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電子發(fā)燒友網(wǎng)>控制/MCU>瑞薩推出一款汽車測試芯片 28納米MCU內(nèi)置自測試功能增強

瑞薩推出一款汽車測試芯片 28納米MCU內(nèi)置自測試功能增強

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TSMC今(3)日宣布,采用28納米高效能工藝生產(chǎn)的ARM? Cortex-A9雙核心處理器測試芯片在常態(tài)下的處理速度高達3.1GHz。
2012-05-04 08:54:331910

一種基于包的邏輯內(nèi)置自測試電路設(shè)計方法

一種基于包的邏輯內(nèi)置自測試電路設(shè)計方法
2017-02-07 16:14:5612

TMS570LS系列微控制器配置與可編程內(nèi)置自測試的概述

TMS570LS系列微控制器與可編程內(nèi)置自測試(pbist)實現(xiàn)建筑。的pbist架構(gòu)提供了一種存儲器BIST引擎不同的覆蓋水平在許多嵌入式內(nèi)存實例中。TMS570LS系列微控制器可分為兩類:130
2018-04-16 16:03:3812

VLSI測試與可測試性設(shè)計的學習課件資料合集

VLSI測試技術(shù)導論, 可測試性設(shè)計, 邏輯與故障模擬,測試生成,邏輯自測試,測試壓縮,邏輯電路故障診斷,存儲器測試與BIST,存儲器診斷與BISR,邊界掃描與SOC測試,納米電路測試技術(shù),復習及習題
2020-10-09 08:00:001

關(guān)于芯片設(shè)計的前端設(shè)計實現(xiàn)

LBIST (Logic build-in-self test), 邏輯內(nèi)建自測試。和MBIST同理,在關(guān)鍵邏輯上加上自測試電路,看看邏輯cell有沒有工作正常。BIST總歸會在芯片里加入自測試邏輯,都是成本。
2022-08-29 15:33:302169

UM2986 STM32U5系列IEC 60730自測試庫用戶指南

UM2986 STM32U5系列IEC 60730自測試庫用戶指南
2022-11-22 08:21:450

汽車功能安全芯片測試

汽車功能安全芯片測試? 汽車功能安全芯片測試是保障汽車安全性能的重要環(huán)節(jié),也是汽車產(chǎn)業(yè)發(fā)展的關(guān)鍵部分。隨著汽車智能化技術(shù)的不斷進步,車輛上搭載的各種智能功能也越來越多,這些功能倚賴于安全芯片來保障
2023-11-21 16:10:511066

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