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標(biāo)簽 > 量測(cè)技術(shù)
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LED材料特性檢測(cè)技術(shù)——PL技術(shù)
PL為一快速、非接觸性、非破壞性之可量測(cè)樣品空間分布的量測(cè)技術(shù),無論在產(chǎn)品的量產(chǎn)和開發(fā)上都有很好應(yīng)用。
2012-07-06 標(biāo)簽:LED量測(cè)技術(shù) 3505 0
在玻璃的離線檢驗(yàn)環(huán)節(jié),質(zhì)檢工程師會(huì)使用專業(yè)的光學(xué)儀器測(cè)量玻璃片在不同位置的厚度,對(duì)厚度進(jìn)行對(duì)比。如果不同區(qū)域的厚度差值超過一定范圍,就會(huì)影響電子玻璃的成...
2020-08-24 標(biāo)簽:熱電偶OLED量測(cè)技術(shù) 1.1萬 0
超越CMOS量測(cè)技術(shù)在持續(xù)發(fā)展
目前納米器件被認(rèn)為有可能替代常規(guī)半導(dǎo)體,其主要問題是它的接觸問題。研究的材料和結(jié)構(gòu)顯然超出了CMOS范圍,如果要繼續(xù)滿足對(duì)器件性能不斷提高的要求,量測(cè)技...
2012-04-27 標(biāo)簽:CMOS量測(cè)技術(shù) 651 0
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