應(yīng)對超低溫挑戰(zhàn)需要專業(yè)化的探針臺系統(tǒng)
低溫測試環(huán)境首先需要一個(gè)真空腔室,以提供合適的密封和排空的環(huán)境。使用液氮或液氦或其他制冷方法的低溫恒溫器可將溫度降至77K或更低;電阻加熱器,低溫等級溫度傳感器和溫度控制器完成溫度調(diào)節(jié)。信號通路,光學(xué)成像系統(tǒng)和探針定位器控制都需要特殊處理才能進(jìn)入極端真空/低溫環(huán)境。安全,振動和樣品安裝也為真空/低溫條件帶來了新的挑戰(zhàn)。當(dāng)溫度下降時(shí),冷凝和顆粒也是獨(dú)特的復(fù)雜影響因素。甚至探針也必須采用獨(dú)特設(shè)計(jì)以用于低溫條件。最后,盡管許多解決方案僅用于只有少量通道的單個(gè)小型切片樣品,但工藝和產(chǎn)品認(rèn)證仍需要更高級別的工具。大批量測試需要一個(gè)大型腔室,用于完整的晶圓樣品,多通道低溫探針卡,一個(gè)軟件控制的晶圓載物臺,用于跨晶圓表面的分步重復(fù)測試,以及其他一些功能,以最大限度地提高測試產(chǎn)能。
高產(chǎn)能設(shè)備居業(yè)界領(lǐng)先地位
FormFactor在高產(chǎn)能低溫晶圓測試界居于領(lǐng)先地位,具有無與倫比的強(qiáng)大功能組合:
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具有可進(jìn)行分步及重復(fù)自動化的可編程電動XYZΘ四軸架構(gòu)。
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基于影像系統(tǒng)的自動對準(zhǔn)調(diào)節(jié)的步進(jìn)系統(tǒng)。
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支持多達(dá) 8 個(gè)易操作且高穩(wěn)定的超低溫探針(用于 DC、RF 和光信號)—— 以及用于更高通道數(shù)的探針卡。
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樣品尺寸從碎片到 200mm晶圓(可提供 300mm晶圓選項(xiàng))。
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無損晶圓更換。
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支持多個(gè)黑體輻射源,顯微鏡和其他設(shè)備的可編程自動定位。
高測試產(chǎn)能可滿足客戶從實(shí)驗(yàn)室概念轉(zhuǎn)向產(chǎn)品特性分析,從設(shè)計(jì)調(diào)試到大批量工程/生產(chǎn)測試。 FormFactor的產(chǎn)品涵蓋了多種尺寸和自動化級別應(yīng)用,并提供靈活/可定制的配置。
審核編輯:符乾江
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