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FPGA調(diào)試過程與特殊管腳

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【保持更新】記錄單片機(jī)調(diào)試過程中遇到的坑

記錄STM32調(diào)試過程中遇到的一些坑假裝這是一個目錄?零、 CubeMX1.發(fā)現(xiàn)新大陸一、串口與DMA1.配置與使用2.串口中斷與DMA3.串口中斷異常二、PWM三、FDCAN1.CAN波特率
2021-11-23 18:21:367

stm32f207 emwin + freertos 調(diào)試過程問題簡要記錄

stm32f207 emwin + freertos 調(diào)試過程問題簡要記錄鏈接出錯,超出地址范圍現(xiàn)象添加emwin后編譯能夠通過,鏈接的時候報(bào)錯,符號超出地址范圍錯誤打印類似如下.\Objects
2021-12-06 11:06:1510

S7-1200系列PLC調(diào)試過程小結(jié)

S7-1200系列PLC調(diào)試過程小結(jié)
2021-12-20 09:25:023

STM32單片機(jī)和ESP8266模塊調(diào)試過程記錄

和應(yīng)用程序,這篇文章也就是記錄調(diào)試過程中遇到的問題和小心得的分享。希望大家積極指正,積極交流,如果有疑問或者需要指正的地方可以添加我的微信,sunkaiwz,備注CSDN,還有一些常用的WiFi模塊相關(guān)...
2021-12-24 19:20:312

FPGA調(diào)試中常用的TCL語法簡介

使用Jtag Master調(diào)試FPGA程序時用到tcl語言,通過編寫tcl腳本,可以實(shí)現(xiàn)對FPGA的讀寫,為調(diào)試FPGA程序帶來極大的便利,下面對FPGA調(diào)試過程中常用的tcl語法進(jìn)行介紹,并通過tcl讀FIFO的例子,說明tcl在實(shí)際工程中的應(yīng)用。
2022-02-19 19:44:342272

電磁流量計(jì)調(diào)試過程中存在的問題以及解決措施

跟其他類型的儀表調(diào)試相比,電磁流量計(jì)的調(diào)試方法存在很大的差異性,它的復(fù)雜程度會更高,稍不注意,調(diào)試過程中就會出現(xiàn)人工失誤操作問題,影響電磁流量計(jì)的正常運(yùn)行。進(jìn)行電磁流量計(jì)調(diào)試時,工作人員需要
2022-10-27 09:08:491149

FPGA調(diào)試中LVDS信號線間串?dāng)_問題

FPGA調(diào)試過程中,除了邏輯代碼本身的質(zhì)量之外,FPGA板子上PCB走線、接插件質(zhì)量等因素的影響也非常重要。
2022-10-28 16:40:032220

JESD204B具體調(diào)試過程

說的是一塊數(shù)字采集板的調(diào)試,主要器件也不多,主要是公司的ADC,ADI的時鐘芯片和Xilinx的FPGA,還有一些DC-DC和LDO。
2022-11-18 14:26:28858

如何把FPGA調(diào)試中的數(shù)據(jù)給捕獲出來并保存為文件

FPGA調(diào)試過程中,經(jīng)常遇到這樣的情況:出現(xiàn)BUG時,想采用仿真環(huán)境把FPGA調(diào)試中遇到的BUG給重現(xiàn)出來,但無論怎樣改變仿真環(huán)境中的激勵,都無法重現(xiàn)FPGA上的出現(xiàn)BUG的情況。
2023-02-01 10:19:241815

國微思爾芯多FPGA聯(lián)合深度調(diào)試新思路

剖析》分析了用戶在進(jìn)行大規(guī)模原型驗(yàn)證過程中的多FPGA聯(lián)合調(diào)試難題,并介紹了一種新型FPGA原型驗(yàn)證深度跟蹤調(diào)試解決方案,用于幫助客戶在SoC開發(fā)過程中解決調(diào)試
2022-06-16 10:16:48628

總結(jié)plc調(diào)試過程中的經(jīng)驗(yàn)

調(diào)試人員在調(diào)試時發(fā)現(xiàn)的問題,都應(yīng)及時聯(lián)系有關(guān)設(shè)計(jì)人員,在設(shè)計(jì)人員同意后方可進(jìn)行修改,修改需做詳細(xì)的記錄,修改后的軟件要進(jìn)行備份。并對調(diào)試修改部分做好文檔的整理和歸檔。調(diào)試內(nèi)容主要包括輸入輸出功能、控制邏輯功能、通信功能、處理器性能測試等。
2023-08-02 14:38:36273

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