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VLSI

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LSI是超大規(guī)模集成電路(Very Large Scale Integration)的簡(jiǎn)稱,指幾毫米見方的硅片上集成上萬至百萬晶體管、線寬在1微米以下的集成電路。本章詳細(xì)介紹了vlsi設(shè)計(jì)基礎(chǔ),vlsi應(yīng)用,vlsi專業(yè)課程等內(nèi)容。

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VLSI簡(jiǎn)介

  LSI是超大規(guī)模集成電路(Very Large Scale Integration)的簡(jiǎn)稱,指幾毫米見方的硅片上集成上萬至百萬晶體管、線寬在1微米以下的集成電路。由于晶體管與連線一次完成,故制作幾個(gè)至上百萬晶體管的工時(shí)和費(fèi)用是等同的。大量生產(chǎn)時(shí),硬件費(fèi)用幾乎可不計(jì),而取決于設(shè)計(jì)費(fèi)用。

VLSI百科

  LSI是超大規(guī)模集成電路(Very Large Scale Integration)的簡(jiǎn)稱,指幾毫米見方的硅片上集成上萬至百萬晶體管、線寬在1微米以下的集成電路。由于晶體管與連線一次完成,故制作幾個(gè)至上百萬晶體管的工時(shí)和費(fèi)用是等同的。大量生產(chǎn)時(shí),硬件費(fèi)用幾乎可不計(jì),而取決于設(shè)計(jì)費(fèi)用。

  可靠性技術(shù)的應(yīng)用

  在工程應(yīng)用中可靠性技術(shù)貫穿于VLSI需求分析、產(chǎn)品設(shè)計(jì)、制造工藝、試驗(yàn)檢測(cè)以及應(yīng)用全過程的各個(gè)階段和方面,軍事電子和航天技術(shù)的發(fā)展對(duì)VLSI提出了越來越高的可靠性要求,推動(dòng)了VLSI可靠性技術(shù)的不斷發(fā)展。由于技術(shù)的發(fā)展和需求的推動(dòng),VLSI可靠性保證已從過去主要通過可靠性試驗(yàn)和篩選來控制最終產(chǎn)品的可靠性,逐步轉(zhuǎn)向加強(qiáng)工藝過程控制、加強(qiáng)可靠性設(shè)計(jì)與功能設(shè)計(jì)的協(xié)同,在考慮工藝能力和功能設(shè)計(jì)的同時(shí),針對(duì)主要失效機(jī)理提出對(duì)策措施,并對(duì)VLSI在全壽命周期中以及特定環(huán)境條件下的可靠性指標(biāo)及其成本進(jìn)行綜合權(quán)衡,據(jù)此在電路設(shè)計(jì)、結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和版圖布局、材料選擇、工藝流程和參數(shù)選擇、工藝過程控制、設(shè)計(jì)驗(yàn)證與過程評(píng)價(jià)、產(chǎn)品的可靠性試驗(yàn)評(píng)價(jià)與篩選等環(huán)節(jié)引入適當(dāng)?shù)目煽啃约夹g(shù),使產(chǎn)品的可靠性水平得到保證和提高。VLSI可靠性技術(shù)包含了可靠性設(shè)計(jì)與模擬、可靠性試驗(yàn)與評(píng)價(jià)、工藝過程質(zhì)量控制、失效機(jī)理與模型研究以及失效分析技術(shù)等五個(gè)主要的技術(shù)方向,隨著可靠性物理研究的不斷深入,VLSI可靠性技術(shù)呈現(xiàn)出模型化、定量化、綜合化的發(fā)展趨勢(shì)。

  由于VLSI集成度一直遵循“摩爾定律”以每18個(gè)月翻一番的速度急劇增加,目前一個(gè)芯片上集成的電路元件數(shù)早已超過一個(gè)億,這種發(fā)展趨勢(shì)正在使VLSI在電子設(shè)備中扮演的角色從器件芯片轉(zhuǎn)變?yōu)橄到y(tǒng)芯片(SOC);與此同時(shí),深亞微米的VLSI工藝特征尺寸已達(dá)到0.18 μm以下,在特征尺寸不斷縮小、集成度和芯片面積以及實(shí)際功耗不斷增加的情況下,物理極限的逼近使影響VLSI可靠性的各種失效機(jī)理效應(yīng)敏感度增強(qiáng),設(shè)計(jì)和工藝中需要考慮和權(quán)衡的因素大大增加,剩余可靠性容限趨于消失,從而使VLSI可靠性的保證和提高面臨巨大的挑戰(zhàn)。因此,國際上針對(duì)深亞微米/超深亞微米VLSI主要失效機(jī)理的可靠性研究一直在不斷深入,新的失效分析技術(shù)和設(shè)備不斷出現(xiàn),世界上著名的集成電路制造廠商都建立了自己的VLSI質(zhì)量與可靠性保證系統(tǒng),并且把針對(duì)VLSI主要失效機(jī)理的晶片級(jí)和封裝級(jí)可靠性評(píng)價(jià)測(cè)試結(jié)構(gòu)的開發(fā)和應(yīng)用納入其質(zhì)量保證計(jì)劃,可靠性模擬在可靠性設(shè)計(jì)與評(píng)估中的應(yīng)用也日益增多。在進(jìn)一步完善晶片級(jí)可靠性(WLR)、統(tǒng)計(jì)過程控制(SPC)和面向可靠性的實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)方法(DOE)等可靠性技術(shù)的同時(shí),國際上在90年代提出了內(nèi)建可靠性(BIR)的新概念,把相關(guān)的各種可靠性技術(shù)有目標(biāo)地、定量地綜合運(yùn)用于VLSI的研發(fā)和生產(chǎn)過程,從技術(shù)和管理上構(gòu)建VLSI質(zhì)量與可靠性的保證體系,以滿足用戶對(duì)降低VLSI失效率、提高其可靠性水平的越來越高的要求。

  快速深入了解vlsi具體干什么

  這個(gè)事情很簡(jiǎn)單。美國有個(gè)http://indeed.com,是個(gè)Job發(fā)布網(wǎng)站。你搜一下關(guān)鍵詞,就知道什么崗位招聘多了。我要是早5年知道這個(gè),現(xiàn)在就不干IC了。

  這是我之前某一天搜到的結(jié)果。這個(gè)結(jié)果證明了FPGA崗位比ASIC多,軟狗崗位是硬狗3倍,ios崗位比android多,JAVA比C++更好找工作,web前端崗位是后端3倍:

  indeed-job-seek-outcome:

  software engineer 136,178

  hardware engineer 41,163

  ASIC 1,731

  FPGA 2,487

  JAVA 85,055

  java script 11,949

  C++ 37,488

  python 43,105

  perl 22,243

  swift 6,140

  object c 12,596

  hadoop 14,853

  big data 42,519

  full stack 17,354

  machine learning 17,602

  data mining 12,078

  data scientist 16,893

  web develop 90,565

  front end 100,148

  back end 38,280

  ios 39,174

  android 32571

  computer visualization 5,998

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型號(hào) 描述 數(shù)據(jù)手冊(cè) 參考價(jià)格
VS1053B-L VS1053B-L
VS1003B-L MP3/WMA視頻音頻接口芯片
VS1053B MP3芯片

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    buck是降壓型電路,boost是升壓型電路,可以分開單獨(dú)使用,buck-boost電路就是把2種電路合在一起,可升可降。buck-boost拓?fù)潆娐房梢詫?shí)現(xiàn)升降壓功能,常見的buck-boost電路有兩種,第一種是輸入與輸出電壓極性相反,只需采用一個(gè)開關(guān)管和二極管。另外一種是采用兩個(gè)開關(guān)管和兩個(gè)二極管,可實(shí)現(xiàn)同極性電壓升降壓功能。
  • 識(shí)別技術(shù)
    識(shí)別技術(shù)
    +關(guān)注
    所謂識(shí)別技術(shù),也稱為自動(dòng)識(shí)別技術(shù),通過被識(shí)別物體與識(shí)別裝置之間的交互自動(dòng)獲取被識(shí)別物體的相關(guān)信息,并提供給計(jì)算機(jī)系統(tǒng)供進(jìn)一步處理。
  • 制冷片
    制冷片
    +關(guān)注
  • 電磁繼電器
    電磁繼電器
    +關(guān)注
    電磁繼電器是一種電子控制器件,它具有控制系統(tǒng)(又稱輸入回路)和被控制系統(tǒng)(又稱輸出回路),通常應(yīng)用于自動(dòng)控制電路中,它實(shí)際上是用較小的電流、較低的電壓去控制較大電流、較高的電壓的一種“自動(dòng)開關(guān)”。故在電路中起著自動(dòng)調(diào)節(jié)、安全保護(hù)、轉(zhuǎn)換電路等作用。
  • VCM
    VCM
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