利用COM技術(shù)實(shí)現(xiàn)電子產(chǎn)品功能測(cè)試平臺(tái)的設(shè)計(jì)

本文分析當(dāng)前電子產(chǎn)品測(cè)試中普遍存在的問(wèn)題，提出一套通用電子產(chǎn)品功能測(cè)試平臺(tái)，利用COM技術(shù)實(shí)現(xiàn)，所謂COM（Component Object Model，組件對(duì)象模型），是一種說(shuō)明如何建立可動(dòng)態(tài)互變組件的規(guī)范，此規(guī)范提供了為保證能夠互操作，客戶和組件應(yīng)遵循的一些二進(jìn)制和網(wǎng)絡(luò)標(biāo)準(zhǔn)。通過(guò)這種標(biāo)準(zhǔn)將可以在任意兩個(gè)組件之間進(jìn)行通信而不用考慮其所處的操作環(huán)境是否相同、使用的開(kāi)發(fā)語(yǔ)言是否一致以及是否運(yùn)行于同一臺(tái)計(jì)算機(jī)。

1.概述

1.1背景

1.1.1目前現(xiàn)狀

縱觀國(guó)內(nèi)外的電子產(chǎn)品測(cè)試系統(tǒng)，普遍存在以下幾點(diǎn)問(wèn)題：

1）整個(gè)大系統(tǒng)的測(cè)試任務(wù)中，其統(tǒng)一性與整體性缺乏體系支持；

2）測(cè)試工藝、流程、標(biāo)準(zhǔn)不統(tǒng)一；

3）測(cè)試模塊的通用性、可移植性、可擴(kuò)展性、可維護(hù)性較差；

4）測(cè)試人員問(wèn)的素質(zhì)不一；

5）不同人員測(cè)試不同階段，信息交流的程度不同；

6）測(cè)試數(shù)據(jù)的組織、存儲(chǔ)、管理和使用較為混亂，數(shù)字化程度較低；

7）數(shù)據(jù)的有效性、可靠性、可追溯性、共享度以及對(duì)數(shù)據(jù)的分析能力較差；

8）數(shù)據(jù)對(duì)于產(chǎn)生、審批、發(fā)布、變更、流通的支持度不夠；

9）生產(chǎn)效率偏低，導(dǎo)致單位生產(chǎn)成本較高。

以上問(wèn)題的出現(xiàn)，會(huì)降低電子產(chǎn)品的研制效率，導(dǎo)致項(xiàng)目進(jìn)度不可控，產(chǎn)品質(zhì)量保證難度加大。

1.1.2未來(lái)發(fā)展

新一代電子產(chǎn)品測(cè)試系統(tǒng)會(huì)朝著通用化、標(biāo)準(zhǔn)化、組合化、網(wǎng)絡(luò)化的方向進(jìn)行發(fā)展。結(jié)合現(xiàn)代自動(dòng)測(cè)試技術(shù)的發(fā)展，現(xiàn)代電子產(chǎn)品測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試技術(shù)必將產(chǎn)生深刻的變革，這主要表現(xiàn)在四個(gè)方面：

1）測(cè)試整體上，要求C3M一體化。C3M指的是控制（Control）、通信（Communication）、計(jì)算機(jī)（Computer）和測(cè)量（Measurement）；

2）測(cè)試平臺(tái)上，采用虛擬儀器技術(shù)；

3）測(cè)試管理上，運(yùn)用網(wǎng)絡(luò)化技術(shù)；

4）測(cè)試信息處理上，采用智能傳感器信息處理和多傳感器信息融合技術(shù)。

1.2意義

軟件自動(dòng)化測(cè)試

自動(dòng)化測(cè)試是把以人為驅(qū)動(dòng)的測(cè)試行為轉(zhuǎn)化為機(jī)器執(zhí)行的一種過(guò)程。通常，在設(shè)計(jì)了測(cè)試用例并通過(guò)評(píng)審之后，由測(cè)試人員根據(jù)測(cè)試用例中描述的規(guī)程一步步執(zhí)行測(cè)試，得到實(shí)際結(jié)果與期望結(jié)果的比較。在此過(guò)程中，為了節(jié)省人力、時(shí)間或硬件資源，提高測(cè)試效率，便引入了自動(dòng)化測(cè)試的概念。另外，在充分考慮當(dāng)前電子產(chǎn)品測(cè)試存在問(wèn)題的基礎(chǔ)上，結(jié)合新一代電子產(chǎn)品測(cè)試系統(tǒng)的發(fā)展特點(diǎn)，我們開(kāi)發(fā)了電子產(chǎn)品功能測(cè)試軟件平臺(tái)（Electronic Test Platform，以下簡(jiǎn)稱ETP），從而為構(gòu)建通用電子產(chǎn)品功能測(cè)試平臺(tái)提供了很好的解決方案。圖1為通用電子產(chǎn)品功能測(cè)試系統(tǒng)原理圖。

2.ATLAS介紹

2.1 ATLAS特性

ATLAS（Abbreviated Test Language for All Systems）是一個(gè)被廣泛應(yīng)用于軍事和電子測(cè)試領(lǐng)域的通用標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試語(yǔ)言。用這個(gè)語(yǔ)言編寫(xiě)的測(cè)試程序不依賴于任何特殊的被測(cè)系統(tǒng)，并且它能在ATS上執(zhí)行。

Atlas客戶端腳本框架是可擴(kuò)展的，100%面向?qū)ο蟮?a href="http://ttokpm.com/v/tag/852/" target="_blank">JavaScript客戶端腳本框架，允許開(kāi)發(fā)這很容易地構(gòu)建擁有豐富的UI工能并且可以連接Web Services的Ajax風(fēng)格瀏覽器應(yīng)用程序。使用Atlas，開(kāi)發(fā)者可以使用DHTML、JavaScript和XMLHTTP來(lái)編寫(xiě)Web應(yīng)用程序，而無(wú)須掌握這些技術(shù)的細(xì)節(jié)。

Atlas客戶端腳本框架可以在所有的現(xiàn)代瀏覽器上運(yùn)行，而不需要Web服務(wù)器。它還完全不需要安裝，只要在頁(yè)面中引用正確的腳本文件即可。 該語(yǔ)言與一般的程序設(shè)計(jì)語(yǔ)言相比具有如下一些特點(diǎn)：

1）設(shè)備無(wú)關(guān)性，即在用戶寫(xiě)的ATLAS程序中不出現(xiàn)任何具體設(shè)備，只有測(cè)試需求；

2）信號(hào)相關(guān)性，ATLAS程序員書(shū)寫(xiě)的測(cè)試程序都是面向信號(hào)的；

3）可擴(kuò)展性，允許用戶擴(kuò)展ATLAS標(biāo)準(zhǔn)中沒(méi)有的名詞、名詞修飾詞以及量綱等成份；

4）并行性和定時(shí)功能，ATLAS中的某些測(cè)試語(yǔ)句需要并行執(zhí)行，還有一些語(yǔ)句需要在特定的時(shí)刻才能被啟動(dòng)；

5）語(yǔ)法接近于自然語(yǔ)言。文法限制不嚴(yán)格。

ATLAS語(yǔ)言從語(yǔ)義上可以分為常規(guī)語(yǔ)言部分、信號(hào)和總線部分。常規(guī)語(yǔ)言部分類似于一個(gè)完整的過(guò)程式語(yǔ)言，展現(xiàn)了ATLAS語(yǔ)言作為測(cè)試語(yǔ)言的特性。

2.2 ATLAS描述

ATLAS測(cè)試語(yǔ)句基本格式如下所示：

動(dòng)作，（信號(hào)特征），信號(hào)類型USING’虛擬資源’，信號(hào)修飾參數(shù)，CNX儀器端被測(cè)端$

語(yǔ)句：APPLY，AC SIGNAL，VOLTAGE 115V，F(xiàn)REQ400HZ，CURRENT MAX 2A，CNX HI J32-3-A23$

意義：在UUT的J32-3-A23$點(diǎn)加載電壓為115V、頻率為400Hz、最大電流為2A的信號(hào)。

3.IVI介紹

3.1 IVI系統(tǒng)結(jié)構(gòu)

為了實(shí)現(xiàn)互換性，IVI基金會(huì)將同類儀器的共性提取出來(lái)，并作了規(guī)范。目前已經(jīng)發(fā)布的八類儀器規(guī)范是：示波器（IviScope）、數(shù)字萬(wàn)用表 （IviDmm）、信號(hào)發(fā)生器（IviF-Gen）、直流電源（IviDCPower）、開(kāi)關(guān)矩陣／多路復(fù)用器（IviSwitch）、功率表 （IviPwrMeter）、頻譜分析儀（IviS-pecAn）和射頻信號(hào)發(fā)生器（IviRFSigGen），其他類型儀器的規(guī)范也將被陸續(xù)制定發(fā)布。每一類的儀器都有各自的類驅(qū)動(dòng)程序（IVI Class Driver）。每類驅(qū)動(dòng)程序包含了該類儀器通用的各種屬性和操作函數(shù)。運(yùn)行時(shí)，驅(qū)動(dòng)程序通過(guò)調(diào)用每臺(tái)儀器的專用驅(qū)動(dòng)程序（IVI Specific Driver）中相應(yīng)的函數(shù)來(lái)控制儀器。

IVI系統(tǒng)正在飛速發(fā)展。先進(jìn)的導(dǎo)航系統(tǒng)需要整合實(shí)時(shí)交通信息、個(gè)人興趣點(diǎn)以及好友位置等，甚至將汽車擴(kuò)展到新興Web 2.0網(wǎng)絡(luò)時(shí)代，為消費(fèi)者帶來(lái)新的駕乘體驗(yàn)。為此，有必要建立一款開(kāi)放、靈活的平臺(tái)，讓移動(dòng)設(shè)備與音響主機(jī)采用相同架構(gòu)，以便應(yīng)用程序能在這兩種平臺(tái)之間輕松遷移。構(gòu)建新平臺(tái)的首要考慮點(diǎn)在于連接性、多媒體、上市速度以及總體擁有成本（TCO）。

連接性極為重要，它是指將互聯(lián)網(wǎng)功能盡可能透明地引入汽車，以支持消費(fèi)者輕松訪問(wèn)基于Web的應(yīng)用、數(shù)據(jù)和多媒體。下一代信息娛樂(lè)平臺(tái)必須兼顧功耗、連接性、圖形功能和性能、散熱和汽車的堅(jiān)固性需求等各個(gè)方面。為此，我們需要采用一種與以往架構(gòu)及部署IVI系統(tǒng)截然不同的全新方法。

下一代IVI解決方案必須更具開(kāi)放性，能夠縮短上市時(shí)間并支持對(duì)最新應(yīng)用的集成。此外，該平臺(tái)必須減少對(duì)特定硬件配置的依賴，充分利用軟件的靈活性，能夠隨新應(yīng)用輕松實(shí)現(xiàn)升級(jí)。目前在IVI領(lǐng)域，許多廠商正在投入大量資源開(kāi)發(fā)幾乎相同的基本功能。采用開(kāi)放的平臺(tái)后，這些廠商不僅能在基本操作系統(tǒng)、驅(qū)動(dòng)程序和中間件層面實(shí)現(xiàn)更多的“復(fù)用”，同時(shí)還能顯著降低其驗(yàn)證成本。

在操作系統(tǒng)、驅(qū)動(dòng)程序和中間件等平臺(tái)構(gòu)建模塊方面的投資，使得英特爾將突破性功能運(yùn)用到了IVI解決方案中。結(jié)合英特爾45納米工藝技術(shù)的突破性功能，英特爾“凌動(dòng)”處理器家族騰空而出。今后幾年，英特爾將繼續(xù)優(yōu)化架構(gòu)和整體平臺(tái)部署方案，提升性能、降低功耗。

多媒體、消費(fèi)電子設(shè)備、聯(lián)網(wǎng)以及汽車業(yè)正在迅速融合。一款功能豐富的開(kāi)放平臺(tái)將支持汽車行業(yè)緊隨全新消費(fèi)電子和互聯(lián)網(wǎng)技術(shù)的發(fā)展步伐，支持用戶隨身攜帶、隨處享受數(shù)字生活方式。

應(yīng)用程序可以直接調(diào)用專用驅(qū)動(dòng)程序來(lái)控制儀器。但是為了實(shí)現(xiàn)儀器互換，應(yīng)用程序應(yīng)該首先調(diào)用類驅(qū)動(dòng)程序，類驅(qū)動(dòng)程序檢查IVI配置文件以確定應(yīng)該使用的專用驅(qū)動(dòng)程序。若系統(tǒng)中的儀器被更換，只需適當(dāng)修改IVI配置文件，而應(yīng)用程序無(wú)須做任何改動(dòng)，因而實(shí)現(xiàn)了測(cè)試系統(tǒng)的通用性。

3.2 IVI驅(qū)動(dòng)特性

1）互換性。IVI驅(qū)動(dòng)程序的互換性至少為我們帶來(lái)以下幾大好處：a）易于使用。所用的IvI驅(qū)動(dòng)程序都使用通用的接口，易于理解，也就不再要求應(yīng)用程序的開(kāi)發(fā)人員必須掌握某一特定儀器的編程方法，從而使系統(tǒng)開(kāi)發(fā)獲得了更大的硬件獨(dú)立性。b）降低了系統(tǒng)的維護(hù)和升級(jí)費(fèi)用。IVI構(gòu)架允許部門和設(shè)備之間方便地復(fù)用及共享測(cè)試代碼，并且不需使用相同型號(hào)儀器硬件。

2）模擬功能。每個(gè)儀器專用驅(qū)動(dòng)程序都具有專門針對(duì)本型號(hào)儀器的模擬功能。這些模擬功能使得工程師在缺少真實(shí)儀器的情況下，可以使用IVI驅(qū)動(dòng)程序的模擬功能來(lái)開(kāi)發(fā)、調(diào)試應(yīng)用程序，還可以使用美國(guó)國(guó)家儀器公司提供的類模擬驅(qū)動(dòng)程序以獲得更強(qiáng)大的模擬功能。

3）狀態(tài)緩存功能。IVI驅(qū)動(dòng)程序可以保存儀器每一屬性設(shè)置的當(dāng)前狀態(tài)。在當(dāng)前的測(cè)試系統(tǒng)中，影響軟件執(zhí)行速度的瓶頸通常在于儀器與計(jì)算機(jī)接口總線的傳輸速率。IVI驅(qū)動(dòng)程序的此項(xiàng)功能大大減少了儀器與計(jì)算機(jī)之間的通信，從而提升了系統(tǒng)性能。

4）源碼開(kāi)放。高級(jí)用戶可以直接修改IVI驅(qū)動(dòng)程序的源代碼，以對(duì)其進(jìn)行優(yōu)化或添加功能。

免費(fèi)得到大量的驅(qū)動(dòng)程序。除了生產(chǎn)廠商自行開(kāi)發(fā)的IVI驅(qū)動(dòng)程序，NI公司也為各類常用儀器開(kāi)發(fā)了大量IVI驅(qū)動(dòng)程序，這些程序都可以從NI的網(wǎng)站上免費(fèi)下載。此外，NI還提供了用于開(kāi)發(fā)驅(qū)動(dòng)程序的工具包，以簡(jiǎn)化用戶的IVI驅(qū)動(dòng)程序的開(kāi)發(fā)過(guò)程。

4.測(cè)試平臺(tái)介紹

電子產(chǎn)品功能測(cè)試平臺(tái)所利用的軟件開(kāi)發(fā)平臺(tái)為ETP，其開(kāi)發(fā)與設(shè)計(jì)均在泛華測(cè)控“柔性測(cè)試”技術(shù)的核心理念指導(dǎo)下進(jìn)行的。能否借助于這支外在力量以及如何借助于這支力量來(lái)規(guī)范企業(yè)測(cè)試流程、提高特定測(cè)試活動(dòng)的效率，正是本期所要討論的話題。

目前，軟件測(cè)試自動(dòng)化的研究領(lǐng)域主要集中在軟件測(cè)試流程的自動(dòng)化管理以及動(dòng)態(tài)測(cè)試的自動(dòng)化（如單元測(cè)試、功能測(cè)試以及性能測(cè)試方面）。在這兩個(gè)領(lǐng)域，與手工測(cè)試相比，測(cè)試自動(dòng)化的優(yōu)勢(shì)是明顯的。首先自動(dòng)化測(cè)試可以提高測(cè)試效率，使測(cè)試人員更加專注于新的測(cè)試模塊的建立和開(kāi)發(fā)，從而提高測(cè)試覆蓋率。這個(gè)特點(diǎn)在功能測(cè)試和回歸測(cè)試中尤其具有意義；此外，測(cè)試流程自動(dòng)化管理可以使機(jī)構(gòu)的測(cè)試活動(dòng)開(kāi)展更加過(guò)程化，這很符合CMMI過(guò)程改進(jìn)的思想。根據(jù)OppenheimerFunds的調(diào)查，在2001年前后的3年中，全球范圍內(nèi)由于采用了測(cè)試自動(dòng)化手段所實(shí)現(xiàn)的投資回報(bào)率高達(dá)1500％。

1）ETP軟件平臺(tái)介紹

圖2是ETP軟件架構(gòu)示意圖。上層管理軟件ETP采用C++編程。底層驅(qū)動(dòng)管理模塊SEE（SignaI ExecuteEngine）采用LabVIEW編程。上層管理軟件通過(guò)調(diào)用SEE實(shí)現(xiàn)測(cè)試測(cè)量的功能。采用C++開(kāi)發(fā)，使ETP更具平臺(tái)性和拓展性，最直接的優(yōu)勢(shì)是運(yùn)行效率高。軟件總體框架是：

配置文件（資源信息）->ETP引擎->報(bào)表文件（測(cè)試結(jié)果）。在底層驅(qū)動(dòng)中，我們支持NI系列的數(shù)據(jù)采集卡、數(shù)字萬(wàn)用表、波形發(fā)生器、數(shù)字示波器等各種儀器。

ETP系統(tǒng)主要有兩大功能， 一是對(duì)變配電站內(nèi)失電、缺相或者超過(guò)設(shè)定閥值的情況通過(guò)無(wú)線網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行報(bào)警， 二是采集變配電站的各種運(yùn)行數(shù)據(jù)，進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)控，可實(shí)現(xiàn)故障分析、電量統(tǒng)計(jì)等功能，有利于電能調(diào)度，提高了供電質(zhì)量。

ETP系統(tǒng)是完全國(guó)產(chǎn)的變電站智能運(yùn)維系統(tǒng)，由浙江新能量科技有限公司自主研發(fā)，獲得國(guó)家多項(xiàng)專利，結(jié)合其提供的變電站集中智能監(jiān)測(cè)運(yùn)行服務(wù)，為社會(huì)提供用電服務(wù)外包。采用該系統(tǒng)和服務(wù)后，用戶可以將變電站外包給第三方進(jìn)行維護(hù)，即可以節(jié)約人力成本和用電成本，又能騰出足夠的精力于主營(yíng)業(yè)務(wù)，同時(shí)也更有效的保障了電力運(yùn)行的安全。

2）ETP調(diào)理模塊介紹

ETP調(diào)理模塊的各調(diào)理單元的主要功能如下：

·開(kāi)關(guān)卡目前設(shè)計(jì)的是2×8的矩陣開(kāi)關(guān)，輸入接口是USB接口，輸出接口是SMA接口。另外，可以根據(jù)實(shí)際需要，組合不同的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)，比如使用兩塊開(kāi)關(guān)卡，可以組成2×16或4×8的矩陣開(kāi)關(guān)。

·DI調(diào)理卡是數(shù)字信號(hào)輸入調(diào)理板，具備支持多種遠(yuǎn)程輸出類型、光耦隔離、施密特觸發(fā)的功能。

·DO調(diào)理卡是數(shù)字信號(hào)輸出調(diào)理板，它是把NI卡的數(shù)字J／O口的數(shù)據(jù)隔離后輸出到被測(cè)板，或控制繼電器輸出；同時(shí)可實(shí)現(xiàn)多種輸出類型，測(cè)試和控制多種被測(cè)對(duì)象。

·CTV調(diào)理卡是電流電壓檢測(cè)調(diào)理板，它被設(shè)計(jì)為電源電壓、電流的檢測(cè)電路，能測(cè)量工業(yè)用的電源電壓、電流和功耗。對(duì)電壓的測(cè)量需要外面的降壓設(shè)備把電源電壓降到100V以內(nèi)才能進(jìn)入CTV板。

·SAS調(diào)理卡是標(biāo)準(zhǔn)模擬傳感器信號(hào)調(diào)理板，電流檢測(cè)設(shè)計(jì)有電流變送電路，它可以測(cè)試溫度和壓力信號(hào)，通過(guò)電流變送電流轉(zhuǎn)換至標(biāo)準(zhǔn)電流信號(hào)，再通過(guò)電流轉(zhuǎn)電壓電流，輸出標(biāo)準(zhǔn)電壓信號(hào)。

·CD調(diào)理卡是編碼器調(diào)理板，它主要是實(shí)現(xiàn)數(shù)字電平轉(zhuǎn)化。比如，常用的有：正弦信號(hào)轉(zhuǎn)方波信號(hào)，再通過(guò)施密特觸發(fā)電路，輸出TTL電平。另外，根據(jù)實(shí)際情況，備選差分轉(zhuǎn)單端和濾波等電路。

3）測(cè)試平臺(tái)特性

a）適應(yīng)性：

·支持近40種信號(hào)100余種參數(shù)的生成和測(cè)量；

·測(cè)試流程自動(dòng)化。典型單步測(cè)試時(shí)間≤30ms，滿足生產(chǎn)線對(duì)測(cè)試效率的要求；

·接口采用模塊化標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)，保證接口可更換，拆卸方便；

·適應(yīng)于眾多儀器，比如NI系列的數(shù)據(jù)采集卡、數(shù)字萬(wàn)用表、波形發(fā)生器、數(shù)字示波器等各種儀器；另外，可支持PLC、獨(dú)立儀器等傳統(tǒng)設(shè)備，保證硬件系統(tǒng)具有廣泛的硬件基礎(chǔ)。

b）靈活性：根據(jù)客戶需求改變測(cè)試系統(tǒng)的功能及性能，可自行定義測(cè)試步驟、測(cè)試參數(shù)，支持按需設(shè)置外接設(shè)備和測(cè)試點(diǎn)。

c）拓展性：測(cè)試流程編寫(xiě)、硬件設(shè)置只需通過(guò)界面操作即可實(shí)現(xiàn)。

d）可靠性：軟硬件充分考慮異常處理機(jī)制，可長(zhǎng)時(shí)間、連續(xù)地?zé)o故障運(yùn)行。

5.測(cè)試平臺(tái)應(yīng)用

運(yùn)用電子產(chǎn)品功能測(cè)試平臺(tái)的項(xiàng)目開(kāi)發(fā)流程如圖3所示。我們通過(guò)客戶提供的測(cè)試需求，即時(shí)地做出軟硬件設(shè)計(jì)，采用ETP軟件對(duì)各種配置文件進(jìn)行修改。同時(shí)。運(yùn)用強(qiáng)大的TestStand引擎功能編輯測(cè)試流程并進(jìn)行測(cè)試，可以高效地完成測(cè)試任務(wù)。

平臺(tái)應(yīng)用特點(diǎn)如下：

·流程清晰；

·測(cè)試方便；

·報(bào)表規(guī)范。

平臺(tái)應(yīng)用案例

案例名稱：某廠氣象雷達(dá)電路板測(cè)試項(xiàng)目

1）某廠氣象雷達(dá)電路板測(cè)試系統(tǒng)被測(cè)對(duì)象是13塊電路板。

a）硬件配置

·PXI-8106、DMM-4070、FGEN-5421、DSO-5112、PXI-6509、PXI-6713、PXI-8421；

·自制信號(hào)調(diào)理機(jī)箱；

·自制信號(hào)接口機(jī)箱。

b）系統(tǒng)組成

本系統(tǒng)硬件由工作臺(tái)、PXI分系統(tǒng)、電源（交直流電源、同步機(jī)等）機(jī)柜、測(cè)試接口機(jī)箱、測(cè)試夾具等構(gòu)成，加上測(cè)試軟件，組成完整的測(cè)試系統(tǒng)。

c）系統(tǒng)特性

·測(cè)試信號(hào)類型多

主要涉及AC SIGNAL、DC SIGNAL、AM SIGNAL、PULSED DC、PULSED DC TRAIN、SQUARE WAVE、WAVEFORM、IMPEDANCE、LOGIC DATA、RS SERIALS COMMUNICATION、SERIALS COMM ADAPTAR等。

·測(cè)試點(diǎn)數(shù)特別多

13塊電路板，最少板子的測(cè)試點(diǎn)數(shù)也要將近100個(gè)測(cè)試點(diǎn)，最多的板子將近200個(gè)測(cè)試點(diǎn)。

2）下面通過(guò)對(duì)比來(lái)說(shuō)明運(yùn)用電子產(chǎn)品功能測(cè)試平臺(tái)搭建測(cè)試系統(tǒng)的優(yōu)越性。

·人工測(cè)試方法

通過(guò)使用便攜式傳統(tǒng)儀器，對(duì)每塊電路板進(jìn)行手動(dòng)測(cè)試，同時(shí)人工記錄每次測(cè)試數(shù)據(jù)。采用這種方式弊端很多：一方面測(cè)試效率低下，另一方面測(cè)試精度很難保證，最終直接導(dǎo)致開(kāi)發(fā)周期和進(jìn)度很難把控，整個(gè)系統(tǒng)開(kāi)發(fā)質(zhì)量體系很難建立。

·自動(dòng)化測(cè)試方法

常見(jiàn)的是通過(guò)VXI總線方式，使用各種便攜式傳統(tǒng)儀器，通過(guò)各種儀器總線，如GPIB、CAN和LAN等，再編制各種儀器控制面板軟件并逐一進(jìn)行測(cè)試。再有就是不使用測(cè)試平臺(tái)，對(duì)各種儀器的控制、繼承性和維護(hù)性很差，也會(huì)造成開(kāi)發(fā)成本增加，開(kāi)發(fā)周期延長(zhǎng)。

·自動(dòng)化測(cè)試方法

首先由于使用PXI總線，采用虛擬儀器技術(shù)，使得我們的測(cè)試系統(tǒng)具有靈活性、高穩(wěn)定性、強(qiáng)通用性。另外，通過(guò)使用我們的電子產(chǎn)品功能測(cè)試平臺(tái)。編寫(xiě)對(duì)應(yīng)的測(cè)試包，包括測(cè)試步驟和路由信息配置以及測(cè)試數(shù)據(jù)報(bào)表格式等。另外一個(gè)主要的工作就是去設(shè)計(jì)UUT（被測(cè)板）與ATE（各種儀器）之間的調(diào)理模塊。這部分工作隨著我們平臺(tái)配套的硬件調(diào)理模塊的日趨完善和成熟，會(huì)進(jìn)一步縮短整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)搭建的開(kāi)發(fā)周期。

6.結(jié)束語(yǔ)

·面對(duì)電子產(chǎn)品功能測(cè)試的挑戰(zhàn)，需要相適應(yīng)的軟硬件系統(tǒng)；

·PXI總線技術(shù)在通用電子產(chǎn)品功能測(cè)試平臺(tái)中扮演著重要的角色；

·基于LabVIEW、VC和TestStand軟件開(kāi)發(fā)環(huán)境，泛華測(cè)控成功開(kāi)發(fā)出了ETP平臺(tái)；

·ETP所支持的硬件和測(cè)試信號(hào)類型可進(jìn)一步擴(kuò)充；

·ETP已經(jīng)被成功地應(yīng)用到實(shí)際項(xiàng)目中。