介紹一種R&S相噪測試方案

隨著5G、數(shù)據(jù)中心和智能駕駛汽車的高速發(fā)展，數(shù)據(jù)傳輸?shù)乃俾试絹碓礁摺，F(xiàn)在最熱門的Serdes PAM4技術最高速度到了112Gbps。這對高速數(shù)字芯片的設計帶來了挑戰(zhàn)，特別是時鐘信號的抖動分析變得越來越重要，因為到Gbps速率范圍，任何一個小的抖動都會對系統(tǒng)性能造成顯著影響。

舉例來說，高速串行鏈路參考時鐘的穩(wěn)定度會對誤碼率有明顯影響。對于高速串行數(shù)據(jù)鏈路設計，準確測量以及區(qū)分由器件噪聲產(chǎn)生的隨機抖動，以及由非期望干擾產(chǎn)生的周期抖動，非常有助于定位抖動問題來源，提高芯片和系統(tǒng)的性能。

羅德與施瓦茨（以下簡稱“R&S公司”）Serdes PAM4相噪測試方案具有測試速度快，儀表操作簡便的特點。方案核心是R&S 50GHz相噪分析儀FSWP50和提供高精參考時鐘的R&S信號源SMA100B。該方案已被國內(nèi)多家大型芯片設計公司選用。

R&S相噪測試方案

下圖是R&S公司提供的相噪測量方案---速率高達112Gbps的Serdes PAM4技術的相噪測量頻率在28GHz，讓我們一起來看看R&S賦能Serdes PAM4技術的成果。

技術亮點

R&S相位噪聲分析儀FSWP單表頻率覆蓋范圍高達50GHz，將高性能相位噪聲測試儀和頻譜分析儀合二為一，使用先進的數(shù)字鎖相環(huán)方法測量相位噪聲，提供互相關計算功能，可增加20dB測試動態(tài)范圍。

FSWP基于其自身極低儀表相位噪聲和高效的雜散檢測算法，適合進行分辨率要求極高。如Serdes PAM4技術中的時鐘源抖動分析，PN和AM同時測試界面如下：

R&S ADC/DAC測試

FSWP和SMA100B也可用于Serdes的ADC/DAC驗證和測試，詳細測試方案和測試項目如下：

R&S芯片測試

R&S公司是歐洲最大的測試與測量廠家，測試方案覆蓋通信、汽車和芯片測試等領域。在芯片領域致力于用高性能的芯片測試與測量解決方案迎接高速數(shù)字化帶來的挑戰(zhàn)，半導體/芯片測試方案主要包括射頻芯片測試、分立器件產(chǎn)線測試和數(shù)字芯片研發(fā)/生產(chǎn)測試解決方案。

未來，R&S公司會推出半導體/芯片測試系列方案，致力于推動中國半導體/芯片產(chǎn)業(yè)的測試發(fā)展。

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