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標(biāo)簽 > EMI測(cè)試儀
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EMI測(cè)試儀幾點(diǎn)技術(shù)參數(shù)及特點(diǎn)
傳導(dǎo)干擾測(cè)試:(9KHz—30MHz)此項(xiàng)測(cè)試不需要特殊環(huán)境,(只要在一般的研發(fā)工作室即可進(jìn)行測(cè)試),所測(cè)試的數(shù)據(jù)和檢測(cè)機(jī)構(gòu)的數(shù)據(jù)誤差,(一般都在±2d...
2012-08-13 標(biāo)簽:EMI電磁干擾EMI測(cè)試儀 1827 1
羅德與施瓦茨開(kāi)發(fā)出可高速檢測(cè)的EMI測(cè)試儀
德國(guó)羅德與施瓦茨公司(Rohde & Schwarz)開(kāi)發(fā)出了電磁噪聲達(dá)標(biāo)試驗(yàn)中使用的EMI測(cè)試儀的新機(jī)型,并已開(kāi)始銷售。該產(chǎn)品可用于CISPR16...
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