表2 四通道電壓監(jiān)控器與電源時序控制器
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有些系統(tǒng)具有許多電源軌,采用這種使用大量IC,并利用電阻和電容來設(shè)置時序和閾值電平的分立解決方案會變得過于復(fù)雜、成本過高,且不能提供適當(dāng)?shù)男阅堋?/p>
具有八路電壓軌的系統(tǒng)會需要復(fù)雜的上電時序控制。每路電壓軌都要監(jiān)控,以免出現(xiàn)欠壓或過壓故障。發(fā)生故障時,根據(jù)故障機制,需要關(guān)斷所有電源電壓,或初始化電源關(guān)斷時序。此外,必須根據(jù)控制信號的狀態(tài)采取相應(yīng)措施,并根據(jù)電源的狀態(tài)產(chǎn)生標志位。如果使用分立器件和簡單的IC來實現(xiàn)如此復(fù)雜的電路,可能需要數(shù)以百計的器件,這將會占用很大的電路板空間,并耗費大量成本。
在具有四路或更多電源的系統(tǒng)中,使用集中式器件來管理電源比較可取。圖6所示的是采用這種方法的一個例子。
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圖6 用于八路電源系統(tǒng)的集中式時序控制與監(jiān)控解決方案
集中式監(jiān)測和時序控制
ADM106x Super SequencerTM11系列產(chǎn)品使用比較器,但是有一些不同之處。每個輸入端都有兩個專用比較器,以實現(xiàn)欠壓和過壓檢測,這樣便可對DC/DC轉(zhuǎn)換器ADP1821和ADP2105以及LDO ADP1715所產(chǎn)生的電壓軌提供窗口監(jiān)控。在電源上電之前,欠壓故障是正常的狀態(tài),因此這個指示可用于時序控制。過壓狀態(tài)通常表示一種嚴重故障,如FET或電感器短路,必須立即采取行動。
通常,系統(tǒng)中包含的電源數(shù)量越多,系統(tǒng)就越復(fù)雜,因此精度限制也越嚴格。另外,在低壓狀態(tài)下,例如1.0V和0.9V,利用電阻來設(shè)定精確的閾值也變得很有挑戰(zhàn)性。雖然對于5V電源軌來說,可接受10%的容差,但對1V電源軌來說,這個容差是不能接受的。ADM1066在最壞情況下允許輸入檢測器比較器的閾值被設(shè)定在1%范圍內(nèi),而與電壓(低至0.6V)無關(guān),并可工作在該器件允許的整個溫度范圍內(nèi)。這可以增加每個比較器的內(nèi)部毛刺濾波和遲滯。其邏輯輸入可用于啟動上電時序控制、關(guān)閉所有電源軌,或執(zhí)行其它功能。
比較器的信息被送入功能強大和靈活的狀態(tài)機內(nèi)核,這些信息具有以下幾種用途。
時序控制:當(dāng)最近的使能電源的輸出電壓進入到窗口中時,時間延遲被觸發(fā),以按照上電時序接通下一個電源軌。可能需要具有多重上電與斷電時序,或具有差別較大的上電與斷電時序的復(fù)雜時序控制。
超時:如果已經(jīng)使能的電源軌沒有按照預(yù)期上電,可以執(zhí)行一套適當(dāng)?shù)膽?yīng)對措施(例如產(chǎn)生一個中斷信號或關(guān)閉系統(tǒng))。相比之下,純模擬的解決方案只會令系統(tǒng)簡單地掛在時序中的那一點上。
監(jiān)控:如果任一電源軌上的電壓超出了預(yù)設(shè)的窗口,可以根據(jù)發(fā)生故障的電源軌、故障類型和當(dāng)前的工作模式,采取適當(dāng)?shù)膽?yīng)對措施。含有五路以上電源的系統(tǒng)通常都相當(dāng)昂貴,因此全面的故障保護是極為重要的。
即使系統(tǒng)中的最高電壓只有3V,仍然可以通過內(nèi)置電荷泵產(chǎn)生大約12V的柵極驅(qū)動電壓,從而允許輸出能夠直接驅(qū)動串聯(lián)的N溝道FET。其它額外的輸出能夠使能或關(guān)斷DC/DC轉(zhuǎn)換器或穩(wěn)壓器,使輸出內(nèi)部上拉至其中一個輸入電壓或內(nèi)置的穩(wěn)壓電壓。輸出也可以被指定為開漏輸出。輸出可以用作狀態(tài)信號,如電源良好或上電復(fù)位。如果需要的話,狀態(tài)LED可以直接由輸出來驅(qū)動。
電源調(diào)整
除了能夠監(jiān)控多路電壓軌并提供復(fù)雜的時序控制解決方案之外,ADM1066等集成電源管理器件還可以用于暫時或永久調(diào)整某些電壓軌電壓。通過調(diào)節(jié)器件上調(diào)整節(jié)點或反饋節(jié)點上的電壓,可以改變DC/DC轉(zhuǎn)換器或穩(wěn)壓器的電壓輸出。一般來說,通過介于輸出與地之間的電阻分壓器,來調(diào)整/反饋引腳上設(shè)置的標稱電壓,從而設(shè)置標稱輸出電壓。通過切換反饋回路中的額外電阻或控制可變電阻的簡單方案,可以改變調(diào)整/反饋電壓,進而調(diào)節(jié)輸出電壓。
ADM1066具有DAC(數(shù)模轉(zhuǎn)換器),可以直接控制調(diào)整/反饋節(jié)點。為了實現(xiàn)最大的效率,這些DAC不會在地與最大電壓間工作,而是會以標稱的調(diào)整/反饋電平為中心點,在一個相當(dāng)窄的窗口中工作。衰減電阻器的阻值可決定電源模塊輸出的遞增變化和DAC的每個LSB變化。這種開環(huán)調(diào)節(jié)方式提供了提升容限或降低容限的標準,相當(dāng)于那些利用參考電路中的數(shù)字電阻切換所獲得的結(jié)果,而且可以將輸出調(diào)節(jié)到類似的精度。
ADM1066還包含一個用來測量電源電壓的12bit ADC(模數(shù)轉(zhuǎn)換器),以實現(xiàn)閉環(huán)電源電壓調(diào)節(jié)方案。通過給定的DAC輸出設(shè)置,電源模塊的電壓輸出可由ADC采集轉(zhuǎn)換,并利用軟件與所設(shè)定的目標電壓進行比較。這樣,便可調(diào)整DAC來校準電壓輸出,使其盡可能接近目標電壓。這個閉環(huán)方案提供了一個非常精確的電源調(diào)節(jié)方法。使用閉環(huán)方法時,與外部電阻的精度無關(guān)。在圖6中,DC/DC4的輸出電壓便是利用其中一個內(nèi)置DAC來進行調(diào)整的。
這種電源調(diào)節(jié)方案有兩個主要應(yīng)用。首先是電源容限的概念,也就是說,當(dāng)電源處于規(guī)定的設(shè)備電源電壓范圍邊界時,測試系統(tǒng)對電源做出的反應(yīng)。數(shù)據(jù)通信、電信、蜂窩電話基礎(chǔ)設(shè)施、服務(wù)器和存儲區(qū)域網(wǎng)絡(luò)設(shè)備等制造商在將其系統(tǒng)交付給終端客戶之前,必須進行嚴格的測試。系統(tǒng)中的所有電源電壓都應(yīng)該在一定的容差范圍內(nèi)工作(例如±5%、±10%)。通過確保正確運行所進行的測試,電源容限允許所有的內(nèi)置電源被調(diào)節(jié)到容差范圍的上限和下限。具有電源調(diào)節(jié)能力的集中式電源管理器件,可用于進行這種容限測試,同時使得只需完成一次測試所需的額外器件最少、PCB面積最小——在制造商的測試地點進行容限測試期間。
通常需要進行全范圍測試,也就是,在設(shè)備的整個工作電壓范圍和整個溫度范圍內(nèi)進行測試, ADM1062不僅集成了閉環(huán)電源容限電路,還集成了溫度檢測和回讀功能。
電源調(diào)節(jié)方案的第二個應(yīng)用是補償工作現(xiàn)場的系統(tǒng)電源波動。造成電源波動的原因有許多種,就短期而言,當(dāng)溫度改變時,電壓的輕微變化是十分常見的;就長期來說,某些器件參數(shù)可能會隨產(chǎn)品的長期使用而產(chǎn)生輕微的漂移,這也可能導(dǎo)致電壓的漂移。ADC及DAC環(huán)路可被周期性地激活(例如每10 s、30 s或60 s),再加上軟件校準環(huán)路,就可以使電壓保持在其應(yīng)有的范圍內(nèi)。
靈活性
ADM1066具有內(nèi)置非易失性存儲器,在系統(tǒng)開發(fā)過程中,當(dāng)時序控制與監(jiān)控需求不斷發(fā)展時,可以根據(jù)需要進行多次重新編程,這意味著硬件設(shè)計可以在產(chǎn)品原型設(shè)計的初期完成,而監(jiān)控和時序控制的優(yōu)化可以隨著項目的進展來進行。
數(shù)字溫度和電壓測量等功能可以簡化并加速評估過程;容限工具則允許在開發(fā)過程中對電源電壓進行調(diào)節(jié)。因此,當(dāng)關(guān)鍵的ASIC、FPGA或處理器也正處在開發(fā)階段,且由于推出新版本的芯片,引起電源電壓電平或時序需求不斷變化,可以通過軟件14 GUI(圖形用戶界面)來完成簡單的調(diào)節(jié)。在幾分鐘內(nèi)對電源管理器件進行重新編程,將變化因素考慮進去,而無需對電路板上的器件進行物理級改變,也不會發(fā)生需要重新設(shè)計硬件等更糟的狀況。
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