù)干貨 | AI浪潮下的光模塊可靠性2024-08-13 09:37
人工智能(AI)技術(shù)的快速發(fā)展對(duì)數(shù)據(jù)處理和傳輸提出了前所未有的挑戰(zhàn)。在深度學(xué)習(xí)、自然語(yǔ)言處理和計(jì)算機(jī)視覺(jué)等AI應(yīng)用中,訓(xùn)練和學(xué)習(xí)需要巨大的數(shù)據(jù)量傳遞和交互。2023年GPT-4模型所需訓(xùn)練的參數(shù)量有1.8萬(wàn)億,要完成這么大的數(shù)據(jù)量的運(yùn)算,需要上萬(wàn)個(gè)GPU同時(shí)工作。如此龐大的數(shù)據(jù)傳輸對(duì)于傳統(tǒng)銅纜而言是個(gè)巨大的挑戰(zhàn),因此光模塊在數(shù)據(jù)傳輸中發(fā)揮著非常重要的作用。光 -
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車規(guī)級(jí) | 功率半導(dǎo)體模塊封裝可靠性試驗(yàn)-熱阻測(cè)試2024-07-05 10:22
在因?yàn)楣β势骷嚓P(guān)原因所引起電子系統(tǒng)失效的原因中,有超過(guò)50%是因?yàn)闇囟冗^(guò)高導(dǎo)致的熱失效。結(jié)溫過(guò)高會(huì)導(dǎo)致電子系統(tǒng)性能降低、可靠性降低、壽命降低、引發(fā)器件結(jié)構(gòu)內(nèi)部的缺陷。隨著器件小尺寸化、高集成化的趨勢(shì),有限的空間承載的功率密度越來(lái)越大,對(duì)熱性能測(cè)試的研究成為了行業(yè)的熱門(mén)議題。因此,熱阻測(cè)試對(duì)功率器件試可靠性驗(yàn)證及對(duì)汽車電子系統(tǒng)保障中起著關(guān)鍵性的作用。