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數(shù)字全流程方案應(yīng)對先進(jìn)工藝設(shè)計(jì)“攔路虎”

半導(dǎo)體芯科技SiSC ? 來源: 半導(dǎo)體芯科技SiSC ? 作者: 半導(dǎo)體芯科技Si ? 2022-09-29 16:49 ? 次閱讀

來源:Cadence

半導(dǎo)體行業(yè)正在經(jīng)歷一場復(fù)興,人工智能、5G、自動(dòng)駕駛、超大規(guī)模計(jì)算和工業(yè)物聯(lián)網(wǎng)等市場的強(qiáng)勁增長,需要芯片具備更強(qiáng)的算力、更多的功能、更快的數(shù)據(jù)傳輸速度,且更加智能,這一趨勢永無止境。但面對當(dāng)前動(dòng)輒數(shù)百億顆晶體管的芯片規(guī)模,設(shè)計(jì)芯片面臨的挑戰(zhàn)正變得更加巨大且不可預(yù)測。其中,又以電源完整性(Power Integrity, PI)和信號完整性(Signal Integrity, SI)最具代表性。

日前,專注于人工智能領(lǐng)域云端算力的燧原科技(Enflame)就宣布采納Cadence Tempus電源完整性解決方案,用于開發(fā)面向數(shù)據(jù)中心的先進(jìn)節(jié)點(diǎn)人工智能(AI)芯片。公開數(shù)據(jù)顯示,Tempus電源完整性解決方案助力燧原科技在不影響簽核質(zhì)量的前提下降低IR壓降的設(shè)計(jì)裕度,對比傳統(tǒng)基于矢量的IR感知靜態(tài)時(shí)序分析(STA),敏感器件傳播路徑分析覆蓋率提高40%。

Tempus(圖片:Cadence)

IR壓降引發(fā)的“雪崩效應(yīng)”

“先進(jìn)節(jié)點(diǎn)環(huán)境下,IR壓降對時(shí)序分析有很大影響?!膘菰萍夹酒呒壙偙O(jiān)柴菁表示,為了確保AI芯片設(shè)計(jì)達(dá)到最高的可靠性,設(shè)計(jì)人員不但需要精確的進(jìn)行IR壓降分析,還需要設(shè)計(jì)工具能夠自動(dòng)檢測并修復(fù)IR壓降問題,實(shí)現(xiàn)更快的開發(fā)時(shí)間和PPA獲益,避免流片前的失效。

IR壓降分析是一項(xiàng)關(guān)鍵的簽核技術(shù),這是毋庸置疑的。但有意思的是,在傳統(tǒng)的設(shè)計(jì)流程或是成熟工藝?yán)铮?a target="_blank">供電完整性問題其實(shí)并沒有得到如此之高的重視。通常情況下,設(shè)計(jì)人員會(huì)在整個(gè)設(shè)計(jì)流程的收尾階段進(jìn)行供電完整性驗(yàn)證,如果出現(xiàn)了較大的IR壓降問題再著手進(jìn)行修復(fù)。

但在先進(jìn)節(jié)點(diǎn)和日趨復(fù)雜的芯片架構(gòu)環(huán)境下,一方面,如果布線的供電電壓出現(xiàn)明顯降低,將導(dǎo)致與之相連的邏輯單元性能下降,并由此引發(fā)“雪崩效應(yīng)”,導(dǎo)致整個(gè)模塊性能下降。另一方面,由于熱密度在逐漸變大,導(dǎo)致局部IR壓降的不確定性也在變大,如果仍然在流程末尾才進(jìn)行供電完整性分析,出現(xiàn)芯片設(shè)計(jì)無法修復(fù)的現(xiàn)象將成為大概率事件。

除此之外,面對一些針對高性能項(xiàng)目,設(shè)計(jì)師還要關(guān)注局部關(guān)鍵路徑的時(shí)序狀況,這和傳統(tǒng)時(shí)序分析中的全局時(shí)序分析又有所不同。因?yàn)榧幢銓⒄w供電電壓降低10%(相比之下,IR壓降通常以5%為臨界點(diǎn)),也很難尋找出那些因IR壓降問題而讓時(shí)序變得敏感的路徑,而這些恰恰是影響一顆高性能芯片能否達(dá)到設(shè)計(jì)目標(biāo)的關(guān)鍵所在。

如果再具體到數(shù)字設(shè)計(jì)和簽核工具上,以Cadence為例,針對信號完整性問題,Cadence推出了Tempus時(shí)序分析工具;針對供電完整性問題,Voltus功耗分析工具可以勝任。在先進(jìn)工藝設(shè)計(jì)中,兩個(gè)分析工具之間的反復(fù)切換看似沒有什么問題,但實(shí)際上,由于兩者是分別進(jìn)行計(jì)算和修復(fù),常常會(huì)導(dǎo)致出現(xiàn)“按下葫蘆起了瓢”的現(xiàn)象,很難同時(shí)兼顧時(shí)序和供電問題,導(dǎo)致反復(fù)修改,浪費(fèi)時(shí)間。

雙引擎找到電壓降的最優(yōu)路徑

于是,在2019年11月,Cadence發(fā)布了Tempus電源完整性解決方案,這是業(yè)界率先推出的靜態(tài)時(shí)序/信號完整性和電源完整性分析工具,幫助工程師在7nm及更小節(jié)點(diǎn)創(chuàng)建可靠設(shè)計(jì)。

Tempus電源完整性解決方案集成了業(yè)界廣泛使用的Cadence Tempus時(shí)序簽核解決方案與Voltus IC電源完整性解決方案,為簽核流程提供了實(shí)時(shí)電壓降協(xié)同仿真。使用這款工具,用戶可以在不犧牲簽核質(zhì)量的前提下大幅降低IR壓降設(shè)計(jì)余量,優(yōu)化功耗和面積,減少工程量并加快設(shè)計(jì)收斂。早期使用案例表明,Tempus電源完整性解決方案可以正確識別IR壓降錯(cuò)誤,在流片前預(yù)防出現(xiàn)硅片故障,并將硅片最大頻率提高10%。

該工具的其他主要優(yōu)勢還包括:

降低IR壓降設(shè)計(jì)余量,優(yōu)化功耗和面積;

用專有的無激勵(lì)算法識別電壓敏感路徑:將靈敏度分析與通過機(jī)器學(xué)習(xí)(ML)技術(shù)開發(fā)的專有算法相結(jié)合,有效識別最有可能受到IR壓降影響的關(guān)鍵路徑。Tempus電源完整性解決方案可以高效提高IR壓降分析覆蓋范圍,無需額外且耗時(shí)的外部激勵(lì)輸入;

智能激勵(lì)生成和IR壓降時(shí)序影響的直接計(jì)算減少了對更大安全余量的需求,從而優(yōu)化功耗和面積;

全面的簽核覆蓋:自動(dòng)創(chuàng)建激勵(lì)以實(shí)現(xiàn)完全覆蓋,同時(shí)搜索電壓敏感路徑上的潛在故障,從而提高簽核IR壓降分析的可靠性;

查找并修復(fù)潛在的IR壓降故障:電壓敏感高風(fēng)險(xiǎn)故障場景的預(yù)知性能夠幫助設(shè)計(jì)人員在設(shè)計(jì)早期發(fā)現(xiàn)潛在問題并自動(dòng)修復(fù)。

在隨后的2020年3月,Cadence又發(fā)布已經(jīng)過數(shù)百次先進(jìn)工藝節(jié)點(diǎn)成功流片驗(yàn)證的新版Cadence數(shù)字全流程,支持機(jī)器學(xué)習(xí)(ML)功能的統(tǒng)一布局布線和物理優(yōu)化引擎等多項(xiàng)業(yè)界首創(chuàng)技術(shù),吞吐量最高提升3倍,PPA最高提升20%。細(xì)化到優(yōu)化簽核收斂方面,數(shù)字全流程采用統(tǒng)一的設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn),時(shí)序簽核及電壓降簽核引擎,通過所有物理,時(shí)序和可靠性目標(biāo)設(shè)計(jì)的同時(shí)收斂來增強(qiáng)簽核性能,幫助用戶降低設(shè)計(jì)裕度,減少迭代。

而為了更好的推進(jìn)RTL-to-GDS全流程自動(dòng)優(yōu)化,提高整個(gè)設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)的工作效率,尤其是解決初學(xué)者在設(shè)計(jì)工作中遇到的巨大挑戰(zhàn)。2021年7月,Cadence在自身廣泛數(shù)字解決方案中增加了首款基于機(jī)器學(xué)習(xí)的設(shè)計(jì)工具Cerebrus,與Genus Synthesis Solution綜合解決方案、Innovus Implementation System設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)、Tempus Timing Signoff Solution時(shí)序簽核解決方案中的數(shù)十步流程實(shí)現(xiàn)無縫對接,實(shí)現(xiàn)了更快的流程優(yōu)化。

結(jié)語:

選擇7nm及以下的先進(jìn)設(shè)計(jì),都是為了最求更高的頻率、更低的功耗或更小的面積。為了在不超出功耗限制或妥協(xié)電源完整性的前提下達(dá)到高頻率需求,電氣和物理簽核收斂必須足夠精確。

因此,在過去幾年里,從Genus綜合解決方案提供的RTL綜合平臺,到面向先進(jìn)節(jié)點(diǎn)設(shè)計(jì)的Innovus設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)平臺,再到流程下游的電氣簽核技術(shù)(包括Tempus時(shí)序簽核解決方案的靜態(tài)時(shí)序分析功能、面向電源及IR壓降簽核的Voltus IC定制化電源完整性解決方案)和Pegasus驗(yàn)證系統(tǒng),Cadence對由設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)和簽核技術(shù)組成的數(shù)字全流程進(jìn)行了全面的重新開發(fā),以應(yīng)對先進(jìn)節(jié)點(diǎn)設(shè)計(jì)帶來的挑戰(zhàn)。目前,Cadence數(shù)字全流程在所有先進(jìn)FinFET節(jié)點(diǎn)被廣泛采納,7nm及以下節(jié)點(diǎn)已成功流片200+。

關(guān)于Cadence:

Cadence在計(jì)算軟件領(lǐng)域擁有超過30年的專業(yè)經(jīng)驗(yàn),是電子系統(tǒng)設(shè)計(jì)產(chǎn)業(yè)的關(guān)鍵領(lǐng)導(dǎo)者。基于公司的智能系統(tǒng)設(shè)計(jì)戰(zhàn)略,Cadence致力于提供軟件、硬件和IP產(chǎn)品,助力電子設(shè)計(jì)概念成為現(xiàn)實(shí)。Cadence的客戶遍布全球,皆為最具創(chuàng)新能力的企業(yè),他們向超大規(guī)模計(jì)算、5G通訊、汽車、移動(dòng)、航空、消費(fèi)電子、工業(yè)和醫(yī)療等最具活力的應(yīng)用市場交付從芯片、電路板到完整系統(tǒng)的卓越產(chǎn)品。Cadence已連續(xù)八年名列美國財(cái)富雜志評選的100家最適合工作的公司。

審核編輯 黃昊宇

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