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標(biāo)簽 > 批量測(cè)試
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一鍵式閃測(cè)儀:一種適用于中小型工件尺寸批量測(cè)量的方法
VX系列一鍵式閃測(cè)儀是一種適用于中小型工件尺寸批量測(cè)量的方法,操作方便,適合體積不太大、批量較大的各種零部件的檢測(cè),具有較好的實(shí)用價(jià)值。
基于CAN總線電子產(chǎn)品批量測(cè)試平臺(tái)構(gòu)建立即下載
類別:測(cè)試測(cè)量論文 2009-08-14 標(biāo)簽:批量測(cè)試 518 0
虹科電子 | 設(shè)備電容老化危害大,出廠測(cè)試可別輕視它!
作為電子元器件測(cè)試中的重要環(huán)節(jié),電容失效性測(cè)試一直以來都是電容生產(chǎn)和應(yīng)用廠家繞不開的話題。本文將介紹在當(dāng)今快速工業(yè)化的大環(huán)境下,進(jìn)行高效率的電容失效性測(cè)...
一鍵式閃測(cè)儀:一種適用于中小型工件尺寸批量測(cè)量的方法
基于非接觸式CCD檢測(cè)技術(shù)而生的VX系列一鍵式閃測(cè)儀采用雙遠(yuǎn)心高分辨率光學(xué)鏡頭,結(jié)合高精度圖像分析算法,并融入一鍵閃測(cè)原理。CNC模式下,只需按下啟動(dòng)鍵...
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