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廣電計量

廣電計量一家全國化、綜合性的國有第三方檢測機構(gòu)。專注于為客戶提供計量、檢測、認證以及技術(shù)咨詢與培訓(xùn)等專業(yè)技術(shù)服務(wù)。

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功率半導(dǎo)體模塊,封裝可靠性試驗-功率循環(huán)測試

型號： 功率循環(huán)測試
品牌： GRGTEST(廣電計量)

--- 產(chǎn)品參數(shù) ---

  • 服務(wù)區(qū)域 全國
  • 服務(wù)資質(zhì) CNAS
  • 發(fā)票 可提供
  • 報告類型 中英文電子/紙質(zhì)報告

--- 產(chǎn)品詳情 ---

服務(wù)內(nèi)容

廣電計量功率循環(huán)測試通過負載電流加熱和開關(guān)斷動作，來模擬器件工作中的結(jié)溫波動，通過一定程度的加速老化，以提前暴露器件封裝的薄弱點，評估封裝材料的熱膨脹系數(shù)差異對器件壽命的影響，是考核功率器件封裝可靠性最重要的可靠性測試，也是進行器件壽命模型建立和壽命評估的根本。

服務(wù)范圍

車規(guī)級功率器件模塊及基于分立器件的等效特殊設(shè)計產(chǎn)品。

檢測標準

● DINENISO/IEC17025：General Requirements for the Competenceof Testing and Calibration Laboratories

● IEC 60747系列：Semiconductor Devices, Discrete Devices

● IEC 60749系列：Semiconductor Devices ? Mechanical and Climatic  Test Methods

● DIN EN 60664系列：Insulation Coordination for Equipment Within Low-Voltage Systems

● DIN EN 60069系列：Environmental testing

● JESD22-A119:2009：Low Temperature Storage Life

檢測項目

根據(jù)負載電流加熱的時長不同，功率循環(huán)測試分為秒級功率循環(huán)（PCsec）， 分鐘級功率循環(huán)（PCmin），如電力電子模塊AQG324測試標準規(guī)定，不同的負載電流加熱時長，考察的封裝體對象也不同。如下表：

測試項目

加熱時長

考察對象

秒級功率循環(huán)（PCsec）

Ton＜5s

靠近芯片附近的互連層
(chip-near interconnection)

分鐘級功率循環(huán)（PCmin）

Ton＞15s

離芯片互連較遠的互連層
(chip-remote interconnection)

相關(guān)資質(zhì)

CNAS

測試周期

常規(guī)5-7個工作日

服務(wù)背景

功率循環(huán)測試被稱為考核功率器件封裝可靠性最重要的實驗，尤其是 SiC MOSFET 功率器件的快速發(fā)展，是近幾年的研究熱點。與其他可靠性測試不同的是，功率循環(huán)測試原理雖然簡單，但測試技術(shù)、測試方法和數(shù)據(jù)處理卻涉及到半導(dǎo)體物理、電磁學(xué)、傳熱學(xué)、結(jié)構(gòu)力學(xué)和信號分析等多學(xué)科交叉，處理不當(dāng)將得到錯誤的結(jié)論。

我們的優(yōu)勢

廣電計量在Si基功率半導(dǎo)體模塊、SiC模塊等相關(guān)測試有著豐富的實戰(zhàn)經(jīng)驗，是SiC領(lǐng)域是國內(nèi)技術(shù)能力最全面、知名度最廣的第三方檢測機構(gòu)之一，為眾多半導(dǎo)體廠家提供模塊的規(guī)格書參數(shù)測試、競品分析、環(huán)境可靠性、壽命耐久和失效分析等一站式測試服務(wù)。

在功率循環(huán)測試方向，廣電計量引進多臺西門子功率循環(huán)測試機臺Power Tester1800A/1500A，同時還有部分國產(chǎn)高可靠性功率循環(huán)測試機臺，能提供水冷/水乙二醇混合冷卻/油冷等冷卻方式，并且滿足20℃~125℃的底溫要求，產(chǎn)能充足。

手法，可以協(xié)助廠家進行AQG324的認證檢測；擁有經(jīng)驗豐富的材料及電性能可靠性專家，可以針對功率半導(dǎo)體進行全方位的失效分析及可靠性驗證方案的設(shè)計與執(zhí)行。

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