資料介紹
當(dāng)插卡(或接口板)在主板帶電的情況下插入或拔出時(shí),由于插卡上濾波電容的放電作
用會(huì)對(duì)主電源呈現(xiàn)低阻狀態(tài),造成主電源損壞。圖一所示電路能夠在可編程的開(kāi)啟時(shí)間內(nèi)對(duì)負(fù)載電流加以限制、調(diào)節(jié),保證系統(tǒng)在熱插拔過(guò)程中安全、可靠工作。正常工作狀態(tài)下,MAX4370內(nèi)部的兩個(gè)比較器(低速/高速比較器)提供雙速/雙電平短路和過(guò)流保護(hù),電源電壓范圍+3V至+12V,內(nèi)置電荷泵控制器為外部N 溝道MOSFET 功率開(kāi)關(guān)提供柵極驅(qū)動(dòng)。檢測(cè)到系統(tǒng)故障時(shí),MAX4370將處于鎖存狀態(tài)。
開(kāi)啟狀態(tài):系統(tǒng)上電時(shí),MAX4370 處于開(kāi)啟狀態(tài),開(kāi)啟時(shí)間由外接電容CTIM 決定,內(nèi)部低速比較器不工作,通過(guò)以下兩個(gè)途徑為系統(tǒng)提供電流限制:
1、 控制外部的MOSFET柵極驅(qū)動(dòng)電壓,使供給負(fù)載的電流緩慢上升。
2、 通過(guò)調(diào)整外部限流電阻的電壓限制流入負(fù)載的電流。
當(dāng)高速比較器檢測(cè)到過(guò)流時(shí),柵級(jí)電壓以固定的80μA 電流通過(guò)限流電阻放電,從而有效控制了上電期間的導(dǎo)通電流。
正常工作模式:開(kāi)啟過(guò)程結(jié)束后,MAX4370 進(jìn)入正常工作模式,利用兩個(gè)比較器以不同的檢測(cè)門(mén)限(雙電平)和響應(yīng)時(shí)間(雙速)檢測(cè)負(fù)載電流,一旦檢測(cè)到故障,則斷開(kāi)MOSFET。檢測(cè)過(guò)程為:
1、 低速比較器的的響應(yīng)時(shí)間由外接電容CSPD 確定(tCSPD(ms)=0.2 x CSPD(nF)),CSPD 引腳浮空時(shí),響應(yīng)時(shí)間為默認(rèn)值20μs;檢測(cè)門(mén)限電壓為固定的50mV;低速比較器對(duì)瞬態(tài)小電流沒(méi)有響應(yīng),當(dāng)檢測(cè)到過(guò)流時(shí),MOSFET柵極被放電,而后關(guān)斷MOSFET。
2、 高速比較器的響應(yīng)時(shí)間和檢測(cè)門(mén)限電壓均為固定值,門(mén)限電壓為200mV,當(dāng)檢測(cè)到故障時(shí),立即斷開(kāi)MOSFET。
出現(xiàn)故障時(shí),STAT 引腳輸出低電平,MAX4370 處于鎖存狀態(tài),要清除鎖存狀態(tài)需在ON 引腳輸入一負(fù)脈沖,脈沖寬度應(yīng)大于20μs。
應(yīng)用:
1、 選擇N溝道MOSFET:N溝道MOSFET的額定電流應(yīng)滿(mǎn)足負(fù)載電流的要求;在滿(mǎn)負(fù)荷范圍內(nèi),MOSFET 的導(dǎo)通電阻RDS(ON)應(yīng)足夠小,以降低柵漏間的壓差減小功耗,當(dāng)負(fù)載電流為1A時(shí),可選用IR公司的IRLMS1503。參考表一。
用會(huì)對(duì)主電源呈現(xiàn)低阻狀態(tài),造成主電源損壞。圖一所示電路能夠在可編程的開(kāi)啟時(shí)間內(nèi)對(duì)負(fù)載電流加以限制、調(diào)節(jié),保證系統(tǒng)在熱插拔過(guò)程中安全、可靠工作。正常工作狀態(tài)下,MAX4370內(nèi)部的兩個(gè)比較器(低速/高速比較器)提供雙速/雙電平短路和過(guò)流保護(hù),電源電壓范圍+3V至+12V,內(nèi)置電荷泵控制器為外部N 溝道MOSFET 功率開(kāi)關(guān)提供柵極驅(qū)動(dòng)。檢測(cè)到系統(tǒng)故障時(shí),MAX4370將處于鎖存狀態(tài)。
開(kāi)啟狀態(tài):系統(tǒng)上電時(shí),MAX4370 處于開(kāi)啟狀態(tài),開(kāi)啟時(shí)間由外接電容CTIM 決定,內(nèi)部低速比較器不工作,通過(guò)以下兩個(gè)途徑為系統(tǒng)提供電流限制:
1、 控制外部的MOSFET柵極驅(qū)動(dòng)電壓,使供給負(fù)載的電流緩慢上升。
2、 通過(guò)調(diào)整外部限流電阻的電壓限制流入負(fù)載的電流。
當(dāng)高速比較器檢測(cè)到過(guò)流時(shí),柵級(jí)電壓以固定的80μA 電流通過(guò)限流電阻放電,從而有效控制了上電期間的導(dǎo)通電流。
正常工作模式:開(kāi)啟過(guò)程結(jié)束后,MAX4370 進(jìn)入正常工作模式,利用兩個(gè)比較器以不同的檢測(cè)門(mén)限(雙電平)和響應(yīng)時(shí)間(雙速)檢測(cè)負(fù)載電流,一旦檢測(cè)到故障,則斷開(kāi)MOSFET。檢測(cè)過(guò)程為:
1、 低速比較器的的響應(yīng)時(shí)間由外接電容CSPD 確定(tCSPD(ms)=0.2 x CSPD(nF)),CSPD 引腳浮空時(shí),響應(yīng)時(shí)間為默認(rèn)值20μs;檢測(cè)門(mén)限電壓為固定的50mV;低速比較器對(duì)瞬態(tài)小電流沒(méi)有響應(yīng),當(dāng)檢測(cè)到過(guò)流時(shí),MOSFET柵極被放電,而后關(guān)斷MOSFET。
2、 高速比較器的響應(yīng)時(shí)間和檢測(cè)門(mén)限電壓均為固定值,門(mén)限電壓為200mV,當(dāng)檢測(cè)到故障時(shí),立即斷開(kāi)MOSFET。
出現(xiàn)故障時(shí),STAT 引腳輸出低電平,MAX4370 處于鎖存狀態(tài),要清除鎖存狀態(tài)需在ON 引腳輸入一負(fù)脈沖,脈沖寬度應(yīng)大于20μs。
應(yīng)用:
1、 選擇N溝道MOSFET:N溝道MOSFET的額定電流應(yīng)滿(mǎn)足負(fù)載電流的要求;在滿(mǎn)負(fù)荷范圍內(nèi),MOSFET 的導(dǎo)通電阻RDS(ON)應(yīng)足夠小,以降低柵漏間的壓差減小功耗,當(dāng)負(fù)載電流為1A時(shí),可選用IR公司的IRLMS1503。參考表一。
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