本文從晶圓制造開始,到光刻,再到蝕刻和離子注入,薄膜沉積,至最后的封裝測(cè)試,簡(jiǎn)單而又全面地介紹芯片制造工藝流程。 ?
芯片制造是當(dāng)今世界最為復(fù)雜的工藝過程。這是一個(gè)由眾多頂尖企業(yè)共同完成的一個(gè)復(fù)雜過程。本文努力將這一工藝過程做一個(gè)匯總,對(duì)這個(gè)復(fù)雜的過程有一個(gè)全面而概括的描述。
半導(dǎo)體制造工藝過程非常多,據(jù)說有幾百甚至幾千個(gè)步驟。這不是夸張的說法,一個(gè)百億投資的工廠做的可能也只是其中的一小部分工藝過程。對(duì)于這么復(fù)雜的工藝,本文將分成五個(gè)大類進(jìn)行解說:晶圓制造、光刻蝕刻、離子注入、薄膜沉積、封裝測(cè)試。
半導(dǎo)體制造工藝 - 晶圓制造(Wafer Manufacturing)
晶圓制造(Wafer Manufacturing)又可分為以下5 個(gè)主要過程:
(1)拉晶?Crystal Pulling
???
摻雜多晶硅在1400度熔煉
???注入高純氬氣的惰性氣體
???將單晶硅“種子”放入熔體中,并在“拔出”時(shí)緩慢旋轉(zhuǎn)。
???
單晶錠直徑由溫度和提取速度決定
(2)晶圓切片 (Wafer slicing)
用精密的“鋸(Saw)”將硅錠切成獨(dú)立的晶圓。
(3)晶圓研磨、侵蝕(Wafer lapping,etching)
?? 切片的晶圓片使用旋轉(zhuǎn)研磨機(jī)和氧化鋁漿料進(jìn)行機(jī)械研磨,使晶圓片表面平整、平行,減少機(jī)械缺陷。
???然后在氮化酸/乙酸溶液中蝕刻晶圓,以去除微觀裂紋或表面損傷,然后進(jìn)行一系列高純度RO/DI水浴。
(4) 硅片拋光、清洗 (Wafer polishing and Cleaning)
???接下來,晶圓在一系列化學(xué)和機(jī)械拋光過程中拋光,稱為CMP(Chemical Mechanical Polish)。
???拋光過程通常包括兩到三個(gè)拋光步驟,使用越來越細(xì)的漿液和使用RO/DI水的中間清洗。
???使用SC1溶液(氨,過氧化氫和RO/DI水)進(jìn)行最終清洗,以去除有機(jī)雜質(zhì)和顆粒。然后,用HF除去天然氧化物和金屬雜質(zhì),最后SC2溶液使超干凈的新的天然氧化物在表面生長(zhǎng)。
(5)?晶片外延加工 (Wafer epitaxial processing)
???外延工藝(EPI)被用來在高溫下從蒸汽生長(zhǎng)一層單晶硅到單晶硅襯底上。
???氣相生長(zhǎng)單晶硅層的工藝被稱為氣相外延(VPE)。
SiCl4 + 2H2???Si + 4HCl
該反應(yīng)是可逆的,即如果加入HCl,硅就會(huì)從晶圓片表面蝕刻出來。
另一個(gè)生成Si的反應(yīng)是不可逆的:?
SiH4??→??Si + 2H2(硅烷)
?? EPI生長(zhǎng)的目的是在襯底上形成具有不同(通常較低)濃度的電活性摻雜劑的層。例如,p型晶圓片上的N型層。
???約為晶圓片厚度的3%。
???對(duì)后續(xù)晶體管結(jié)構(gòu)無污染。
半導(dǎo)體制造工藝 - 光刻 (Photolithography)
近年大量提及的光刻機(jī),只是眾多工藝設(shè)備中的一個(gè)。即使是光刻,也有很多的工藝過程和設(shè)備。
(1)光刻膠涂層?Photoresist coating
光刻膠是一種光敏材料。將少量光刻膠液體加在晶圓片上。晶圓片在1000到5000 RPM的速度下旋轉(zhuǎn),將光刻膠擴(kuò)散成2到200um厚的均勻涂層。
光刻膠有兩種類型:負(fù)膠和正膠。
正膠:暴露于光下可以分解復(fù)雜的分子結(jié)構(gòu),使其易于溶解。
負(fù)膠:曝光使分子結(jié)構(gòu)變得更復(fù)雜,更難以溶解。
每個(gè)光刻步驟所涉及的步驟如下
???清潔晶圓片
???沉積屏障層SiO2,Si3N4,金屬
???涂上光刻膠
???軟烤
???對(duì)齊蒙版
???圖形曝光
???顯影
???烘焙
???蝕刻
???去除光刻膠
(2)圖案準(zhǔn)備?Pattern Preparation
IC設(shè)計(jì)人員使用CAD軟件設(shè)計(jì)每層的圖案。然后使用激光圖案發(fā)生器或電子束將圖案轉(zhuǎn)移到具有圖案的光學(xué)透明石英襯底(模板)上。
(3)圖案轉(zhuǎn)移(曝光)
這里使用光刻機(jī),將圖案從模板上,投影復(fù)制到芯片層板上。
(4)顯影、烘烤
???曝光后,晶圓片在酸溶液或堿溶液中顯影,以去除光刻膠的暴露區(qū)域。
???一旦除去暴露的光刻膠,晶圓片將在低溫下“烘烤”以硬化剩余的光刻膠。
半導(dǎo)體制造工藝 - 蝕刻和離子注入 (Etching and Ion Implantation)
(1)濕式和干式蝕刻
???在大型濕平臺(tái)上進(jìn)行化學(xué)蝕刻。
???不同類型的酸,堿和苛性堿溶液用于去除不同材料的選定區(qū)域。
?? BOE,或緩沖氧化物蝕刻劑,由氟化銨緩沖的氫氟酸制備,用于去除二氧化硅,而不會(huì)蝕刻掉底層的硅或多晶硅層。
???磷酸用于蝕刻氮化硅層。
???硝酸用來蝕刻金屬。
???用硫酸去除光刻膠。
???對(duì)于干式蝕刻,晶圓片被放置在蝕刻室中,通過等離子體進(jìn)行蝕刻。
???人員安全是首要問題。
???許多晶圓廠使用自動(dòng)化設(shè)備執(zhí)行蝕刻過程。
(2)抗蝕劑剝離
然后光刻膠完全從晶圓上剝離,在晶圓上留下氧化物圖案。
(3)離子注入
???離子注入改變晶圓片上現(xiàn)有層內(nèi)精確區(qū)域的電特性。
???離子注入器使用高電流加速器管和轉(zhuǎn)向聚焦磁鐵,用特定摻雜劑的離子轟擊晶圓表面。
???當(dāng)摻雜化學(xué)物質(zhì)沉積在表面并擴(kuò)散到表面時(shí),氧化物充當(dāng)屏障。
???將硅表面加熱到900℃來進(jìn)行退火,注入的摻雜離子進(jìn)一步擴(kuò)散到硅片中。
半導(dǎo)體制造工藝 - 薄膜沉積 (Thin Film Deposition)
薄膜沉積的方式和內(nèi)容也比較多,下面逐個(gè)說明:
(1)氧化硅
當(dāng)硅在氧氣中存在時(shí),SiO2會(huì)熱生長(zhǎng)。氧氣來自氧氣或水蒸氣。環(huán)境溫度要求為900 ~ 1200℃。發(fā)生的化學(xué)反應(yīng)是
Si + O2??→??SiO2
Si +2H2O —> SiO2 + 2H2
選擇性氧化后的硅片表面如下圖所示:
氧氣和水都會(huì)通過現(xiàn)有的SiO2擴(kuò)散,并與Si結(jié)合形成額外的SiO2。水(蒸汽)比氧氣更容易擴(kuò)散,因此蒸汽的生長(zhǎng)速度要快得多。
氧化物用于提供絕緣和鈍化層,形成晶體管柵極。干氧用于形成柵極和薄氧化層。蒸汽被用來形成厚厚的氧化層。絕緣氧化層通常在1500nm左右,柵極層通常在200nm到500nm間。
(2)化學(xué)氣相沉積?Chemical Vapor Deposition
化學(xué)氣相沉積(CVD)通過熱分解和/或氣體化合物的反應(yīng)在襯底表面形成薄膜。
CVD反應(yīng)器有三種基本類型:
???大氣化學(xué)氣相沉積
???低壓CVD (LPCVD)
???等離子增強(qiáng)CVD (PECVD)
低壓CVD工藝示意圖如下圖所示。
CVD的主要有下面幾種反應(yīng)過程
i). 多晶硅 Polysilicon
SiH4? —>? Si + 2H2?(600℃)
沉積速度 100 - 200 nm?/min
可添加磷(磷化氫)、硼(二硼烷)或砷氣體。多晶硅也可以在沉積后用擴(kuò)散氣體摻雜。
ii). 二氧化硅?Dioxide
SiH4 + O2→SiO2 + 2H2? (300 - 500℃)
SiO2用作絕緣體或鈍化層。通常添加磷是為了獲得更好的電子流動(dòng)性能。
iii). 氮化硅 Siicon Nitride
3SiH4 + 4NH3 —> Si3N4 + 12H2
(硅烷)? ? ?(氨)? ? ? ? ?(氮化物)
(3)濺射
目標(biāo)被高能離子如Ar+轟擊,目標(biāo)中的原子將被移動(dòng)并輸送到基材上。
金屬如鋁、鈦可以用作靶材。
(4)蒸鍍
Al或Au(金)被加熱到蒸發(fā)點(diǎn),蒸汽將凝結(jié)并形成覆蓋晶圓片表面的薄膜。
下面用一個(gè)案例,來詳細(xì)說明一下光刻、蝕刻,到離子沉積的過程中,硅片上的電路是如何一步步成型的:
半導(dǎo)體制造工藝 - 封裝測(cè)試 (Post-processing)
(1)晶圓測(cè)試?Probe Test
在最終線路制備完成后,使用自動(dòng)化探針測(cè)試方法測(cè)試晶圓上測(cè)試器件,剔除不良品。
(2) 晶圓切割?Wafer Dicing
探針測(cè)試后,晶圓片被切成單個(gè)的芯片。
(3) 接線、封裝
???單個(gè)芯片連接到引線框架,鋁或金引線通過熱壓縮或超聲波焊接連接。
???通過將設(shè)備密封到陶瓷或塑料包裝中來完成包裝。
???多數(shù)芯片還需要經(jīng)過最后的功能測(cè)試,才會(huì)送到下游用戶手上。
審核編輯:黃飛
評(píng)論
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