隨著電子設(shè)備更小、更薄、功能更集成的發(fā)展趨勢(shì),半導(dǎo)體芯片封裝的技術(shù)發(fā)展起到越來(lái)越關(guān)鍵的作用,而談到高性能半導(dǎo)體封裝,小編覺(jué)得很多smt貼片廠商想到的就是引線鍵合技術(shù)。
的確如此。不久之前,大多數(shù)如QFP、SiP和QFN等高性能半導(dǎo)體封裝,是完全依賴于引線鍵合技術(shù)來(lái)形成設(shè)備互聯(lián)的。在這個(gè)結(jié)構(gòu)下的芯片連接,是通過(guò)從芯片上方鋪設(shè)細(xì)電線到基材上的板連接口來(lái)完成的。雖然這一封裝形式廣為運(yùn)用,但隨著市場(chǎng)對(duì)復(fù)合功能、更小尺寸、卓越性能以及生產(chǎn)靈活性的追求,具有高I/O數(shù)量,封裝集成與更緊湊凸塊間隙設(shè)計(jì)的倒裝芯片封裝異軍突起。
倒裝芯片有多種多樣的設(shè)計(jì),從凸塊材料來(lái)看主要包含:金凸塊、堆棧凸塊、鍍金點(diǎn)、銅凸塊。而這些不同設(shè)計(jì)的倒裝芯片在smt貼片打樣或加工生產(chǎn)中真正興起,還有一個(gè)重要因素是針對(duì)倒裝芯片設(shè)計(jì)的完善封裝材料解決方案,確保了這一先進(jìn)封裝的生產(chǎn)制造。
倒裝芯片設(shè)計(jì)的凸塊密度,就是對(duì)材料解決方案專家來(lái)說(shuō)不得不考慮的重要問(wèn)題。不同的倒裝芯片根據(jù)其功能需求凸塊密度各不相同,而這些不同間距的凸塊,對(duì)保護(hù)芯片的底部填充材料帶來(lái)挑戰(zhàn)。
傳統(tǒng)用于倒裝芯片保護(hù)的底部填充劑利用毛細(xì)作用,通過(guò)縫隙和真空互相作用驅(qū)動(dòng),在芯片基材上流動(dòng)和覆蓋。在凸塊間距比較大時(shí),毛細(xì)作用的底部填充劑完全能夠勝任,而當(dāng)凸塊間隙在80μm以下、縫隙少于35μm并且凸塊寬度少于40μm的應(yīng)用中,利用毛細(xì)作用的流動(dòng)可能會(huì)引入氣泡并局限了對(duì)凸塊的保護(hù)。
如前所述,為了滿足更高功能性并將設(shè)備最小化,倒裝芯片正快速地從大型焊錫凸塊,轉(zhuǎn)化為銅(Cu)凸塊等,并將凸塊縫隙設(shè)計(jì)至80μm以下,來(lái)提供更優(yōu)秀電氣連接。銅(Cu)凸塊和窄縫隙為傳統(tǒng)的毛細(xì)底部填充方式帶來(lái)了挑戰(zhàn),很多封裝專家轉(zhuǎn)向了使用NCP材料的熱壓粘接技術(shù),保護(hù)了設(shè)備并提高設(shè)備的可靠性。
把NCP預(yù)應(yīng)用于基材上,能讓連接與凸塊保護(hù)都在一個(gè)步驟內(nèi)完成。雖然UPH不如毛細(xì)底部填充制程高,但是使用NCP制程的產(chǎn)能正在持續(xù)提升。在不考慮速度的輕微不同的情況下,NCP目前是先進(jìn)、小間距的銅凸塊倒樁封裝方式的唯一可行的填充保護(hù)方案。
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