在本文中,我們將討論與瞬態(tài)條件和開關(guān)模式操作有關(guān)的MOSFET特性。
在上一篇有關(guān)低頻MOSFET的文章中,我們研究了控制MOSFET穩(wěn)態(tài)工作的參數(shù),例如閾值電壓,導(dǎo)通狀態(tài)電阻和最大漏極電流。這些屬性與所有應(yīng)用相關(guān),并且,如果您正在設(shè)計(jì)低頻系統(tǒng),則它們涵蓋了選擇合適設(shè)備所需的大多數(shù)信息。
但是,如今,即使在模擬應(yīng)用中,采用MOSFET作為由相對(duì)高頻(通常是脈寬調(diào)制)的數(shù)字信號(hào)控制的開關(guān)也是非常普遍的。最好的例子是D類放大器。
盡管輸入信號(hào)是模擬信號(hào),而輸出信號(hào)是模擬信號(hào),但是使用從完全導(dǎo)通到完全截止的晶體管可以實(shí)現(xiàn)放大。開關(guān)模式控制比線性控制要有效得多,這使它成為一個(gè)有吸引力的選擇,即使最終的電路更復(fù)雜且最終的信號(hào)受到開關(guān)噪聲的負(fù)面影響。
暫態(tài)最大值
在上一篇文章中,我們討論了最大連續(xù)漏極電流。此參數(shù)具有對(duì)應(yīng)的瞬態(tài)事件規(guī)范。
最大瞬態(tài)漏極電流稱為“脈沖漏極電流”或“峰值漏極電流”。這里涉及一些變量(脈沖寬度,占空比,環(huán)境溫度),因此該規(guī)范不是非常有用。但是,它的確可以使您大致了解設(shè)備可以承受的短期電流,在某些情況下,這比穩(wěn)態(tài)極限更為重要(我正在考慮在大電流條件下的應(yīng)用與直通,浪涌或低占空比PWM相關(guān))。
與在瞬態(tài)事件的情況下避免損壞有關(guān)的另一個(gè)參數(shù)是漏極-源極雪崩能量。該規(guī)范以焦耳為單位給出,但與超過(guò)MOSFET的漏源擊穿電壓的電壓有關(guān)。這個(gè)問(wèn)題有點(diǎn)復(fù)雜,當(dāng)然不在本文的討論范圍之內(nèi)。如果您想了解有關(guān)雪崩特性的更多信息,我建議您從英飛凌獲取此應(yīng)用筆記。
該圖取自上述英飛凌應(yīng)用筆記。
電容值
FET的動(dòng)態(tài)參數(shù)中最突出的是輸入電容,輸出電容和反向傳輸電容。這些與典型的(更直觀地稱為)MOSFET電容密切相關(guān),這些電容稱為柵極-漏極電容(CGD),柵極-源極電容(C GS)和漏極-源極電容(C DS)。
輸入電容(C ISS)是輸入信號(hào)即C GD加C GS所看到的電容。
輸出電容(C OSS)是輸出信號(hào)看到的電容;在分立FET的情況下,輸出端子為漏極,因此C OSS = C GD + C DS。
反向傳輸電容(C RSS)是漏極和柵極之間的電容,即C RSS = C GD。
輸入電容(與驅(qū)動(dòng)器電路的電阻一起)會(huì)影響開關(guān)特性,因?yàn)楦嗟妮斎腚娙菀馕吨嗟膶?dǎo)通和關(guān)斷延遲。當(dāng)驅(qū)動(dòng)FET導(dǎo)通時(shí),必須為該電容充電,而要關(guān)閉器件時(shí),則必須對(duì)其放電。
在考慮功耗和開關(guān)電路的諧振頻率時(shí),輸出電容會(huì)發(fā)揮作用。
反向傳輸電容會(huì)影響導(dǎo)通和關(guān)斷時(shí)間(這并不奇怪,因?yàn)樗禽斎腚娙莸囊徊糠郑?,但?qǐng)注意,它形成了一個(gè)反饋環(huán)路(因?yàn)槁O被視為輸出,而柵極被視為輸入)。反饋路徑中的電容器會(huì)受到米勒效應(yīng)的影響,因此,C RSS影響瞬態(tài)響應(yīng)的程度大于我們根據(jù)標(biāo)稱電容值的預(yù)期。
柵極電荷
事實(shí)證明,MOSFET輸入電容并不是評(píng)估器件開關(guān)特性的最可靠方法,因?yàn)殡娙葜凳茈妷汉碗娏鳁l件的影響。下圖讓您了解了三個(gè)電容值如何根據(jù)漏極-源極電壓的變化而變化。
摘自NXP / Nexperia發(fā)布的此應(yīng)用筆記。
該應(yīng)用筆記還提到了“器件尺寸和跨導(dǎo)”,這些因素使得難以將電容用作選擇一個(gè)MOSFET而不是另一個(gè)MOSFET的基礎(chǔ)。最好使用柵極電荷規(guī)格;例如:
規(guī)格取自此Vishay數(shù)據(jù)表。
柵極電荷顯然是評(píng)估開關(guān)特性的更直接的方法。電荷等于電流乘以時(shí)間,因此,如果您知道驅(qū)動(dòng)?xùn)艠O的器件的輸出電流并且知道FET的柵極電荷規(guī)格,則可以計(jì)算出打開器件所需的時(shí)間。
開關(guān)時(shí)間
如果您確實(shí)想避免所有計(jì)算和理論上的細(xì)節(jié),則可以僅將零件搜索限制在數(shù)據(jù)手冊(cè)中給出開關(guān)時(shí)間的FET上。查找標(biāo)有“開啟時(shí)間”(或“關(guān)閉時(shí)間”),“上升時(shí)間”(或“下降時(shí)間”)和“延遲時(shí)間”的規(guī)格。
這種方法當(dāng)然很簡(jiǎn)單,但通常情況下,最簡(jiǎn)單的解決方案并不是最可靠的解決方案。這些“預(yù)煮”的開關(guān)規(guī)格基于特定條件(也許最重要的是柵極驅(qū)動(dòng)電路的電阻),可能與您的預(yù)期條件或不同數(shù)據(jù)手冊(cè)中使用的條件不一致。上面提到的NXP / Nexperia應(yīng)用筆記說(shuō),在比較一個(gè)制造商的開關(guān)時(shí)間規(guī)格與另一制造商的開關(guān)時(shí)間規(guī)格時(shí),“需要格外小心”。
結(jié)論
MOSFET的動(dòng)態(tài)行為并不是特別簡(jiǎn)單,但是我希望本文能夠提供足夠的信息,以幫助您更全面地評(píng)估不同器件的動(dòng)態(tài)行為。如果您有任何經(jīng)驗(yàn)可以分享有關(guān)分立FET的實(shí)際瞬態(tài)行為,請(qǐng)隨時(shí)在評(píng)論中分享您的想法。
原文標(biāo)題:選擇合適的MOSFET:了解動(dòng)態(tài)MOSFET參數(shù)
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