芯片測(cè)試方案之電源芯片片輸入閾值的測(cè)試方法

在芯片眾多特殊的引腳中，EN引腳無(wú)疑是最為重要的一個(gè)。EN引腳又稱使能引腳(Enable pins)，不同的芯片對(duì)其稱呼也有所不同，如EA、RUN等，它的作用極為重要，因?yàn)橹挥蠩N引腳激活導(dǎo)通時(shí)，芯片才能正常的輸出。在芯片測(cè)試中EN端的輸入閾值電壓也是非常重要的參數(shù)。

如何測(cè)試EN端輸入閾值?

和啟動(dòng)電壓的測(cè)試有些類似，EN端的輸入閾值測(cè)試也是需要一臺(tái)電源和一臺(tái)萬(wàn)用表，在測(cè)試時(shí)我們需要保證VIN端輸入啟動(dòng)電壓，然后EN端的輸入電壓從0緩慢遞增，直至VOUT的萬(wàn)用表中測(cè)得正常的輸出電壓，此時(shí)EN端輸入的電壓即為輸入閾值電壓。因?yàn)镋N端的輸入電壓緩慢遞增所以直到EN端的電壓值達(dá)到輸入閾值的電壓時(shí)，芯片才會(huì)正常輸出，所以此時(shí)VOUT端測(cè)試的電壓值會(huì)突然跳變?yōu)轭~定的輸出電壓。

整個(gè)測(cè)試過程中我們需要在連接完硬件儀器后，通過緩慢的調(diào)整電源的電壓，同時(shí)調(diào)整是需要注意萬(wàn)用表的輸出電壓，在輸出電壓跳變的瞬間，記錄電源中EN段的輸入電壓，整個(gè)測(cè)試過程大概需要5-10分鐘。

芯片測(cè)試系統(tǒng)

芯片測(cè)試系統(tǒng)如何對(duì)芯片的輸入閾值進(jìn)行測(cè)試?

相比于手動(dòng)測(cè)試芯片測(cè)試系統(tǒng)的自動(dòng)化測(cè)試也是需要提前將硬件儀器連接完成，不過后續(xù)的步驟和手動(dòng)測(cè)試有著本質(zhì)的區(qū)別，芯片測(cè)試系統(tǒng)除了需要測(cè)試使用的硬件儀器之外，還需要一臺(tái)邊緣計(jì)算設(shè)備和一臺(tái)計(jì)算機(jī)。用戶需要讓儀器、邊緣計(jì)算設(shè)備以及計(jì)算機(jī)處于同一網(wǎng)絡(luò)內(nèi)即可使用測(cè)試系統(tǒng)程控儀器進(jìn)行全自動(dòng)測(cè)試。

相比于手動(dòng)測(cè)試需要不停的調(diào)整EN端的輸入電壓和實(shí)時(shí)觀測(cè)電壓表的數(shù)據(jù)，芯片測(cè)試系統(tǒng)可以控制電壓自動(dòng)依次增加EN端的輸入電壓，同時(shí)檢測(cè)電壓表讀數(shù)，只要電壓表讀數(shù)達(dá)到要求即可直接將電壓數(shù)據(jù)記錄采集到云端服務(wù)器，還可以直接進(jìn)行數(shù)據(jù)運(yùn)算和分析，整個(gè)測(cè)試過程只需1-2分鐘，尤其適用于大批量產(chǎn)線測(cè)試以及高精度研發(fā)測(cè)試等場(chǎng)景。

綜上我們可以直觀地了解到芯片測(cè)試系統(tǒng)相對(duì)手動(dòng)測(cè)試而言在測(cè)試效率上可以提升5-10倍，同時(shí)免去人工度數(shù)計(jì)算和記錄數(shù)據(jù)，可以有效避免人工誤差，針對(duì)大批量不同規(guī)格的芯片測(cè)試這些優(yōu)勢(shì)尤為明顯，這些優(yōu)勢(shì)可以極大的為企業(yè)減少時(shí)間、人力成本，因此越來(lái)越多的企業(yè)、研究所選擇芯片自動(dòng)化智能測(cè)試系統(tǒng)來(lái)提升企業(yè)的核心競(jìng)爭(zhēng)力，從而實(shí)現(xiàn)真正的自動(dòng)化、智能化測(cè)試。

審核編輯：湯梓紅