用內(nèi)建自測試(BIST)方法測試IP核

??????? 近幾年基于預定制模塊IP(Intellectual Property)核的SoC(片上系統(tǒng))技術得到快速發(fā)展，各種功能的IP 核可以集成在一塊芯片上，從而使得SoC 的測試、IP 核的驗證以及IP 核相關性的測試變得非常困難，傳統(tǒng)的測試和驗證方法難以勝任。本文通過曼徹斯特編碼譯碼器IP 核的設計、測試，介紹了廣泛應用于IP 核測試的方法—內(nèi)建自測試(Built-In Self Test )方法，強調(diào)了面向IP 測試的IP 核設計有關方法。
關鍵字：IP 核，內(nèi)建自測試BIST，測試外殼（wrapper）。
???????? 為了盡快將專用電路投放市場，SoC 片上系統(tǒng)設計制造中普遍采用IP(Intellectual
Property)核技術，由各個IP 核組成高度集成的SoC 片上系統(tǒng)。由于集成的數(shù)字電路中僅有最頂層的輸入輸出引腳與外界相連，IP 核內(nèi)部邏輯信號、IP 核模塊之間的連接信號以及電路中的競爭冒險的測試無從下手，這些都給SoC 以及IP 核的測試帶來了挑戰(zhàn)。隨著片上系統(tǒng)設計的日趨復雜化，設計的測試驗證工作越發(fā)繁重，使用傳統(tǒng)的基于模擬的方法對其進行驗證已經(jīng)不能滿足設計需要?？梢哉fSoC 以及IP 核的測試驗證成為了SoC 技術發(fā)展的瓶頸，人們正在尋求其他的設計驗證技術。其中較為理想的測試方法，就是在核的設計同時考慮并采取相關的測試設計，方便核的后端測試。本文以曼徹斯特編碼器、譯碼器IP 核的測試設計為例，討論了IP 核的內(nèi)建自測試（BIST）方法。