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1. 電源 DDR的電源可以分為三類：
a主電源VDD和VDDQ，主電源的要求是VDDQ=VDD，VDDQ是給IO buffer供電的電源，VDD是給但是一般的使用中都是把VDDQ和VDD合成一個(gè)電源使用。
有的芯片還有VDDL，是給DLL供電的，也和VDD使用同一電源即可。電源設(shè)計(jì)時(shí)，需要考慮電壓，電流是否滿足要求，電源的上電順序和電源的上電時(shí)間，單調(diào)性等。電源電壓的要求一般在±5%以內(nèi)。電流需要根據(jù)使用的不同芯片，及芯片個(gè)數(shù)等進(jìn)行計(jì)算。由于DDR的電流一般都比較大，所以PCB設(shè)計(jì)時(shí)，如果有一個(gè)完整的電源平面鋪到管腳上，是最理想的狀態(tài)，并且在電源入口加大電容儲(chǔ)能，每個(gè)管腳上加一個(gè)100nF~10nF的小電容濾波。
b參考電源Vref，參考電源Vref要求跟隨VDDQ，并且Vref=VDDQ/2，所以可以使用電源芯片提供，也可以采用電阻分壓的方式得到。由于Vref一般電流較小，在幾個(gè)mA~幾十mA的數(shù)量級(jí)，所以用電阻分壓的方式，即節(jié)約成本，又能在布局上比較靈活，放置的離Vref管腳比較近，緊密的跟隨VDDQ電壓，所以建議使用此種方式。需要注意分壓用的電阻在100~10K均可，需要使用1%精度的電阻。 Vref參考電壓的每個(gè)管腳上需要加10nF的點(diǎn)容濾波，并且每個(gè)分壓電阻上也并聯(lián)一個(gè)電容較好。
C、用于匹配的電壓VTT（Tracking Termination Voltage）
VTT為匹配電阻上拉到的電源，VTT=VDDQ/2。DDR的設(shè)計(jì)中，根據(jù)拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)的不同，有的設(shè)計(jì)使用不到VTT，如控制器帶的DDR器件比較少的情況下。如果使用VTT，則VTT的電流要求是比較大的，所以需要走線使用銅皮鋪過去。并且VTT要求電源即可以吸電流，又可以灌電流才可以。一般情況下可以使用專門為DDR設(shè)計(jì)的產(chǎn)生VTT的電源芯片來滿足要求。
而且，每個(gè)拉到VTT的電阻旁一般放一個(gè)10Nf~100nF的電容，整個(gè)VTT電路上需要有uF級(jí)大電容進(jìn)行儲(chǔ)能。
在華為的設(shè)計(jì)中，在使用DDR顆粒的情況下，已經(jīng)基本全部不使用VTT電源，全部采用電阻上下拉的戴維南匹配，只有在使用內(nèi)存條的情況下才使用VTT電源。
一般情況下，DDR的數(shù)據(jù)線都是一驅(qū)一的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)，且DDR2和DDR3內(nèi)部都有ODT做匹配，所以不需要拉到VTT做匹配即可得到較好的信號(hào)質(zhì)量。DDR2的地址和控制信號(hào)線如果是多負(fù)載的情況下，會(huì)有一驅(qū)多，并且內(nèi)部沒有ODT，其拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)為走T型的結(jié)構(gòu)，所以常常需要使用VTT進(jìn)行信號(hào)質(zhì)量的匹配控制。DDR3可以采用Fly-by方式走線：
一個(gè)DDR3設(shè)計(jì)案例，來分析對比采用高阻抗負(fù)載走線和采用主線和負(fù)載走線同阻抗兩種情況的差異。
如上圖，Case1采用的是從內(nèi)層控制器到各個(gè)SDRAM均為50ohm的阻抗設(shè)計(jì)。Case2則采用了主線40ohm，負(fù)載線60ohm的設(shè)計(jì)。對此通過仿真工具進(jìn)行對比分析。
從以上仿真波形可以看出，使用較高阻抗負(fù)載走線的Case2在信號(hào)質(zhì)量上明顯優(yōu)于分支主線都采用同一種阻抗的Case1設(shè)計(jì)。而且對靠近驅(qū)動(dòng)端的負(fù)載影響最大，遠(yuǎn)離驅(qū)動(dòng)端的最末端的負(fù)載影響較小。這個(gè)正是前面所分析到的，負(fù)載的分布電容導(dǎo)致了負(fù)載線部分的阻抗降低，如果采用主線和負(fù)載線同阻抗設(shè)計(jì)，反而導(dǎo)致了阻抗不連續(xù)的發(fā)生。把負(fù)載走線設(shè)計(jì)為較高的阻抗，用于平衡負(fù)載引入的分布電容，從而可以達(dá)到整條走線阻抗平衡的目的。
通過提高負(fù)載走線阻抗來平衡負(fù)載電容的做法，其實(shí)在以往的菊花鏈設(shè)計(jì)中是經(jīng)常用到的方法。DDR3稱這種拓?fù)錇閒ly-by，其實(shí)是有一定的含義的，意在強(qiáng)調(diào)負(fù)載stub走線足夠的短。
2. 時(shí)鐘
DDR的時(shí)鐘為差分走線，一般使用終端并聯(lián)100歐姆的匹配方式，差分走線差分對控制阻抗為100ohm，單端線50ohm。需要注意的是，差分線也可以使用串聯(lián)匹配，使用串聯(lián)匹配的好處是可以控制差分信號(hào)的上升沿緩度，對EMI可能會(huì)有一定的作用。
3. 數(shù)據(jù)和DQS
DQS信號(hào)相當(dāng)于數(shù)據(jù)信號(hào)的參考時(shí)鐘，它在走線時(shí)需要保持和CLK信號(hào)保持等長。DQS在DDR2以下為單端信號(hào)，DDR2可作為差分信號(hào)，也可做單端，做單端時(shí)需要將DQS-接地，而DDR3為差分信號(hào)，需要走線100ohm差分線。由于內(nèi)部有ODT，所以DQS不需要終端并聯(lián)100ohm電阻。每8bit數(shù)據(jù)信號(hào)對應(yīng)一組DQS信號(hào)。
DQS信號(hào)在走線時(shí)需要與同組的DQS信號(hào)保持等長，控制單端50ohm的阻抗。在寫數(shù)據(jù)時(shí)，DQ和DQS的中間對齊，在讀數(shù)據(jù)時(shí)，DQ和DQS的邊沿對齊。DQ信號(hào)多為一驅(qū)一，并且DDR2和DDR3有內(nèi)部的ODT匹配，所以一般在進(jìn)行串聯(lián)匹配就可以了。
4. 地址和控制
地址和控制信號(hào)速度沒有DQ的速度快，以時(shí)鐘的上升沿為依據(jù)采樣，所以需要與時(shí)鐘走線保持等長。但如果使用多片DDR時(shí)，地址和控制信號(hào)為一驅(qū)多的關(guān)系，需要注意匹配方式是否適合。
5. PCB布局注意事項(xiàng)
PCB布局時(shí)，需要把DDR顆粒盡量靠近DDR控制器放置。每個(gè)電源管腳需要放置一個(gè)濾波電容，整個(gè)電源上需要有10uF以上大電容放在電源入口的位置上。電源最好使用獨(dú)立的層鋪到管腳上去。串聯(lián)匹配的電阻最好放在源端，如果是雙向信號(hào)，那么要統(tǒng)一放在同一端。如果是一驅(qū)多的DDR匹配結(jié)構(gòu)，VTT上拉電阻需要放在最遠(yuǎn)端，注意芯片的排布需要平衡。下圖是幾種DDR的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)，首先，一驅(qū)二的情況下分為樹狀結(jié)構(gòu)，菊花鏈和Fly-by結(jié)構(gòu)，F(xiàn)ly-by是一種STUB很小的菊花鏈結(jié)構(gòu)。DDR2和DDR3走菊花鏈結(jié)構(gòu)都是比較適合的。走樹狀結(jié)構(gòu)可以把兩片芯片貼在PCB的正反兩面，對貼減小分叉的長度。一驅(qū)多的DDR拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)比較復(fù)雜，需要仔細(xì)進(jìn)行仿真。
6. PCB布線注意事項(xiàng)
PCB布線時(shí)，單端走線走50ohm，差分走線走100ohm阻抗。
注意控制差分線等長±10mil以內(nèi)，同組走線根據(jù)速度的要求也有不同，一般為±50mil。
控制和地址線及DQS線和時(shí)鐘等長，DQ數(shù)據(jù)線和同組的DQS線等長。
注意時(shí)鐘及DQS和其他的信號(hào)要分開3W以上距離。
組間信號(hào)也要拉開至少3W寬的距離。
同一組信號(hào)最好在同一層布線。
盡量減少過孔的數(shù)目。
7. EMI問題
DDR由于其速度快，訪問頻繁，所以在許多設(shè)計(jì)中需要考慮其對外的干擾性，在設(shè)計(jì)時(shí)需要注意一下幾點(diǎn)
原理有性能指標(biāo)要求的，易受干擾的電路模塊和信號(hào)，如模擬信號(hào)，射頻信號(hào)，時(shí)鐘信號(hào)等，防止DDR對其干擾，影響指標(biāo)。
DDR的電源和不要與其他易受干擾的電源模塊使用同一電源，如必須使用同一電源，要注意使用電感、磁珠或電容進(jìn)行濾波隔離處理。
在時(shí)鐘及DQS信號(hào)線上，預(yù)留一些可以增加的串聯(lián)電阻和并聯(lián)電容的位置，在EMI超出標(biāo)準(zhǔn)時(shí)，在信號(hào)完整性允許的范圍內(nèi)增大串聯(lián)電阻或?qū)Φ仉娙?，使其信?hào)上升延變緩，減少對外的輻射。
進(jìn)行屏蔽處理，使用金屬外殼的屏蔽結(jié)構(gòu)，屏蔽對外輻射。
注意保持地的完整性。
8. 測試方法
注意示波器的探頭和示波器本身的帶寬能夠滿足測試要求。
測試點(diǎn)的選擇要注意選到盡量靠近信號(hào)的接受端。
由于DDR信令比較復(fù)雜，因此為了能快速測試、調(diào)試和解決信號(hào)上的問題，我們希望能簡單地分離讀/寫比特。此時(shí)，最常用的是通過眼圖分析來幫助檢查DDR信號(hào)是否滿足電壓、定時(shí)和抖動(dòng)方面的要求。
觸發(fā)模式的設(shè)置有幾種，首先可以利用前導(dǎo)寬度觸發(fā)器分離讀/寫信號(hào)。根據(jù)JEDEC規(guī)范，讀前導(dǎo)的寬度為0.9到1.1個(gè)時(shí)鐘周期，而寫前導(dǎo)的寬度規(guī)定為大于0.35個(gè)時(shí)鐘周期，沒有上限。第二種觸發(fā)方式是利用更大的信號(hào)幅度觸發(fā)方法分離讀/寫信號(hào)。通常，讀/寫信號(hào)的信號(hào)幅度是不同的，因此我們可以通過在更大的信號(hào)幅度上觸發(fā)示波器來實(shí)現(xiàn)兩者的分離。
測試中要注意信號(hào)的幅度，時(shí)鐘的頻率，差分時(shí)鐘的交叉點(diǎn)，上升沿是否單調(diào)，過沖等。
時(shí)序中最重要，最需要注意的就是建立時(shí)間和保持時(shí)間。
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