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MLCC斷裂問題解決方案

方齊煒 ? 來源:jf_48691434 ? 作者:jf_48691434 ? 2024-10-16 09:43 ? 次閱讀

電子制造領(lǐng)域,MLCC(多層陶瓷電容器)因其小尺寸、高可靠性和低成本而成為應(yīng)用最廣泛的被動(dòng)元件之一。然而,MLCC的抗斷裂能力一直是業(yè)界關(guān)注的焦點(diǎn),尤其是在面對(duì)極端溫度變化、機(jī)械應(yīng)力或振動(dòng)等惡劣環(huán)境時(shí),MLCC的機(jī)械強(qiáng)度和可靠性更是至關(guān)重要。

MLCC斷裂問題的原因分析

MLCC的斷裂問題通常與多種因素有關(guān)。根據(jù)多年對(duì)MLCC失效的分析結(jié)果,我們可以了解到MLCC失效的原因主要包括組裝缺陷、本體缺陷以及外界因素。組裝過程中,不當(dāng)?shù)暮附蛹夹g(shù)可能導(dǎo)致焊錫量過多,從而在MLCC上產(chǎn)生高張力,引起內(nèi)部斷裂或脫帽現(xiàn)象。此外,PCB板在制造和使用過程中的彎曲、熱膨脹系數(shù)不匹配、以及機(jī)械操作等都可能導(dǎo)致MLCC承受過大的機(jī)械應(yīng)力,進(jìn)而產(chǎn)生裂紋。

MLCC斷裂問題的行業(yè)解決方案

為了解決MLCC的斷裂問題,行業(yè)內(nèi)已經(jīng)開發(fā)出多種優(yōu)化產(chǎn)品和對(duì)策。以下是一些有效的解決方案:

陶瓷材料優(yōu)化:通過改進(jìn)陶瓷材料的配方,提高其耐溫性和抗彎曲能力。

端頭優(yōu)化:改進(jìn)MLCC的端頭結(jié)構(gòu),以增強(qiáng)其抗機(jī)械應(yīng)力的能力。樹脂電極產(chǎn)品在銅與鎳之間添加了導(dǎo)電性樹脂層,有效緩解了外部應(yīng)力,避免了裂紋的產(chǎn)生。

結(jié)構(gòu)改變:采用開路內(nèi)部涉及理念,即使產(chǎn)品出現(xiàn)機(jī)械裂紋,也可以保證其內(nèi)部不會(huì)應(yīng)開路導(dǎo)致的電阻錯(cuò)誤造成短路;

工藝控制:在生產(chǎn)過程中,嚴(yán)格控制MLCC的生產(chǎn)工藝,如燒結(jié)溫度、層壓壓力和共燒溫度,以確保MLCC的質(zhì)量和可靠性。

設(shè)計(jì)優(yōu)化:在電路板設(shè)計(jì)時(shí),考慮到MLCC的熱膨脹系數(shù)和機(jī)械強(qiáng)度,合理布局MLCC的位置,避免在應(yīng)力集中區(qū)域安裝MLCC,以減少機(jī)械應(yīng)力的影響。

結(jié)論

MLCC的斷裂問題是一個(gè)復(fù)雜的工程挑戰(zhàn),需要從材料科學(xué)、工藝控制、產(chǎn)品設(shè)計(jì)和質(zhì)量控制等多個(gè)角度進(jìn)行綜合考慮。通過采用上述行業(yè)解決方案,可以顯著提高M(jìn)LCC的抗斷裂能力,從而提升其在各種惡劣環(huán)境下的可靠性和穩(wěn)定性。隨著電子技術(shù)的發(fā)展,對(duì)MLCC性能的要求也在不斷提高,這就需要我們持續(xù)進(jìn)行研究和創(chuàng)新,以滿足不斷變化的市場(chǎng)需求。

審核編輯 黃宇

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