簡(jiǎn)介
射頻(RF)放大器可采用引腳架構(gòu)芯片級(jí)封裝(LFCSP)和法蘭封裝,通過成熟的回流焊工藝安裝在印刷電路板(PCB)上。PCB不僅充當(dāng)器件之間的電氣互聯(lián)連接,還是放大器排熱的主要途徑(利用封裝底部的金屬塊)。
本應(yīng)用筆記介紹熱阻概念,并且提供一種技術(shù),用于從裸片到采用LFCSP或法蘭封裝的典型RF放大器的散熱器的熱流動(dòng)建模。
熱概念回顧
熱流
材料不同區(qū)域之間存在溫度差時(shí),熱量從高溫區(qū)流向低溫區(qū)。這一過程與電流類似,電流經(jīng)由電路,從高電勢(shì)區(qū)域流向低電勢(shì)區(qū)域。
熱阻
所有材料都具有一定的導(dǎo)熱性。熱導(dǎo)率是衡量材料導(dǎo)熱能力的標(biāo)準(zhǔn)。熱導(dǎo)率值通常以瓦特每米開爾文(W/mK)或瓦特每英寸開爾文(W/inK)為單位。如果已知材料的熱導(dǎo)率,則采用以下公式,以C/W或K/W為單位計(jì)算材料單位體積的熱阻(θ):
???? (1)
其中:
Length表示材料的長(zhǎng)度或厚度,以米為單位。
k為材料的熱導(dǎo)率。
Area表示橫截面積,以m2為單位。
溫度
利用熱流量等效于電流量的類比,本身具備熱阻且支持熱流流動(dòng)的材料的溫差如下:
?T = Q × θ (2)
其中:
?T表示材料不同區(qū)域之間的溫差(K或°C)。
Q表示熱流(W)。
θ表示材料的熱阻(C/W或K/W)。
器件的熱阻
器件的熱阻相當(dāng)復(fù)雜,往往與溫度呈非線性關(guān)系。因此,我們采用有限元分析方法建立器件的熱模型。紅外攝影技術(shù)可以確定器件連接處的溫度和操作期間封裝的溫度。基于這些分析和測(cè)量結(jié)果,可以確定等效的熱阻。在對(duì)器件實(shí)施測(cè)量的特定條件下,等效熱阻是有效的,一般是在最大操作溫度下。
參考表1,查看典型的RF放大器的絕對(duì)最大額定值表。
表1.典型的RF放大器的絕對(duì)最大額定值
參數(shù) | 額定值 |
漏極偏置電壓(VDD) | 60 V dc |
柵極偏置電壓(VGG1) | -8 V至0 V dc |
射頻(RF)輸入功率(RFIN) | 35 dBm |
連續(xù)功耗(PDISS) (T = 85°C)(85°C以上以636 mW/°C減額) | 89.4 W |
熱阻,結(jié)至焊盤背面(θJC) | 1.57°C/W |
溫度范圍 | |
存儲(chǔ) | -55°C至+150°C |
工作溫度 | -40°C至+85°C |
保持百萬小時(shí)平均無故障時(shí)間(MTTF)的結(jié)溫范圍(TJ) | 225°C |
標(biāo)稱結(jié)溫(TCASE = 85°C,VDD = 50 V) | 187°C |
對(duì)于LFCSP和法蘭封裝,假定封裝外殼是封裝底部的金屬塊。
最高結(jié)溫
在給定的數(shù)據(jù)手冊(cè)中,會(huì)在絕對(duì)最大額定值表中給出每個(gè)產(chǎn)品的最大結(jié)溫(基于器件的半導(dǎo)體工藝)。在表1中,指定的維持百萬小時(shí)MTTF的最大結(jié)溫為225℃。指定的這個(gè)溫度一般適用于氮化鎵(GaN)器件。超過這個(gè)限值會(huì)導(dǎo)致器件的壽命縮短,且出現(xiàn)永久性的器件故障。
工作溫度范圍
器件的工作溫度(TCASE)已在封裝底座上給出。TCASE是封裝底部金屬塊的溫度。工作溫度不是器件周圍空氣的溫度。
如果已知TCASE和PDISS,則很容易計(jì)算得出結(jié)溫(TJ)。例如,如果TCASE=75°C,PDISS=70 W,則可以使用以下公式計(jì)算TJ:
TJ = TCASE + (θJC × PDISS)
= 75°C + (1.57°C/W × 70 W)
= 184.9°C
考量到器件的可靠性時(shí),TJ是最重要的規(guī)格參數(shù),決不能超過此數(shù)值。相反,如果可以通過降低PDISS,使TJ保持在最大可允許的水平之下,則TCASE可以超過指定的絕對(duì)最大額定值。在此例中,當(dāng)外殼溫度超過指定的最大值85°C時(shí),可使用減額值636 mW/°C來計(jì)算最大可允許的PDISS。例如,使用表1中的數(shù)據(jù),當(dāng)PDISS的限值為83 W時(shí),可允許的最大TCASE為95°C。PDISS可使用以下公式計(jì)算:
PDISS = 89.4 W ? (636 mW/°C × 10°C)
= 83 W
使用此PDISS 值,可以計(jì)算得出225°C結(jié)溫,計(jì)算公式如下:
TJ = TCASE + (θJC × PDISS)
= 95°C + (1.57°C/W × 83 W) (3)
器件和PCB環(huán)境的熱模型
為了充分了解器件周圍的整個(gè)熱環(huán)境,必須對(duì)器件的散熱路徑和材料進(jìn)行建模。圖1顯示了安裝在PCB和散熱器上的LFCSP封裝的截面原理圖。在本例中,裸片生熱,然后經(jīng)由封裝和PCB傳輸?shù)缴崞鳌R_定器件連接處的溫度,必須計(jì)算熱阻。利用熱阻與熱流,可計(jì)算得出結(jié)溫。然后將結(jié)溫與最大指定結(jié)溫進(jìn)行比較,以確定器件是否可靠地運(yùn)行。
在圖1中,器件連接處到散熱器的散熱路徑定義如下:
? θJA是器件連接處到封裝頂部周圍空氣的熱阻。
? θJC是連接處到外殼(封裝底部的金屬塊)的熱阻。
? θSN63是焊料的熱阻。
? θCU是PCB上鍍銅的熱阻。
? θVIACU是通孔上鍍銅的熱阻。
? θVIASN63是通孔中填充的焊料的熱阻。
? θPCB是PCB層壓材料的熱阻。
在典型電路板中,包含多個(gè)通孔和多個(gè)PCB層。在計(jì)算系統(tǒng)截面的熱阻時(shí),會(huì)使用熱電路計(jì)算各個(gè)熱阻,并將串聯(lián)熱阻與并聯(lián)熱阻結(jié)合起來,以此確定器件的總熱阻。
圖1.安裝在PCB和散熱器上的LFCSP封裝的熱模型
系統(tǒng)的熱阻計(jì)算
對(duì)于每個(gè)散熱路徑,都使用公式1來計(jì)算其熱阻。要計(jì)算得出各個(gè)熱阻值,必須已知材料的熱導(dǎo)率。參見表2,查看PCB總成中常用材料的熱導(dǎo)率。
表2.常用PCB材料的熱導(dǎo)率
材料 | 熱導(dǎo)率(W/inK) |
銅(Cu) | 10.008 |
鋁(Al) | 5.499 |
Rogers 4350 (RO4350) | 0.016 |
FR4或G-10層壓材料 | 0.008 |
氧化鋁(Al2O3) | 0.701 |
SN63焊料 | 1.270 |
導(dǎo)熱環(huán)氧樹脂 | 0.020 |
砷化鎵(GaAs) | 1.501 |
模塑料 | 0.019 |
圖2基于圖1中所示的熱模型,顯示等效的熱電路。TPKG表示封裝底部的溫度,TSINK表示散熱器的溫度。在圖2中,假設(shè)封裝(TA)周圍的環(huán)境空氣溫度恒定不變。對(duì)于外層包有外殼的真實(shí)總成,TA可能隨著功耗增加而升高。本分析忽略了散熱路徑至環(huán)境空氣的溫度,因?yàn)閷?duì)于具有金屬塊的LFCSP和法蘭封裝,θJA要遠(yuǎn)大于θJC。
圖2.等效的熱電路
熱阻示例:HMC408LP3評(píng)估板
HMC408LP3功率放大器采用一塊0.01英寸厚,由Rogers RO4350層壓板構(gòu)成的評(píng)估板。圖3所示的接地焊盤面積為0.065 × 0.065英寸,上有5個(gè)直徑為0.012英寸的通孔。電路板頂部和底部分別有1盎司鍍銅(0.0014英寸厚)。通孔采用?盎司銅進(jìn)行鍍層(0.0007英寸厚)。裝配期間,會(huì)在通孔中填塞SN63焊料。分析顯示,幾乎所有的熱流都會(huì)流經(jīng)焊料填塞的通孔。因此,在本分析中,余下的電路板布局都可忽略。
圖3.接地焊盤布局
各個(gè)熱阻都使用公式1計(jì)算得出。計(jì)算θSN63時(shí),采用的SN63焊料的熱導(dǎo)率為1.27 W/inK,長(zhǎng)度(或者焊接點(diǎn)的厚度)為0.002英寸,焊接面積為0.004225英寸(0.065英寸× 0.065英寸)。
????? (4)
接下來,以相似方式計(jì)算PCB頂部的銅鍍層的值。銅鍍層的熱導(dǎo)率為10.008 W/inK,長(zhǎng)度為0.0014 英寸(1盎司銅),鍍層面積為0.00366平方英寸(in2)。
?? (5)
對(duì)于通孔上銅鍍層的面積,采用以下公式進(jìn)行計(jì)算
面積 = π × (rO2 – rI2) (6)
其中:
rO表示外徑。
rI表示內(nèi)徑。
外徑為0.006英寸,內(nèi)徑為0.0053英寸時(shí),計(jì)算得出的面積為0.00002485 in2。通孔的長(zhǎng)度為板的厚度(0.01英寸),銅的熱導(dǎo)率為10.008 W/inK。
? (7)
因?yàn)椴⑴糯嬖?個(gè)通孔,所以熱阻要除以5。所以,θVIACU = 8.05°C/W。
以相似方式計(jì)算得出通孔的填塞焊料的值。
?? (8)
因?yàn)榇嬖?個(gè)填塞通孔,所以等效熱阻為θVIASN63 = 17.85°C/W。
接下來,使用0.01英寸長(zhǎng)度、0.016 W/inK的Rogers RO4350熱導(dǎo)率,以及0.00366 in2面積計(jì)算PCB的熱阻。
?? (9)
在圖2所示的等效熱電路中,三個(gè)熱阻(θPCB、θVIACU和θVIASN63)并聯(lián)組合之后為5.37°C/W。在通孔中填塞焊料之后,熱阻從8.05°C/W降低至5.37°C/W。最后,加上熱阻串聯(lián)的值,可以得出整個(gè)PCB總成的熱阻。
θASSY = θSN63 + θCU + θEQUIV + θCU = 0.372 + 0.038 + 5.37 + 0.038 = 5.81°C/W (10)
其中,θASSY表示總成的熱阻。
確定功耗
熱阻值確定后,必須確定熱流(Q)值。對(duì)于RF器件,Q的值表示輸入器件的總功率和器件輸出的總功率之間的差值。總功率包括RF功率和直流功率。
Q = PINTOTAL ? POUTTOTAL = (PINRF + PINDC) ? POUTRF (11)
其中:
PINTOTAL表示直流功率和RF輸入功率之和。
POUTTOTAL表示器件輸出的功率,與POUTRF相同。
PINRF表示RF輸入功率。
PINDC表示直流輸入功率。
POUTRF表示傳輸至負(fù)載的RF輸出功率。
圖4.HMC408LP3功耗與輸入功率
對(duì)于HMC408LP3功率放大器,使用公式11來計(jì)算圖4中所示的PDISS的值。圖4顯示了放大器的以下特性:
? 器件消耗約4 W功率,無RF輸入信號(hào)。
? 采用RF信號(hào)時(shí),PDISS的值由頻率決定。
? 存在某一個(gè)輸入功率,器件的功耗最低。
根據(jù)等效熱阻、θTOTAL和Q,可以使用以下公式計(jì)算得出結(jié)溫
ΔT = Q × θTOTAL (12)
θTOTAL = θASSY + θJC = 5.81 + 13.79 = 19.6°C/W (13)
對(duì)于無RF輸入功率的靜止?fàn)顟B(tài),Q = 4 W,且
?T = 4.0 × 19.6 = 78.4°C (14)
因?yàn)橹付ǖ腍MC408LP3的最大結(jié)溫為150°C,所以在PDISS = 4 W時(shí),散熱器的溫度必須≤71.6°C(也就是說,78.4°C + 71.6°C = 150°C)。
HMC408LP3功率放大器正常運(yùn)行時(shí)(例如,輸入功率≤ 5 dBm),功耗小于4 W,這表示散熱器的溫度可以稍微高于71.6°C。但是,如果放大器在深度壓縮環(huán)境中工作,且輸入功率等效于15 dBm,則PDISS升高,且要求散熱器的溫度低于71.6°C。
表3.熱工作數(shù)據(jù)表
描述 | 值 | 單位 | 注釋 |
散熱器最高溫度 | 70 | °C | |
θASSY | 5.81 | °C/W | 從等效熱電路計(jì)算得出 |
θJC | 13.79 | °C/W | 來自數(shù)據(jù)手冊(cè) |
θTOTAL | 19.6 | °C/W | 添加θASSY和θJC |
Q | 4.0 | W | |
得出的結(jié)溫 | 148.4 | °C | 散熱器最高溫度 + (θTOTAL × Q);不超過數(shù)據(jù)手冊(cè)中列出的最大通道溫度 |
可靠性
組件的預(yù)期壽命與工作溫度密切相關(guān)。在低于最大結(jié)溫的溫度下運(yùn)行可以延長(zhǎng)器件的使用壽命。超過最大結(jié)溫會(huì)縮短使用壽命。因此,實(shí)施熱分析可以確保在預(yù)期的操作條件下不會(huì)超過指定的最大結(jié)溫。
結(jié)論
使用采用LFCSP和法蘭封裝的低結(jié)溫表貼RF功率放大器來圍裝熱阻迫使PCB不僅要充當(dāng)器件之間的RF互連,還要用作導(dǎo)熱路徑以導(dǎo)走功率放大器的熱量。
因此,θJC 取代θJA,成為衡量LFCSP或法蘭封裝的重要熱阻指標(biāo)。
在這些計(jì)算中,最關(guān)鍵的指標(biāo)是RF放大器的結(jié)溫或通道溫度(TJ)。只要不超過最大結(jié)溫,那么其他標(biāo)稱限值,例如TCASE,則可以高于限值。
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