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一文讓你檢測(cè)IC產(chǎn)品參數(shù)值發(fā)生偏移
隨著時(shí)間的推移,半導(dǎo)體材料的摻雜度以及封裝對(duì)內(nèi)部裸片產(chǎn)生的物理應(yīng)力都會(huì)發(fā)生變化,這會(huì)導(dǎo)致產(chǎn)品的參數(shù)值發(fā)生偏移。這些偏移可在新產(chǎn)品質(zhì)量認(rèn)證過(guò)程中,通過(guò)測(cè)量...
2018-03-30 標(biāo)簽:封裝REF5025-HT產(chǎn)品生命周期 8865 0
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類(lèi)別:IC datasheet pdf 2010-09-20 標(biāo)簽:REF5025-HT 746 0
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類(lèi)別:IC datasheet pdf 2010-06-12 標(biāo)簽:REF5025-HT 744 0
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