AI/ML助力SoC驗(yàn)證按期完工

單顆芯片上集成的晶體管數(shù)量，已經(jīng)超過全球人口總數(shù)，且還在提升過程中。雖然晶體管不像人這樣復(fù)雜，但將數(shù)十上百億顆晶體管在方寸之間安置好，顯然不是一個(gè)輕松的工作，而在先進(jìn)工藝節(jié)點(diǎn)做開發(fā)的芯片設(shè)計(jì)公司，每日面對的就是各種“十億（Billion）”級別的工作，集成的晶體管以十億個(gè)起步，研發(fā)成本在十億元（人民幣）級別，面向的市場規(guī)模至少10億美元起。這樣浩大的工程，往往容不得出大的差錯(cuò)，因?yàn)榇蟮牟铄e(cuò)通常不能通過軟件來繞開，需要改版，改版很可能就趕不上市場窗口期，趕不上市場窗口這個(gè)項(xiàng)目很可能將顆粒無收......

驗(yàn)證難度在不斷增加

減少差錯(cuò)，離不開驗(yàn)證。芯片驗(yàn)證的目的，就是利用各種語言、工具和方法來保證芯片設(shè)計(jì)的正確性，確保設(shè)計(jì)的功能指標(biāo)符合規(guī)格書要求，且設(shè)計(jì)中的風(fēng)險(xiǎn)與缺陷（bug）已經(jīng)得到有效控制，只有完成驗(yàn)證的設(shè)計(jì)，才能進(jìn)行流片，準(zhǔn)備生產(chǎn)。驗(yàn)證是一種防患于未然的手段，有了完備的驗(yàn)證工作，才能保證研發(fā)投入的安全。

隨著集成度的增加，完成驗(yàn)證所需要探索的空間和范圍不斷延伸，驗(yàn)證正在變得越來越有挑戰(zhàn)。數(shù)十上百億個(gè)晶體管構(gòu)成的模塊成千上萬，雖然通過設(shè)計(jì)重用和IP化開發(fā)可以大幅減少設(shè)計(jì)的工作量，但每個(gè)模塊之間的互連都會(huì)增加驗(yàn)證的工作量，要遍歷設(shè)計(jì)中的風(fēng)險(xiǎn)與bug越來越難，不亞于“大海撈針”。驗(yàn)證工作量在芯片開發(fā)工作中的比重不斷攀升，根據(jù)市場研究機(jī)構(gòu) Wilson Research Group的統(tǒng)計(jì)，2020年，在一個(gè)典型的ASIC項(xiàng)目中，驗(yàn)證成本占研發(fā)總成本比例約為60%至80%，而在十五年前，驗(yàn)證占研發(fā)成本的比例還不超過50%。此外，值得注意的是，當(dāng)前約有68%的芯片項(xiàng)目，落后于規(guī)定時(shí)間，其中驗(yàn)證工作難以按時(shí)完成是導(dǎo)致項(xiàng)目延誤的主要原因之一。

圖片來源：gsaglobal.org

當(dāng)前，在大數(shù)據(jù)、物聯(lián)網(wǎng)等新興產(chǎn)業(yè)的帶動(dòng)下，數(shù)據(jù)持續(xù)爆炸式增長，因而對算力、帶寬和存儲能力的需求持續(xù)增加，帶動(dòng)芯片集成度與復(fù)雜度持續(xù)提升，但芯片開發(fā)周期并未得到相應(yīng)的拉長，所以驗(yàn)證工程師面臨最大的問題就是如何用更少的時(shí)間來完成更多的驗(yàn)證工作，以保證驗(yàn)證的效率和覆蓋率。

要實(shí)現(xiàn)這一點(diǎn)，就離不開新工具和新驗(yàn)證方法學(xué)的引入。其中，基于機(jī)器學(xué)習(xí)（ML）和人工智能（AI）的新驗(yàn)證方法學(xué)，頗有前景。近年來，機(jī)器學(xué)習(xí)與人工智能在EDA領(lǐng)域已經(jīng)取得了諸多進(jìn)展，例如，可以通過人工智能與機(jī)器學(xué)習(xí)，讓EDA工具自主搜索在設(shè)計(jì)空間中的最佳設(shè)計(jì)結(jié)果，傳統(tǒng)的設(shè)計(jì)空間優(yōu)化一直是勞動(dòng)密集型工作，往往需要數(shù)月工程時(shí)間，引入人工智能技術(shù)后，可以大幅加快開發(fā)進(jìn)度。一個(gè)例子就是三星電子已在多個(gè)項(xiàng)目中采用新思科技的DSO.ai，不僅實(shí)現(xiàn)了更優(yōu)的性能、功耗和面積（PPA），而且大幅降低了芯片的整體功耗，最重要的是，還為三星節(jié)省了數(shù)周的人工設(shè)計(jì)工作，從而明顯提升了開發(fā)效率，有效降低了開發(fā)成本。

同樣的，機(jī)器學(xué)習(xí)與人工智能在驗(yàn)證空間檢索、覆蓋率收斂計(jì)算等方面比人工有較大優(yōu)勢。通過使用基于AI/ML技術(shù)的驗(yàn)證工具，工程師可以不必再花大量的時(shí)間去編寫數(shù)千個(gè)測試腳本以完成覆蓋率收斂，而是通過AI技術(shù)進(jìn)行激勵(lì)分布診斷和根本原因分析，快速全面地將激勵(lì)反饋納入覆蓋范圍，從而加快覆蓋率收斂，極大縮短回歸周期。AI/ML技術(shù)還能檢出更多bug，包括測試平臺中的潛在問題，待測件（DUT）中的問題等。

圖片來源：semiengineering.com

在靜態(tài)驗(yàn)證、形式化驗(yàn)證、仿真和調(diào)試等環(huán)節(jié)，都可以通過引入人工智能/機(jī)器學(xué)習(xí)技術(shù)而大幅受益。

人工智能在芯片驗(yàn)證上的應(yīng)用

靜態(tài)驗(yàn)證是把時(shí)序驗(yàn)證和邏輯功能驗(yàn)證分開來做，不需要加激勵(lì)。當(dāng)前的靜態(tài)解決方案主要包含跨時(shí)鐘域檢查（CDC）、跨復(fù)位域檢查（RDC）和低功耗設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)檢查，靜態(tài)驗(yàn)證階段可以檢測到常規(guī)項(xiàng)目約10%的錯(cuò)誤。靜態(tài)驗(yàn)證工具可以檢出數(shù)千個(gè)違規(guī)情況，這些違規(guī)情況的鑒別與處理往往耗時(shí)耗力，通過機(jī)器學(xué)習(xí)，可以對具有共性特征的違規(guī)情況（可能有數(shù)十上百條）合并到一個(gè)集群中，從而為工程師節(jié)省大量的時(shí)間和精力。

新思科技VC SpyGlass 平臺和新思科技 VC LP 綜合性靜態(tài)低功耗驗(yàn)證解決方案能夠提供所有靜態(tài)驗(yàn)證所需的功能，SmartGroup 技術(shù)可執(zhí)行高級聚類，大幅減少需檢查的違規(guī)行為數(shù)量，而 RCA 則可以加速每個(gè)集群的調(diào)試。以ML技術(shù)為基礎(chǔ)的違規(guī)行為聚類與RCA相結(jié)合，可將常規(guī)芯片項(xiàng)目靜態(tài)驗(yàn)證的調(diào)試效率提升近 10 倍。

形式化驗(yàn)證可提供針對一組屬性的設(shè)計(jì)綜合分析，也不需要激勵(lì)。分析過程會(huì)考慮所有可能的合法輸入序列。形式化驗(yàn)證可以檢測出在仿真過程中難以觸發(fā)的深層錯(cuò)誤，形式化驗(yàn)證檢出的錯(cuò)誤占項(xiàng)目總體錯(cuò)誤比例通常約為20%。形式化驗(yàn)證工具通常有數(shù)十個(gè)求解器，以處理設(shè)計(jì)中需要驗(yàn)證的成百上千個(gè)屬性，在過去20年，形式化驗(yàn)證技術(shù)已經(jīng)取得了很大進(jìn)步，而人工智能技術(shù)又在提高收斂性和優(yōu)化結(jié)果方面，讓形式化驗(yàn)證更進(jìn)一步。新思科技的VC Formal是業(yè)內(nèi)首個(gè)在求解器編排、回歸和調(diào)試中利用到機(jī)器學(xué)習(xí)技術(shù)的形式化驗(yàn)證工具，借助機(jī)器學(xué)習(xí)，VC Formal RMA可將運(yùn)行速度提升2至5倍。

仿真是芯片驗(yàn)證的核心，一個(gè)大型SoC的仿真可能包含數(shù)千個(gè)測試，且每天都在機(jī)器上跑仿真。在仿真過程中檢測出的錯(cuò)誤，約占項(xiàng)目總數(shù)的65%。在仿真過程中，檢測出問題后需要對設(shè)計(jì)進(jìn)行修改，然后再次仿真，這就是回歸測試，修改可能會(huì)造成新的問題，所以頻繁的回歸測試在驗(yàn)證中是常態(tài)，這也是影響仿真效率的主要因素。通過引入AI技術(shù)，可以加速回歸測試的速度。

在進(jìn)行仿真和回歸測試時(shí)，EDA仿真器大量的選項(xiàng)和開關(guān)對設(shè)計(jì)的性能有重大影響，驗(yàn)證者需要有時(shí)間和專業(yè)度，才能把特定設(shè)計(jì)和測試平臺的仿真器設(shè)置做好，而不停地回歸測試很可能會(huì)造成誤操作，通過機(jī)器學(xué)習(xí)來維護(hù)仿真器的選項(xiàng)和開關(guān)設(shè)置，可以極大地提高回歸性能和效率。

新思科技 VCS仿真器中的動(dòng)態(tài)性能優(yōu)化 (DPO) 技術(shù)就是利用 AI 來改進(jìn)仿真性能，與手動(dòng)進(jìn)行仿真器設(shè)置相比，DPO可使仿真運(yùn)行速度提高 1.3 - 2 倍。此外，通過基于機(jī)器學(xué)習(xí)的智能覆蓋率優(yōu)化（ICO），可以優(yōu)化受約束的隨機(jī)激勵(lì)的統(tǒng)計(jì)質(zhì)量，并提供影響覆蓋率的測試問題分析結(jié)果，ICO可以將覆蓋率的收斂速度提高2-3倍。

為實(shí)現(xiàn)目標(biāo)覆蓋率，工程師要運(yùn)行無數(shù)次仿真回歸，每次回歸失敗時(shí)，團(tuán)隊(duì)都需要修復(fù)錯(cuò)誤以重新測試，如果全部手動(dòng)處理，則將給工程項(xiàng)目帶來巨大負(fù)擔(dān)。借助人工智能技術(shù)，可以解決調(diào)試難題。新思科技Verdi 自動(dòng)調(diào)試系統(tǒng)中的回歸調(diào)試自動(dòng)化 (RDA) 功能可自動(dòng)分箱、探查并發(fā)現(xiàn)回歸失敗的根本原因。RDA 利用人工智能算法對回歸失敗進(jìn)行分類和分析，并確定設(shè)計(jì)和測試平臺中失敗的根本原因，該技術(shù)縮短了RCA時(shí)間，并將整體調(diào)試效率提高了2倍。

總結(jié)

驗(yàn)證已經(jīng)成為大型SoC開發(fā)過程中工作量最大的部分，驗(yàn)證負(fù)責(zé)人經(jīng)常被問到兩個(gè)靈魂問題：什么時(shí)候能測完？還有沒有嚴(yán)重的bug？

要回答這兩個(gè)問題并不容易，但回答不了這兩個(gè)問題，往往意味著難以流片。在人工智能和機(jī)器學(xué)習(xí)技術(shù)加持下，驗(yàn)證效率和結(jié)果持續(xù)得到優(yōu)化，對驗(yàn)證人力的需求得到了緩解，任務(wù)的增量不再那么可怕，以技術(shù)的手段來解決遇到的技術(shù)難題，這就是工程師們的使命吧。

審核編輯：劉清