資料介紹
高層次設(shè)計是一種“概念驅(qū)動式”設(shè)計,設(shè)計人員無須通過門級原理圖描述電路,而是針對設(shè)計目標(biāo)進(jìn)行功能描述。由于擺脫了電路細(xì)節(jié)的束縛,設(shè)計人員可以把精力集中于創(chuàng)造性的方案與概念的構(gòu)思上,一且這些概念構(gòu)思以高層次描述的形式輸人計算機(jī),EDA系統(tǒng)就能以規(guī)則驅(qū)動的方式自動完成整個設(shè)計。這樣,新的概念就能迅速有效地成為產(chǎn)品,大大縮短了,產(chǎn)品的研制周期。不僅如此,高層次設(shè)計只是定義系統(tǒng)的行為特性,可以不涉及實現(xiàn)工藝,因此還可以在廠家綜合庫的支持下,利用綜合優(yōu)化工 具將高層次描述 轉(zhuǎn)換成針對某種工藝優(yōu)化的網(wǎng)絡(luò)表,使工藝轉(zhuǎn)化變得輕而易舉。首先,工程師按照“自頂向下”的設(shè)計方法進(jìn)行系統(tǒng)劃分。其次,輸人VHDL代碼,這是高層次設(shè)計中最為普遍的輸人方式。此外,還可以采用圖形輸人方式(框圖,狀態(tài)圖等)這種輸人方式具有直觀、容易理解的優(yōu)點。第三步是,將以上的設(shè)計輸人編譯成標(biāo)準(zhǔn)的VHDL文件。第四步是進(jìn)行代碼級的功能仿真,主要是檢驗系統(tǒng)功能設(shè)計的正確性。這一步驟適用大型設(shè)計,因為對于大型設(shè)計來說,在綜合前對派代碼仿真,就可以大大減少設(shè)計重復(fù)的次數(shù)和時間。一般情況下,這一仿真步驟可略去。第五步是,利用綜合器對VHDL源代碼進(jìn)行綜合優(yōu)化處理,生成門級描述的網(wǎng)絡(luò)表文件,這是將高層次描述轉(zhuǎn)化為硬件電路的關(guān)鍵步驟。綜合優(yōu)化是針對ASIC芯片供應(yīng)商的某一產(chǎn)品系列進(jìn)行的,所以綜合的過程要在相應(yīng)的廠家綜合庫支持下才能完成。第六步是,利用產(chǎn)生的網(wǎng)絡(luò)表文件進(jìn)行適配前的時序仿真,仿真過程不涉及具體器件的硬件特性,是較為粗略的。一般的設(shè)計,也可略去這一仿真步驟。第七步是利用適配器將綜合后的網(wǎng)絡(luò)表文件針對某一具體的目標(biāo)器件進(jìn)行邏輯映射操作,包括底層器件配置、邏輯分割、邏輯優(yōu)化、布局布線。第八步是在適配完成后,產(chǎn)生多項設(shè)計結(jié)果:(1)適配報告,包括芯片內(nèi)部資源利用情況,設(shè)計的布爾方程描述情況等;(2)適配后的仿真模型;(3)器件編程文件。根據(jù)適配后的仿真模型,可以進(jìn)行適配后的時序仿真,因為已經(jīng)得到器件的實際硬件特性(如時延特性\所以仿真結(jié)果能比較精確地預(yù)期未來芯片的實際性能。如果仿真結(jié)果達(dá)不到設(shè)計要求,就需要修改VHDL源代碼或選擇不同速度和品質(zhì)的器件,直至滿足設(shè)計要求;最后一步是將適配器產(chǎn)生的器件編程文件通過編程器或下載電纜載人到目標(biāo)芯片FPGA或CPLD中。如果是大批量產(chǎn)品開發(fā),則通過更換相應(yīng)的廠瓣合庫,輕易地轉(zhuǎn)由ASIC形式實現(xiàn)。
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