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標(biāo)簽 > 電性能測(cè)試
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普賽斯儀表 | 光電探測(cè)器電性能參數(shù)測(cè)試解決方案
光電探測(cè)器光電測(cè)試光電探測(cè)器一般需要先對(duì)晶圓進(jìn)行測(cè)試,封裝后再對(duì)器件進(jìn)行二次測(cè)試,完成最終的特性分析和分揀操作,光電探測(cè)器在工作時(shí),需要施加反向偏置電壓...
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