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廣電計量

廣電計量一家全國化、綜合性的國有第三方檢測機構(gòu)。專注于為客戶提供計量、檢測、認證以及技術(shù)咨詢與培訓等專業(yè)技術(shù)服務(wù)。

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專業(yè)實驗室檢測-元器件篩選-可靠性評估

型號： 電子元器件篩選
品牌： GRGTEST(廣電計量)

--- 產(chǎn)品參數(shù) ---

  • 服務(wù)區(qū)域 全國
  • 發(fā)票 可提供
  • 報告類型 中英文電子/紙質(zhì)報告
  • 服務(wù)資質(zhì) CNAS

--- 產(chǎn)品詳情 ---

服務(wù)范圍

半導體集成電路：時基電路、總線收發(fā)器、緩沖器、驅(qū)動器、電平轉(zhuǎn)換器、 門器件、觸發(fā)器、LVDS線收發(fā)器、運算放大器、電壓調(diào)整器、電壓?較器、 電源類芯片（穩(wěn)壓器、開關(guān)電源轉(zhuǎn)換器、電源監(jiān)控器、電源管理等）、數(shù)模轉(zhuǎn)換器（A/D、D/A、SRD）、存儲器、可編程邏輯器件、單片機、微處理器、 控制器等；

半導體分立器件：二極管、三極管、場效應(yīng)管、達林頓陣列、半導體光電子器件等；

電阻器；電容器；磁珠；電感器；變壓器；晶體振蕩器；晶體諧振器；繼電器；電連接器；開關(guān)及?板元件；濾波器；電源模塊等。

檢測標準

●GJB128A-1997半導體分立器件試驗方法

●GJB360A-1996電子及電氣元件試驗方法

●GJB548B-2005微電子器件試驗方法和程序

●QJ10003—2008進口元器件篩選指南

●MIL-STD-750D半導體分立器件試驗方法

●MIL-STD-883G微電子器件試驗方法和程序

檢測項目

●外觀檢查；

●電性能測試：常溫測試/高溫測試/低溫測試；

●環(huán)境/機械應(yīng)力檢測：振動、低溫貯存、高溫貯存、溫度循環(huán)、溫度沖擊、恒定加速度或跌落、密封（粗檢漏、細檢漏 ）、粒子碰撞噪聲檢測（PIND）；

●高溫動態(tài)老煉、高溫反偏老煉、功率老煉、恒流老煉、間歇壽命老煉；

●芯片超聲檢測；

●X射線照相。

相關(guān)資質(zhì)

CNAS

服務(wù)背景

電子元器件是裝備的關(guān)鍵原材料，元器件篩選是提升電子裝備可靠性的關(guān)鍵手段，嚴格執(zhí)行型號的三級篩選管理規(guī)定，從源頭上保證裝備的可靠性和質(zhì)量一致性是電子裝備批產(chǎn)的關(guān)鍵。

我們的優(yōu)勢

廣電計量可滿足各等級元器件篩選方案設(shè)計和檢測需求，提供電子元器件測試、評估、質(zhì)量保證的成套方案，幫助企業(yè)及時發(fā)現(xiàn)和剔除有缺陷、易發(fā)生早期失效的元器件，提高電子元器件的使用可靠性，保障和支撐電子裝備可靠性提升。

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