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電子發(fā)燒友網(wǎng)>制造/封裝>制造新聞>CMP后晶片表面金屬污染物的清洗方法解析

CMP后晶片表面金屬污染物的清洗方法解析

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2022-03-07 13:58:161071

化學(xué)清洗過程中重金屬污染的監(jiān)測方法

本文通過繪制少數(shù)載流子擴散長度、體中鐵濃度和表面污染表面電荷和表面重組),介紹了表面光電電壓(SPV)在監(jiān)測化學(xué)清洗和化學(xué)品純度方面的應(yīng)用。新的SPV方法和精密儀器的非接觸性、晶片級的特性使該技術(shù)
2022-03-09 14:38:22715

DHF在氧化后CMP清洗工藝中的應(yīng)用

晶圓-機械聚晶(CMP)過程中產(chǎn)生的漿體顆粒對硅晶片表面污染對設(shè)備工藝中收率(Yield)的下降有著極大的影響。
2022-03-14 10:50:141077

預(yù)清洗對KOH/IPA溶液中單晶硅表面紋理化的影響

實驗研究了預(yù)清洗對KOH/IPA溶液中單晶硅表面紋理化的影響。如果沒有適當(dāng)?shù)念A(yù)清洗,表面污染會形成比未污染區(qū)域尺寸小的金字塔,導(dǎo)致晶片表面紋理特征不均勻,晶片表面反射率不均勻。根據(jù)供應(yīng)商的不同,晶片表面質(zhì)量和污染水平可能會有所不同,預(yù)清洗條件可能需要定制,以達到一致和期望的紋理化結(jié)果。
2022-03-17 15:23:08501

半導(dǎo)體制造中有效的濕法清洗工藝

隨著器件尺寸縮小到深亞微米級,半導(dǎo)體制造中有效的濕法清洗工藝對于去除硅晶片表面上的殘留污染物至關(guān)重要。GOI強烈依賴于氧化前的晶片清潔度,不同的污染物對器件可靠性有不同的影響,硅表面上的顆粒導(dǎo)致
2022-03-21 13:39:405472

硅晶圓表面金屬清洗液中的行為

隨著器件的集成化,對Si晶片的要求也變得更加嚴格,降低晶片表面金屬污染變得重要,這是因為Si晶片表面金屬污染被認為是氧化膜耐壓和漏電流等電特性劣化的原因。在Si晶圓的清洗中RCA清洗被廣泛
2022-03-21 13:40:12471

清洗晶片污染物的實驗研究

本研究的目的是為高效半導(dǎo)體器件的制造提出高效的晶圓清洗方法,主要特點是清洗過程是在室溫和標準壓力下進行的,沒有特殊情況。盡管該方法與實際制造工藝相比,半導(dǎo)體公司的效率相對較低,但本研究可以提出在室溫
2022-03-21 15:33:52373

用蝕刻法測定硅晶片表面金屬雜質(zhì)

本研究為了將硅晶片中設(shè)備激活區(qū)的金屬雜質(zhì)分析為ICP-MS或GE\AS,利用HF和HNQ混酸對硅晶片進行不同厚度的重復(fù)蝕刻,在晶片內(nèi)表面附近,研究了定量分析特定區(qū)域中金屬雜質(zhì)的方法。
2022-03-21 16:15:07339

基于RCA清洗的濕式清洗工藝

在半導(dǎo)體制造過程中的每個過程之前和之后執(zhí)行的清潔過程是最重要的過程之一,約占總過程的30%,基于RCA清洗的濕式清洗工藝對于有效地沖洗清洗化學(xué)物質(zhì)以使它們不會在學(xué)位處理后殘留在晶片表面上,以及諸如
2022-03-22 13:30:211161

半導(dǎo)體制造過程中的新一代清洗技術(shù)

VLSI制造過程中,晶圓清洗球定義的重要性日益突出。這是當(dāng)晶片表面存在的金屬、粒子等污染物對設(shè)備的性能和產(chǎn)量(yield)產(chǎn)生深遠影響時的門。在典型的半導(dǎo)體制造工藝中,清潔工藝在工藝前后反復(fù)進行
2022-03-22 14:13:163580

使用臭氧和HF清洗去除金屬雜質(zhì)的研究

本研究在實際單位工藝中容易誤染,用傳統(tǒng)的濕式清潔方法去除的Cu和Fe等金屬雜質(zhì),為了提高效率,只進行了HF濕式清洗,考察了對表面粗糙度的影響,為了知道上面提出的清洗的效果,測量了金屬雜質(zhì)的去除
2022-03-24 17:10:271760

Si晶圓表面金屬清洗液中的應(yīng)用研究

隨著器件的集成化,對Si晶片的要求也變得更加嚴格,降低晶片表面金屬污染變得重要,這是因為Si晶片表面金屬污染被認為是氧化膜耐壓和漏電流等電特性劣化的原因。在Si晶圓的清洗中RCA清洗被廣泛
2022-03-28 15:08:53990

如何成功地清除來自晶片表面的顆粒污染

為了成功地清除來自晶片表面的顆粒污染,有必要了解顆粒與接觸的基底之間的附著力和變形,變形亞微米顆粒的粘附和去除機理在以往的許多研究中尚未得到闡明。亞微米聚苯乙烯乳膠顆粒(0.1-0.5mm)沉積
2022-04-06 16:53:501046

濕法清洗過程中晶片旋轉(zhuǎn)速度的影響

在超大規(guī)模集成(ULSI)制造的真實生產(chǎn)線中,器件加工過程中存在各種污染物。由于超大規(guī)模集成電路器件工藝需要非常干凈的表面,因此必須通過清潔技術(shù)去除污染物,例如使用批量浸漬工具進行濕法清潔批量旋轉(zhuǎn)
2022-04-08 14:48:32585

一種除去晶片表面有機物的清洗方法

法與添加臭氧的超純水相結(jié)合的新清洗法,與以往的方法相比,具有更好的清洗能力,在抑制自然氧化膜生成的同時,可以在短時間內(nèi)完全除去晶片表面的有機物。
2022-04-13 15:25:211593

IPA和超純水混合溶液中晶圓干燥和污染物顆粒去除的影響

,重要的是有效地沖洗,防止清潔化學(xué)液在道工序后在晶片表面殘留,以及防止水斑點等污染物再次污染。因此,最近在濕清洗過程中,正在努力減少化學(xué)液和超純水的量,回收利用,開發(fā)新的清洗過程,在干燥過程中,使用超純水和IPA分離層的
2022-04-13 16:47:471239

濕式化學(xué)清洗過程對硅晶片表面微粒度的影響

比的APM清洗被發(fā)現(xiàn)可以非常有效地清除硅表面的顆粒和金屬雜質(zhì)。由于APM清洗而導(dǎo)致的微粒度的增加在不同的晶片類型中有所不同;在EPI晶圓上觀察到很少增加,但在CZ和FZ晶片上觀察到顯著增加。然而,
2022-04-14 13:57:20459

一種用濕式均勻清洗半導(dǎo)體晶片方法

本發(fā)明公開了一種用濕式均勻清洗半導(dǎo)體晶片方法,所公開的本發(fā)明的特點是:具備半導(dǎo)體晶片和含有預(yù)定清潔液的清潔組、對齊上述半導(dǎo)體晶片的平坦區(qū)域,使其不與上述清潔組的入口相對、將上述對齊的半導(dǎo)體晶片浸入
2022-04-14 15:13:57605

硅晶圓表面金屬及粒子的附著行為

半導(dǎo)體器件的高集成化,硅晶圓表面的高清潔度化成為極其重要的課題。在本文中,關(guān)于硅晶圓表面金屬及粒子的附著行為,對電化學(xué)的、膠體化學(xué)的解析結(jié)果進行解說,并對近年來提出的清洗方法進行介紹。
2022-04-18 16:33:59879

半導(dǎo)體制造工序中CMP后的晶圓清洗工序

CMP裝置被應(yīng)用于納米級晶圓表面平坦化的拋光工藝。拋光顆粒以各種狀態(tài)粘附到拋光后的晶片表面。必須確實去除可能成為產(chǎn)品缺陷原因的晶圓表面附著物,CMP后的清洗技術(shù)極為重要。在本文中,關(guān)于半導(dǎo)體制造工序
2022-04-18 16:34:342912

利用蝕刻法消除硅晶片表面金屬雜質(zhì)?

為了將硅晶片中設(shè)備激活區(qū)的金屬雜質(zhì)分析為ICP-MS或GE\AS,利用HF和HNQ混酸對硅晶片進行不同厚度的重復(fù)蝕刻,在晶片內(nèi)表面附近,研究了定量分析特定區(qū)域中消除金屬雜質(zhì)的方法。
2022-04-24 14:59:23497

PVA刷擦洗對CMP清洗過程的影響

介紹 聚乙烯醇刷洗是化學(xué)溶液清洗過程中常用的方法。聚乙烯醇刷擦洗可分為兩大類,根據(jù)其接觸類型(非接觸,完全接觸)。全接觸擦洗被認為是去除晶片表面污染物的最佳有效清潔方法之一。然而,許多研究人員指責(zé)
2022-04-27 16:56:281310

聚乙烯醇刷非接觸洗滌對CMP清洗的影響

全接觸洗滌被認為是去除晶圓表面污染的最佳有效清潔方法之一。為了使刷與晶片之間的小間隙最大限度地增加水動力阻力,在晶片上安裝了壓電傳感器(圓片型)。為了研究磨料顆粒在Cu和PETEOS(等離子體增強
2022-05-06 15:24:47298

晶片清洗技術(shù)

本文闡述了金屬雜質(zhì)和顆粒雜質(zhì)在硅片表面的粘附機理,并提出了一些清洗方法。
2022-05-11 16:10:274

一種拋光硅片表面顆粒和有機污染物清洗方法

本文提出了一種拋光硅片表面顆粒和有機污染物清洗方法,非離子型表面活性劑可以有效地去除表面上的顆粒,因為它可以顯著降低液體的表面張力和界面張力,非離子型表面活性劑分子具有親水和疏水兩部分,實驗選擇了脂肪醇-聚氧乙烯醚作為一種非離子型表面活性劑,這種非離子表面活性劑不能被電離,因此不會帶來離子污染物。
2022-05-18 16:01:22829

使用脈動流清洗毯式和圖案化晶片的工藝研究

表面和亞微米深溝槽的清洗在半導(dǎo)體制造中是一個巨大的挑戰(zhàn)。在這項工作中,使用物理數(shù)值模擬研究了使用脈動流清洗毯式和圖案化晶片。毯式晶片清洗工藝的初步結(jié)果與文獻中的數(shù)值和實驗結(jié)果吻合良好。毯式和圖案化晶片的初步結(jié)果表明,振蕩流清洗比穩(wěn)定流清洗更有效,并且振蕩流的最佳頻率是溝槽尺寸的函數(shù)。
2022-06-07 15:51:37291

單次清洗晶圓的清洗方法及解決方案

本文講述了我們?nèi)A林科納的一種在單個晶圓清洗工藝中使用新型清洗溶液的方法,該方法涉及在單一晶片模式下使用清洗溶液,并且清洗溶液包括至少包括氫氧化銨(NH-OH)、過氧化氫(HO)、水(HO)和螯合劑
2022-06-30 17:22:112101

晶片清洗技術(shù)

的實驗和理論分析來建立晶片表面清潔技術(shù)。本文解釋了金屬和顆粒雜質(zhì)在硅片表面的粘附機理,并提出了一些清洗方法。 介紹 LSI(大規(guī)模集成電路)集成密度的增加對硅片質(zhì)量提出了更高的要求。更高質(zhì)量的晶片意味著晶體精度、成形質(zhì)量和
2022-07-11 15:55:451026

紫外光表面清洗技術(shù)與UV光清洗

低壓紫外汞燈發(fā)射的雙波段短波紫外光照射到試件表面后,與有機污染物發(fā)生光敏氧化作用,不僅能去除污染物而且能改善表面的性能,從而提高物體表面的浸潤性和粘合強度,或者使材料表面得到穩(wěn)定的表面性能。根據(jù)
2022-08-18 16:16:301082

使用稀釋的HCN水溶液的碳化硅清洗方法

金屬污染物,如碳化硅表面的銅,不能通過使用傳統(tǒng)的RCA清洗方法完全去除。RCA清洗后,在碳化硅表面沒有形成化學(xué)氧化物,這種化學(xué)穩(wěn)定性歸因于RCA方法金屬污染物的不完全去除,因為它通過氧化和隨后
2022-09-08 17:25:461453

半導(dǎo)體晶圓清洗設(shè)備市場:行業(yè)分析

半導(dǎo)體晶圓清洗設(shè)備市場預(yù)計將達到129\.1億美元。到 2029 年。晶圓清洗是在不影響半導(dǎo)體表面質(zhì)量的情況下去除顆?;?b class="flag-6" style="color: red">污染物的過程。器件表面晶圓上的污染物和顆粒雜質(zhì)對器件的性能和可靠性有重大影響。本報告?zhèn)戎赜诎雽?dǎo)體晶圓清洗設(shè)備市場的不同部分(產(chǎn)品、晶圓尺寸、技術(shù)、操作模式、應(yīng)用和區(qū)域)。
2023-04-03 09:47:511643

激光清洗設(shè)備特點及優(yōu)勢

脈沖,在適度的主要參數(shù)下不容易損害金屬材料板材。 ? ? 激光清洗不僅可用于清洗有機污染物質(zhì),還可以用來清洗無機化合物,包含金屬生銹、金屬材料顆粒、塵土等。 1、非接觸式清洗,不損傷零件基體; 2、精準清洗,可實現(xiàn)精確
2023-05-08 17:08:46423

激光清洗設(shè)備的應(yīng)用領(lǐng)域

激光清洗不僅可用于清洗有機污染物質(zhì),還可以用來清洗無機化合物。激光清洗的原理是利用激光束的高能量密度,使污垢或涂層等物質(zhì)發(fā)生蒸發(fā)或剝離,從而清洗表面。這個過程并不依賴于物質(zhì)的化學(xué)性質(zhì),因此激光清洗
2023-05-08 17:11:07571

針對去離子水在晶片表面處理的應(yīng)用的研究

隨著半導(dǎo)體科技的發(fā)展,在固態(tài)微電子器件制造中,人們對清潔基底表面越來越重視。濕法清洗一般使用無機酸、堿和氧化劑,以達到去除光阻劑、顆粒、輕有機物、金屬污染物以及硅片表面上的天然氧化物的目的。然而,隨著硅電路和器件結(jié)構(gòu)規(guī)模的不斷減小,英思特仍在專注于探索有效可靠的清潔方法以實現(xiàn)更好的清潔晶圓表面。
2023-06-05 17:18:50437

PCBA線路板生產(chǎn)加工污染物有哪些?怎么清洗?

符合用戶對產(chǎn)品清潔度的標準。因此,對PCBA板進行清洗是很有必要的。 PCBA生產(chǎn)加工污染物有哪些 污染物的界定為所有使PCBA的化學(xué)、物理或電氣性能減少到不達標水準表面堆積物、雜物、夾渣及其被吸附物。主要有以下幾個方面: 1、組成PCBA的電子
2023-06-13 15:30:281696

金屬激光焊接表面油脂污染清潔度檢測方案|德國析塔SITA表面清潔度檢測儀

零部件進行激光焊接往往需要進行焊接前表面處理,否則容易因工件表面污染物清洗不干凈導(dǎo)致焊接質(zhì)量缺陷或者產(chǎn)生次品。德國析塔SITA表面清潔度檢測儀有效量化監(jiān)控工件表面清潔度。
2022-05-24 14:16:51437

德國析塔SITA表面污染物檢測儀在活塞軸表面清潔度測試中的應(yīng)用

活塞軸表面超微細的剩余殘留污染物會導(dǎo)致后面工序中篩中的抗摩擦涂層的附著力不足。使用新型表面清潔度測試儀-德國析塔SITA CleanoSpector,你可以監(jiān)測監(jiān)控活塞軸的清潔度來評估清潔過程。
2022-05-24 14:25:36355

表面油污快速檢測儀|油污等有機污染物殘留對焊接的影響

表面油污快速檢測儀|油污等有機污染物殘留對焊接的影響
2022-06-08 10:36:29376

等離子清洗促進潤濕和粘合 適用表面粘合、粘合、涂裝和涂漆

大氣壓等離子體表面超細清洗是去除有機、無機、微生物表面污染物和強附著粉塵顆粒的過程。它高效,對處理后的表面非常溫和。在較高的強度下,它可以去除表面弱邊界層,交聯(lián)表面分子,甚至還原硬金屬氧化物。
2022-09-08 10:53:03316

鋁合金表面處理工藝用等離子清洗機的優(yōu)勢和特點

金屬材料的等離子體表面處理可以消除原材料表面的微觀污染物、氧化物等成分。等離子清洗機因其工作效率高、操作方便等優(yōu)點,在該領(lǐng)域得到了廣泛的應(yīng)用。
2022-09-29 14:34:39582

cmp是什么意思 cmp工藝原理

CMP 主要負責(zé)對晶圓表面實現(xiàn)平坦化。晶圓制造前道加工環(huán)節(jié)主要包括7個相互獨立的工藝流程:光刻、刻蝕、薄膜生長、擴散、離子注入、化學(xué)機械拋光、金屬CMP 則主要用于銜接不同薄膜工藝,其中根據(jù)工藝
2023-07-18 11:48:183035

不銹鋼等離子清洗效果評估|鋼板表面油脂污染情況檢測方案表面油脂污染度清潔度檢測

使用德國析塔FluoScan 3D自動表面污染物檢測儀檢測不銹鋼等離子清洗表面的油污清洗,對不銹鋼等離子清洗效果進行評估。翁開爾是德國析塔中國獨家代理。
2022-06-27 11:48:08363

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