嵌入式模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)無法按照數(shù)據(jù)手冊執(zhí)行的原因是表征環(huán)境與您的應(yīng)用不匹配。區(qū)別在于集成電路(IC)制造商的清潔和受控表征環(huán)境中不存在的噪聲(電磁干擾)。
在開始責(zé)怪表征工程師之前,讓我們先了解一下嵌入式ADC只是微控制器(MCU)的眾多外設(shè)之一。組合和排列的數(shù)量使得跨所有用例的完整表征變得不切實(shí)際。由于制造商只選擇一部分用例(通常是性能更好的用例),因此這些用例與您的特定應(yīng)用程序之間可能存在差距。在本系列文章中,我們將提供有關(guān)如何揭開這一差距的指導(dǎo)。
本系列文章由四部分組成,介紹了有助于ADC性能的不同組件,以及您可以采用的不同技術(shù)來專門解決噪聲問題。第一期將討論ADC的不同組件。第二部分將討論時鐘和參考選擇。第三和第四部分將討論如何通過用戶配置和印刷電路板(PCB)布局提高性能,第四部分將重點(diǎn)介紹差分輸入對數(shù)據(jù)采集的好處。
為什么您的嵌入式ADC性能與數(shù)據(jù)手冊不匹配
IC制造商希望在數(shù)據(jù)手冊中展示最佳性能;因此,他們選擇使其設(shè)備處于最佳光線的配置。一些IC制造商會在兩種不同的配置下顯示一個參數(shù),或者包括一個圖表,顯示不同的配置將如何影響性能,但在沒有這兩種配置的情況下,假設(shè)您在數(shù)據(jù)手冊中看到的是最佳情況。仔細(xì)注意測試條件很重要。
讓我們回顧幾個影響性能的常見配置參數(shù),并提供一些指南,說明如何獲取參數(shù)條件與您的用例不匹配的數(shù)據(jù)手冊,同時仍然知道預(yù)期性能。
數(shù)據(jù)手冊僅將ADC激活,因此噪聲較低。為了獲得ADC性能數(shù)據(jù),器件被置于低功耗模式,中央處理器(CPU)處于非活動狀態(tài),以最大限度地降低噪聲。如果您奢侈地限制ADC測量期間的開啟時間,那么數(shù)據(jù)手冊的性能可以很好地反映您可以達(dá)到的性能水平。但是,如果CPU負(fù)載過重,并且其他任務(wù)在器件、電路板和系統(tǒng)級別運(yùn)行,則最好盡早對性能進(jìn)行臺架測試,以確保ADC滿足您的需求。本系列的第三和第四部分將討論電路板的 PCB 注意事項(xiàng),以最大限度地提高性能。
穩(wěn)壓器架構(gòu)。如果您可以選擇內(nèi)部低壓差穩(wěn)壓器 (LDO) 和 DC/DC 轉(zhuǎn)換器,則 LDO 可將片內(nèi)噪聲降至最低。如果要最大限度地延長電池壽命并選擇DC/DC轉(zhuǎn)換器,則開關(guān)噪聲可能會降低ADC性能,其程度取決于輸入信號頻率,并且不同ADC和不同開關(guān)頻率的DC/DC轉(zhuǎn)換器之間是不同的。
數(shù)據(jù)手冊僅顯示ADC性能,不顯示信號鏈性能。MCU可能包含其他組件,如運(yùn)算放大器和數(shù)模轉(zhuǎn)換器(DAC),可用于通往ADC的信號鏈。當(dāng)在信號路徑中使用時,它們引起的噪聲會降低ADC的輸入,從而增加ADC輸出中的噪聲。數(shù)據(jù)手冊通常只顯示ADC性能,片上活動越多,頻率越高,ADC性能下降幅度越大。ADC是模擬前端的最后一部分,但額外的后置數(shù)字濾波可以進(jìn)一步提高性能。此外,如果ADC的采樣量超過輸入信號的奈奎斯特速率,則可以在系統(tǒng)級實(shí)現(xiàn)過采樣以改善SNR,因?yàn)榭梢詾V除帶外量化和熱噪聲[1]。
配置(模式)。大多數(shù)ADC都具有可配置性,允許您自定義速度、性能和電流等權(quán)衡。因此,單個數(shù)據(jù)手冊值可能無法涵蓋所有可能配置的性能。集成到MCU中的ADC通常具有更高的可配置性,以便在各種用例中優(yōu)化ADC的功耗和性能。下面是性能參數(shù)的兩個示例,以及配置如何影響它們。
電流消耗。電流通常是多種因素的結(jié)果,并隨配置而變化。參考文獻(xiàn)[2]提供了更詳細(xì)的低功耗特性和ADC可配置性列表。一些數(shù)據(jù)手冊將具有典型曲線,顯示電流如何隨不同配置而變化。圖1來自ADC數(shù)據(jù)手冊,顯示了功率模式(PWRMD = 2為低功耗模式)和單端或差分端輸入如何影響ADC的典型電流消耗。
圖 1:不同 ADC 配置下的電流與采樣速率的關(guān)系
(注意:列出了典型值以供參考,您可以使用實(shí)際使用配置跨設(shè)備進(jìn)行表征,以獲得更好的代表性參數(shù)值。數(shù)據(jù)手冊的參數(shù)最大值包括過程變化,因此必須按原樣使用。
采樣率。影響采樣速率的因素有幾個,包括轉(zhuǎn)換時鐘頻率、采樣和保持時間,以及任何特殊模式或功能,如集成窗口比較器。器件數(shù)據(jù)手冊將列出特定源電阻和電容的最短采樣時間,但如果要測量的源電阻較大,則ADC需要更長的采樣時間才能最大限度地提高ADC性能。制造商應(yīng)在數(shù)據(jù)手冊和/或參考手冊中記錄ADC的最小采樣時間方程。參考文獻(xiàn)[3]顯示了特定器件的最小采樣時間方程和示例計(jì)算示例。
電源電壓。MCU具有相當(dāng)寬的工作范圍,可以支持許多應(yīng)用,尤其是電池供電的應(yīng)用。寬范圍并不總是與ADC匹配,這可能需要更高的最小電源電壓。如果這是一個限制,則可以在數(shù)據(jù)手冊中找到ADC操作的最小電源電壓,通常是ADC參數(shù)表中的一行。根據(jù)ADC架構(gòu)和設(shè)計(jì),在較低電源電壓下性能可能會下降,因此請仔細(xì)查看所用電源電壓的數(shù)據(jù)手冊測試條件。數(shù)據(jù)手冊以不同的方式顯示測試條件,包括腳注、數(shù)據(jù)手冊中的一列和/或表格標(biāo)題。一些數(shù)據(jù)手冊用圖表補(bǔ)充了表格條目,這些圖表顯示了性能如何隨電壓或溫度變化。
在電池供電應(yīng)用中,了解電池工作電壓范圍內(nèi)的性能對于成功的設(shè)計(jì)至關(guān)重要。如果您的應(yīng)用需要的電源電壓低于數(shù)據(jù)手冊所示的ADC參數(shù),請檢查應(yīng)用最小電源下的性能,以了解其是否滿足您的性能要求。
當(dāng)電源變化時,例如直接電池連接,某些參數(shù)值可能會在整個電源電壓范圍內(nèi)發(fā)生變化。電源抑制比(PSRR)是一種衡量標(biāo)準(zhǔn),但也要尋找具有單位*/V電源的任何參數(shù)。
可能受電源變化影響的其他參數(shù)包括增益和失調(diào)誤差。請記住,電源變化的影響取決于ADC。某些ADC可能會進(jìn)行子穩(wěn)壓(例如,使用內(nèi)部LDO),以始終具有獨(dú)立于器件電源的相同電壓電源。
時鐘。MCU中的ADC通常具有可配置的時鐘源。時鐘抖動越高,非直流信號的信噪比 (SNR) 越低。內(nèi)部振蕩器通常具有最高的抖動,而外部時鐘具有最低的抖動。內(nèi)部振蕩器是低電流和低成本解決方案的首選,只要抖動不會降低低于所需性能的性能。MCU數(shù)據(jù)手冊通常沒有規(guī)定內(nèi)部時鐘的抖動??梢匀萑痰亩秳恿咳Q于應(yīng)用。您將需要更多詳細(xì)信息來了解如何為您的應(yīng)用選擇合適的時鐘,我們將在第 2 部分中介紹。
引用。大多數(shù)MCU ADC提供內(nèi)部基準(zhǔn)電壓源,或支持使用外部基準(zhǔn)電壓源。外部基準(zhǔn)提供更高的性能,但會增加成本,并且通常具有更高的電流。第 2 部分將詳細(xì)介紹,以幫助您為應(yīng)用選擇正確的參考源。
無論選擇哪種基準(zhǔn)電壓源,如果集成ADC支持輸入基準(zhǔn)電壓的范圍,那么了解基準(zhǔn)電壓電平如何影響性能非常重要。選擇較低的基準(zhǔn)電壓可減小最低有效位(LSB)的大小,從而減小整體(滿量程)范圍,從而解決較小的電壓變化。通過基準(zhǔn)電壓電平的信號降低會影響性能,如公式1所示:
其中SIGNAL是小于或等于基準(zhǔn)電壓的滿量程ADC輸入。
圖2顯示了SNR如何隨著基準(zhǔn)電壓的降低而降低。在相同的噪聲下,當(dāng)信號較小時(在基準(zhǔn)電壓較低的情況下),SNR較低。因此,為了最大限度地提高性能,請記住ADC的全動態(tài)范圍;如有必要,對ADC輸入進(jìn)行預(yù)調(diào)理或放大,以使用整個ADC動態(tài)范圍。
在無法使用放大器的情況下,請選擇大于最大輸入信號的最小參考電壓電平。例如,如果輸入信號為1.9V,并且有2V和4V的基準(zhǔn)電壓源可用,則與直接使用2V基準(zhǔn)測量1.9V相比,將輸入放大2倍并使用4V基準(zhǔn)將提供更好的SNR。例如,如果ADC輸入信號為0V至1.9V,則2V基準(zhǔn)優(yōu)于2.5V基準(zhǔn)。
結(jié)論
第一部分重點(diǎn)介紹了影響ADC性能的不同配置和組件。配置因設(shè)備而異,在做出組件決策時,您需要了解這些配置。然而,除了配置之外,還有一些ADC的基本組件需要更詳細(xì)地探索,這些組件與所有MCU相關(guān)。在第2部分中,我們將探討ADC時鐘和基準(zhǔn)電壓源選項(xiàng)。
審核編輯:郭婷
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