企業(yè)號介紹

全部
  • 全部
  • 產品
  • 方案
  • 文章
  • 資料
  • 企業(yè)

漢通達

開發(fā)、生產計算機軟硬件，開發(fā)電子測控儀器儀表及配套機械設備，以及批發(fā)、零售和售后服務。

139 內容數 18w+ 瀏覽量 49 粉絲

半導體FT客制化測試系統(tǒng)

型號： MEMS芯片轉臺測試系統(tǒng)UI320A

--- 產品參數 ---

  • 尺寸 高1.6m*寬1m*0.7m深
  • 量程 正負兩圈
  • 角速度 500dps,20000dps max
  • 角度精度 正負0.05度
  • 最大負載 1.8KG
  • 測試能力 36SITE

--- 產品詳情 ---

聯(lián)合儀器MEMS測試系統(tǒng)UI320A采用測試機加轉臺的構架，是對MEMS陀螺儀和加速度計的測試平臺。可對MEMS傳感器芯片進行測試，支持I2C/SPI的通訊方式，提供免費的開源軟件底層API基于C開發(fā)，支持VC,VC++，labview等。

為你推薦

  • UI-7110 六位半數字多用表2022-06-02 09:35

    產品型號：UI-7110 直流電壓：100mV~1000V 直流電流：100μA -10A 交流電壓：100mV~750V (3Hz-300kHz) 交流電流：100μA~10A(3Hz-10kHz) 電阻：10Ω -100MΩ

  • 源測量單元板卡（4通道SMU功能板卡）2022-06-01 15:32

    產品型號：UI-X6330 輸出通道數(DACs：4 上電后繼電器狀態(tài)：全通道關閉 工作溫度：0 °C to +55 °C 存儲溫度：-20 °C to +70 °C 尺寸：3U

  • 源測量單元板卡（4通道SMU功能板卡）2022-05-31 15:23

    產品型號：UI-X6320 輸出通道數(DACs：4 上電后繼電器狀態(tài)：全通道關閉 工作溫度：0 °C to +55 °C 存儲溫度：-20 °C to +70 °C 尺寸：3U

  • 100M動態(tài)數字功能板卡（Timing，PPMU）2022-05-25 15:12

    產品型號：UI-X6920 型號：X6920 時鐘速率：5kHz ~100 MHz 通道數：32 pins (通過級聯(lián)最高可達512 pins) Pattern內存：64M/每通道 Sequence內存：64M/每通道

  • MEMS芯片測試板卡2022-02-21 15:14

    產品型號：UI-X6220 時針速率：10MHz（最大） 通道數：32pins?card 驅動電流：正負32mA DC（最大） 電壓精度：16bits 電壓量程：-1V到+10V

  • 100M動態(tài)數字功能板卡（Timing，PPMU）2022-02-21 11:29

    產品型號：UI-X6920 時針速率：5KHz~100MHz 通道數：32pins Pattern內存：64M/每通道 Sequence：64M/每通道 并行測試能力：Any pin to any site

  • MEMS芯片測試系統(tǒng)2021-12-13 17:15

    產品型號：UI300系列MEMS傳感器測試機 Pin Channe：32~224pin (支持多板卡擴展) Test Rate：10MHz PMU：PMU per channel/16bit DPS：-1V~+10V per site; 512mA MAX Rang：2UA,8UA,32UA,128UA,512UA,2MA,8

  • MEMS芯片測試板卡2021-12-08 14:49

    產品型號：UI-X6220 時鐘速率：10MHz（最大） 通道數：32pins/card 電壓量程：-1V到正負10V 驅動電流：正負32mA DC（最大） 電壓精度：16bits

  • BMS測試系統(tǒng)2021-12-02 10:58

    產品型號：UI120C系列 集成電池管理系統(tǒng)自動測試系統(tǒng) 單體電壓：0.1-5V 電壓輸出精度：正負1mV 步進精度：<0.5mA 隔離電壓：正負750V 安全保護：短路保護，極性反轉保護，過熱保護，多通道互鎖結構

  • BMS測試產品2021-12-02 10:47

    產品型號：UI100E 系列 鋰電池模擬模塊 電池仿真通道：16 單體電壓：1.3V-5V 電壓輸出精度：正負1mV 電壓回讀精度：正負1mV 電壓輸出步進：0.15mV

  • CP測試與FT測試的區(qū)別2024-11-02 08:03

    在集成電路（IC）制造與測試過程中，CP（ChipProbing，晶圓探針測試）和FT（FinalTest，最終測試）是兩個重要的環(huán)節(jié)，它們承擔了不同的任務，使用不同的設備和方法，但都是為了保證產品的質量與可靠性。1.CP測試與FT測試的基礎概念要理解CP和FT的區(qū)別，我們可以將整個芯片制造和測試過程比喻成“篩選和包裝水果”的過程。CP測試：相當于在水果采摘

  • 芯片大廠們：不好意思，明年也已售罄2024-10-25 13:00

    最近，芯片大廠頻頻傳出售罄的消息。芯片出現售罄的情況并不常見，但在一些特定情況下會發(fā)生。比如2021年全球芯片缺貨潮，在這一年，全球半導體產業(yè)面臨著嚴重的芯片短缺問題，多家芯片公司的產品都出現了供應緊張甚至售罄的情況。與疫情時期的大多數芯片缺貨不同，這次是缺的是細分領域的AI芯片。01售罄的芯片大廠們最近，英偉達的BlackwellGPU未來12個月的供應量

  • IC測試基本原理與ATE測試向量生成2024-10-12 08:03

    IC測試主要的目的是將合格的芯片與不合格的芯片區(qū)分開，保證產品的質量與可靠性。隨著集成電路的飛速發(fā)展，其規(guī)模越來越大，對電路的質量與可靠性要求進一步提高，集成電路的測試方法也變得越來越困難。因此，研究和發(fā)展IC測試，有著重要的意義。而測試向量作為IC測試中的重要部分，研究其生成方法也日漸重要。1IC測試1.1IC測試原理IC測試是指依據被測器件（DUT）特點

  • 聚焦‘芯’科技，第12屆半導體設備展圓滿落幕，漢通達與業(yè)內同仁共繪產業(yè)藍圖"2024-09-28 08:02

    隨著“第12屆半導體設備與核心部件展示會”的圓滿閉幕，北京漢通達科技有限公司在此向所有關注和支持我們的朋友致以最誠摯的感謝！經過數日的精彩展示與深入交流，我們滿載而歸，不僅展示了公司的最新科技成果，更與眾多行業(yè)精英建立了深厚的友誼與合作橋梁。展會亮點回顧：尖端技術，震撼亮相：我們精心策劃的展示內容，涵蓋了半導體設備的最新進展與核心部件的創(chuàng)新突破。無論是高精度

  • 【展會盛事，邀您共鑒】共赴CSEAC 2024，引領半導體新未來！2024-09-20 08:05

    在這個充滿機遇與挑戰(zhàn)的半導體行業(yè)新時代，北京漢通達科技有限公司始終與您并肩前行，共同探索技術創(chuàng)新與市場拓展的新路徑。我們非常榮幸地受邀參加“第12屆半導體設備與核心部件展示會”，作為中國半導體行業(yè)的年度盛會，本次展會不僅匯聚了行業(yè)精英，更是技術交流與合作的絕佳平臺,借此機會誠摯地邀請您及貴公司團隊一同蒞臨展會現場。展會時間：2024年9月25日至9月27日展

  • 攜手共進二十載，筑夢前行再遠航2024-08-30 12:17

    北京漢通達科技有限公司自2003年成為德國AIM公司中國區(qū)的獨家總代理至今已超過20年，AIM非常重視與漢通達的合作關系并認可我們20年來對AIM公司在中國市場發(fā)展所做的努力與貢獻，AIM公司最近特別在官網發(fā)布新聞強調AIM公司與漢通達的緊密合作關系并認可漢通達公司為中國區(qū)客戶所提供的所有技術支持服務。北京漢通達科技有限公司與德國AIM公司長達20余年的獨家
    227瀏覽量

  • 芯片設計流片、驗證、成本的那些事2024-08-09 08:11

    前言我們聊聊芯片設計、流片、驗證、制造、成本的那些事；流片對于芯片設計來說就是參加一次大考。流片的重要性就在于能夠檢驗芯片設計是否成功，是芯片制造的關鍵環(huán)節(jié)，也就是將設計好的方案交給芯片制造廠生產出樣品。檢測設計的芯片是否達到設計要求，或者是否需要進一步優(yōu)化；如果能夠生產出符合要求的芯片，那么就可以大規(guī)模生產了。上圖流程的輸入是芯片立項設計，輸出是做好的芯片

  • 26張圖，講透PCB接地！2024-08-03 08:11

    PCB接地是PCBLayout工程師一直都會關注的問題，例如：如何在板上規(guī)劃有效地接地系統(tǒng)，是將模擬、數字、電源地等所有地單獨布線還是單點一起布線？如何消除電路板上的接地環(huán)路？今天主要介紹關于PCB接地設計、PCB接地技巧、PCB接地處理。一、什么是接地？雖然說這個問題看起來有點蠢，但不同類型的接地之間還是有區(qū)別的。電氣接地是一個導電體，它充當來自各種設備的

  • 芯片測試有哪些 芯片測試介紹2024-07-26 14:30

    本文就芯片測試做一個詳細介紹。芯片的測試大致可以分成兩大部分。CP(chipprobering)和FT(finaltest)。某些芯片還會進行SLT（systemlevetest）。還有一些特定要求的芯片，需要一些可靠性測試。CP測試CP（ChipProbing）測試也叫晶圓測試(wafertest)，也就是在芯片未封裝之前對wafer進行測試，這樣就可以把

  • 功放測試關注哪些指標2024-07-20 08:11

    功放是發(fā)射電路的核心器件，特別是對于寬帶傳輸，功放對非恒包絡的調制方式影響更大，可以說PA是非恒包絡調制方式發(fā)射機的指標和工作時間的決定性器件。功放的調試和測試一般用矢網調匹配，調增益，調功率和效率，用信號源和頻譜儀調線性。兩套設備反復使用，最終實現功放的功率、線性、效率的最佳匹配。為什么要用兩套儀表測試功放，一個功放從選型到輸出需要測試哪些數據？1.匹配功

  • MEMS傳感器轉臺測試設備2021-12-13 15:30

    聯(lián)合儀器MEMS測試系統(tǒng)UI320采用測試機加轉臺的構架，是對MEMS陀螺儀和加速度計的測試平臺?？蓪EMS傳感器芯片進行測試，支持I2C/SPI的通訊方式，提供免費的開源軟件底層API基于C開發(fā)，支持VC,VC++，labview等。