企業(yè)號(hào)介紹

全部
  • 全部
  • 產(chǎn)品
  • 方案
  • 文章
  • 資料
  • 企業(yè)

廣電計(jì)量

廣電計(jì)量一家全國(guó)化、綜合性的國(guó)有第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)。專注于為客戶提供計(jì)量、檢測(cè)、認(rèn)證以及技術(shù)咨詢與培訓(xùn)等專業(yè)技術(shù)服務(wù)。

174 內(nèi)容數(shù) 14w+ 瀏覽量 16 粉絲

AQG324功率器件試驗(yàn)認(rèn)證,車規(guī)級(jí)分立器件測(cè)試

型號(hào): AQG324功率器件試驗(yàn)認(rèn)證
品牌: GRGTEST(廣電計(jì)量)

--- 產(chǎn)品參數(shù) ---

  • 服務(wù)區(qū)域 全國(guó)
  • 服務(wù)資質(zhì) CNAS
  • 加急服務(wù) 可提供
  • 報(bào)告類型 中英文電子/紙質(zhì)報(bào)告

--- 產(chǎn)品詳情 ---

服務(wù)范圍

功率器件模塊及基于分?器件的等效特殊設(shè)計(jì)產(chǎn)品

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

l  DINENISO/IEC17025:General Requirements for the Competenceof Testing and Calibration Laboratories

l  IEC 60747系列:Semiconductor Devices, Discrete Devices

l  IEC 60749系列:Semiconductor Devices ? Mechanical and Climatic  Test Methods

l  DIN EN 60664系列:Insulation Coordination for Equipment Within Low-Voltage Systems

l  DIN EN 60069系列:Environmental testing

l  JESD22-A119:2009:Low Temperature Storage Life

檢測(cè)項(xiàng)目

試驗(yàn)類型

試驗(yàn)項(xiàng)?

模塊檢測(cè)

寄?雜散電感、熱阻值、短路耐量、絕緣測(cè)試、機(jī)械參數(shù)檢測(cè)

模塊特性測(cè)試

寄?雜散電感、熱阻值、短路耐量、絕緣測(cè)試、機(jī)械參數(shù)檢測(cè)

環(huán)境測(cè)試

熱沖擊、機(jī)械振動(dòng)、機(jī)械沖擊

壽命測(cè)試

功率循環(huán)(PCsec)、功率循環(huán)(PCmin)、?溫存儲(chǔ)、低溫存儲(chǔ)、?溫反偏、?溫柵偏置、?溫?濕反偏

相關(guān)資質(zhì)

CNAS

服務(wù)背景

 

功率模塊作為新能源汽?動(dòng)?、電源系統(tǒng)中的核?器件迎來(lái)了??發(fā)展期,?前中?端功率模塊市場(chǎng)仍處于外資壟斷的格局,國(guó)產(chǎn)功率模塊技術(shù)及性能還有待進(jìn)?步完善,并且由于汽?級(jí)功率模塊標(biāo)準(zhǔn)?期缺失,國(guó)產(chǎn)模塊可靠性驗(yàn)證未能得到國(guó)際認(rèn)可。

我們的優(yōu)勢(shì)

AQG324由ECPE”汽?電?電?模塊認(rèn)證”?作組頒布,其制定了完善的?規(guī)級(jí)功率模塊可靠性試驗(yàn),可以有效驗(yàn)證產(chǎn)品可靠性,指導(dǎo)?商更 深?了解其產(chǎn)品可靠性能,從?加快產(chǎn)品開(kāi)發(fā)速度,優(yōu)化?藝流程。

?電計(jì)量專家團(tuán)隊(duì)深?解讀AQG324及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn),建?功率模塊可靠性驗(yàn)證技術(shù)能?,可以為功率半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)上下游企業(yè)提供具有權(quán)威性的AQG324檢測(cè)驗(yàn)證報(bào)告。

為你推薦

  • 軌道交通電子元器件失效分析2024-03-15 17:34

    產(chǎn)品型號(hào):電子元器件失效分析 服務(wù)區(qū)域:全國(guó) 服務(wù)資質(zhì):CNAS 發(fā)票:可提供 加急服務(wù):可提供 報(bào)告類型:中英文電子/紙質(zhì)報(bào)告
  • 板卡壽命評(píng)估與可靠性提升2024-03-15 17:27

    產(chǎn)品型號(hào):板卡可靠性提升 服務(wù)區(qū)域:全國(guó) 服務(wù)資質(zhì):CNAS 發(fā)票:可提供 報(bào)告類型:中英文電子/紙質(zhì)報(bào)告 加急服務(wù):可提供
  • 動(dòng)車壽命評(píng)估與可靠性提升2024-03-15 16:46

    產(chǎn)品型號(hào):可靠性提升 服務(wù)區(qū)域:全國(guó) 服務(wù)資質(zhì):CNAS 發(fā)票:可提供 報(bào)告類型:中英文電子/紙質(zhì)報(bào)告 加急服務(wù):可提供
  • 光、電、熱、機(jī)械全參數(shù)測(cè)試2024-03-15 11:45

    產(chǎn)品型號(hào):光、電、熱、機(jī)械 服務(wù)區(qū)域:全國(guó) 服務(wù)資質(zhì):CNAS 報(bào)告類型:中英文電子/紙質(zhì)報(bào)告 發(fā)票:可提供 加急服務(wù):可提供
  • led失效分析-重點(diǎn)失效分析CNAS,CMA認(rèn)證實(shí)驗(yàn)室2024-03-15 09:23

    產(chǎn)品型號(hào):LED失效分析 服務(wù)區(qū)域:全國(guó) 服務(wù)資質(zhì):CNAS 發(fā)票:可提供 加急服務(wù):可提供 報(bào)告類型:中英文電子/紙質(zhì)報(bào)告
  • 光電器件 電磁繼電器電性能測(cè)試2024-03-15 09:13

    產(chǎn)品型號(hào):電磁繼電器電性能測(cè)試 服務(wù)區(qū)域:全國(guó) 服務(wù)資質(zhì):CNAS 服務(wù)周期:常規(guī)5-7個(gè)工作日 發(fā)票:可提供 加急服務(wù):可提供
  • AD/DA轉(zhuǎn)換器電性能測(cè)試2024-03-15 08:54

    產(chǎn)品型號(hào):AD/DA轉(zhuǎn)換器電性能 服務(wù)區(qū)域:全國(guó) 服務(wù)資質(zhì):CMA、CNAS 服務(wù)周期:開(kāi)發(fā)周期:4-8周;常規(guī)測(cè)試周期:3-5個(gè)工作日 發(fā)票:可提供 加急服務(wù):可提供
  • 三端穩(wěn)壓器電氣性能測(cè)試,專業(yè)第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)2024-03-15 08:44

    產(chǎn)品型號(hào):三端穩(wěn)壓器電性能測(cè)試 服務(wù)區(qū)域:全國(guó) 服務(wù)資質(zhì):CMA、CNAS 服務(wù)周期:常規(guī)5-7個(gè)工作日 加急服務(wù):可提供 發(fā)票:可提供
  • 大規(guī)模集成電路芯片級(jí)試驗(yàn)驗(yàn)證可靠性評(píng)價(jià)評(píng)估2024-03-14 16:28

    產(chǎn)品型號(hào):芯片級(jí)試驗(yàn)驗(yàn)證 服務(wù)區(qū)域:全國(guó) 服務(wù)資質(zhì):CNAS 發(fā)票:可提供 加急服務(wù):可提供 報(bào)告類型:中英文電子/紙質(zhì)報(bào)告
  • 5G大規(guī)模集成電路芯片失效分析2024-03-14 16:12

    產(chǎn)品型號(hào):大規(guī)模集成電路芯片 服務(wù)區(qū)域:全國(guó) 服務(wù)資質(zhì):CNAS 加急服務(wù):可提供 發(fā)票:可提供 報(bào)告類型:中英文電子/紙質(zhì)報(bào)告
  • 廣電計(jì)量|功率場(chǎng)效應(yīng)管過(guò)壓失效機(jī)理及典型特征分析2024-09-18 10:55

    失效分析最常觀察到的現(xiàn)象是EOS過(guò)電失效,分為過(guò)壓失效及過(guò)流失效的兩種失效模式。對(duì)于以功率器件為代表的EOS過(guò)電失效樣品,其失效表征往往表現(xiàn)為芯片的大面積熔融,導(dǎo)致難以進(jìn)一步判定其失效模式。本文以常規(guī)MOS、IGBT場(chǎng)效應(yīng)管為例,從芯片內(nèi)部結(jié)構(gòu)進(jìn)行分析和明確過(guò)壓擊穿容易出現(xiàn)的失效位置及機(jī)理解釋。
  • 新技術(shù)丨廣電計(jì)量成功開(kāi)發(fā)系統(tǒng)級(jí)電磁脈沖防護(hù)仿真技術(shù)2024-09-11 11:01

    系統(tǒng)級(jí)電磁脈沖效應(yīng)是電磁脈沖對(duì)系統(tǒng)內(nèi)部電子設(shè)備的影響和作用,這種效應(yīng)能夠通過(guò)各種途徑耦合到系統(tǒng)內(nèi)部,對(duì)電子設(shè)備造成威脅。為提升研究系統(tǒng)級(jí)電磁脈沖效應(yīng)及其防護(hù)技術(shù)效率,增強(qiáng)各行業(yè)系統(tǒng)抗電磁脈沖能力,廣電計(jì)量電磁安全工程研究所成立科研專項(xiàng)組開(kāi)展系統(tǒng)級(jí)電磁脈沖防護(hù)仿真技術(shù)研究。
  • Robotaxi發(fā)展再加速,智能駕駛傳感領(lǐng)域檢測(cè)迎來(lái)全新挑戰(zhàn)2024-08-23 11:01

    高階智駕的發(fā)展是無(wú)人駕駛系統(tǒng)在技術(shù)層面落地的基石,而感知是智能駕駛的先決條件,車輛的傳感器需要通過(guò)嚴(yán)苛的可靠性驗(yàn)證,方可保障智能駕駛的行駛安全。本期“專家訪談”欄目,我們邀請(qǐng)到廣電計(jì)量集成電路測(cè)試與分析事業(yè)部資深技術(shù)專家王河清博士,探討智能駕駛中傳感系統(tǒng)面臨的安全性挑戰(zhàn)以及如何助力提升系統(tǒng)及產(chǎn)品測(cè)試效率和設(shè)計(jì)質(zhì)量等問(wèn)題。
  • 技術(shù)干貨 | AI浪潮下的光模塊可靠性2024-08-13 09:37

    人工智能(AI)技術(shù)的快速發(fā)展對(duì)數(shù)據(jù)處理和傳輸提出了前所未有的挑戰(zhàn)。在深度學(xué)習(xí)、自然語(yǔ)言處理和計(jì)算機(jī)視覺(jué)等AI應(yīng)用中,訓(xùn)練和學(xué)習(xí)需要巨大的數(shù)據(jù)量傳遞和交互。2023年GPT-4模型所需訓(xùn)練的參數(shù)量有1.8萬(wàn)億,要完成這么大的數(shù)據(jù)量的運(yùn)算,需要上萬(wàn)個(gè)GPU同時(shí)工作。如此龐大的數(shù)據(jù)傳輸對(duì)于傳統(tǒng)銅纜而言是個(gè)巨大的挑戰(zhàn),因此光模塊在數(shù)據(jù)傳輸中發(fā)揮著非常重要的作用。光
    561瀏覽量
  • 新型儲(chǔ)能全產(chǎn)業(yè)鏈、全生命周期質(zhì)量提升解決方案2024-07-16 13:20

    新型儲(chǔ)能產(chǎn)品全產(chǎn)業(yè)鏈、全生命周期的可靠性質(zhì)量提升,保障儲(chǔ)能系統(tǒng)的高安全、高可靠性、長(zhǎng)壽命,對(duì)國(guó)家能源安全新戰(zhàn)略推進(jìn)落實(shí)、實(shí)現(xiàn)綠色可持續(xù)發(fā)展具有重要意義。
  • 車規(guī)級(jí) | 功率半導(dǎo)體模塊封裝可靠性試驗(yàn)-熱阻測(cè)試2024-07-05 10:22

    在因?yàn)楣β势骷嚓P(guān)原因所引起電子系統(tǒng)失效的原因中,有超過(guò)50%是因?yàn)闇囟冗^(guò)高導(dǎo)致的熱失效。結(jié)溫過(guò)高會(huì)導(dǎo)致電子系統(tǒng)性能降低、可靠性降低、壽命降低、引發(fā)器件結(jié)構(gòu)內(nèi)部的缺陷。隨著器件小尺寸化、高集成化的趨勢(shì),有限的空間承載的功率密度越來(lái)越大,對(duì)熱性能測(cè)試的研究成為了行業(yè)的熱門議題。因此,熱阻測(cè)試對(duì)功率器件試可靠性驗(yàn)證及對(duì)汽車電子系統(tǒng)保障中起著關(guān)鍵性的作用。
  • 技術(shù)分享 | AEC-Q007中組件焊點(diǎn)開(kāi)裂原因分析及相關(guān)車規(guī)標(biāo)準(zhǔn)介紹2024-06-11 16:06

    本文系統(tǒng)梳理了焊點(diǎn)開(kāi)裂典型失效模式、失效機(jī)理,并整理了AEC-Q007及業(yè)內(nèi)日系、德系等主機(jī)廠對(duì)應(yīng)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)。
  • 合作案例|鈞聯(lián)電子自主研發(fā)的SiC功率模塊順利通過(guò)AQG-324認(rèn)證2024-05-17 14:45

    2024年3月,合肥鈞聯(lián)汽車電子有限公司(以下簡(jiǎn)稱“鈞聯(lián)電子”)自主研發(fā)的SiC功率模塊(型號(hào)JLBH800N120SAM)順利通過(guò)AQG-324車規(guī)級(jí)功率模塊可靠性測(cè)試認(rèn)證,廣電計(jì)量提供本次AQG324車規(guī)級(jí)可靠性測(cè)試服務(wù)方案。廣電計(jì)量出具的AQG-324報(bào)告廣電計(jì)量合肥總經(jīng)理王繼忠為鈞聯(lián)電子總經(jīng)理陳兆銀頒發(fā)證AQG-324測(cè)試認(rèn)證內(nèi)容包含模塊測(cè)試、模塊特
  • 功率器件環(huán)境可靠性測(cè)試的加速老化物理模型2024-04-23 11:31

    高溫柵偏(HighTemperatureGateBias,HTGB)、高溫反偏(HighTemperatureReverseBias,HTRB)、高溫高濕反偏(HighHumidityHighTemperatureReverseBias,H3TRB)等環(huán)境可靠性測(cè)試是進(jìn)行功率器件壽命評(píng)估所必備的試驗(yàn)。由于不同標(biāo)準(zhǔn)下的試驗(yàn)條件并不相同,因而理解上述環(huán)境可靠性測(cè)
  • 技術(shù)分享 | ISO 26262中的安全分析之FMEA2024-04-15 11:32

    本期內(nèi)容以系統(tǒng)架構(gòu)設(shè)計(jì)為例,講解如何在ISO26262產(chǎn)品開(kāi)發(fā)過(guò)程中實(shí)施安全分析,半導(dǎo)體層面的芯片設(shè)計(jì)也可以參考本文相關(guān)內(nèi)容執(zhí)行安全分析。安全分析方法ISO26262要求根據(jù)不同ASIL等級(jí)組合地使用“演繹分析”和“歸納分析”,如表1所示:表1:安全分析方法根據(jù)表1所列信息,開(kāi)發(fā)團(tuán)隊(duì)會(huì)常常誤認(rèn)為ASILB是不需要執(zhí)行“演繹分析”。事實(shí)上,ISO26262的要