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標(biāo)簽 > ic測(cè)試
IC測(cè)試就是用相關(guān)的電子儀器(如萬(wàn)用表、示波器、直流電源,ATE 等)將IC所具備的電路功能、電氣性能參數(shù)測(cè)試出來(lái)。測(cè)試的項(xiàng)目一般有:直流參數(shù)(電壓、電流)、交流參數(shù)(頻率)、功能測(cè)試等。
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南京理工大學(xué)數(shù)學(xué)與統(tǒng)計(jì)學(xué)院師生團(tuán)隊(duì)一行蒞臨中科億海微參觀交流
近日,南京理工大學(xué)數(shù)學(xué)與統(tǒng)計(jì)學(xué)院(以下簡(jiǎn)稱“數(shù)統(tǒng)學(xué)院”)徐慧玲書記帶領(lǐng)師生團(tuán)隊(duì)一行蒞臨中科億海微電子科技(蘇州)有限公司(簡(jiǎn)稱“中科億海微”)進(jìn)行參觀交...
IC測(cè)試座testSocket產(chǎn)品結(jié)構(gòu)及特點(diǎn)!
IC測(cè)試座是一種用于測(cè)試集成電路(IC)和其他電子元件的工具,它將元件安裝在座上,可以用來(lái)連接電源和測(cè)試設(shè)備,并將測(cè)試結(jié)果反饋給用戶。
隨著技術(shù)發(fā)展,半導(dǎo)體芯片晶體管密度越來(lái)越高,相關(guān)產(chǎn)品復(fù)雜度及集成度呈現(xiàn)指數(shù)級(jí)增長(zhǎng),這對(duì)于芯片設(shè)計(jì)及開發(fā)而言是前所未有的挑戰(zhàn)。同時(shí),隨著芯片開發(fā)周期的縮短...
為數(shù)字經(jīng)濟(jì)強(qiáng)“芯” | 加速科技亮劍2021中國(guó)國(guó)際數(shù)字經(jīng)濟(jì)博覽會(huì)
如果說(shuō)集成電路產(chǎn)業(yè)是數(shù)字經(jīng)濟(jì)的突破口,那么集成電路創(chuàng)新挑戰(zhàn)賽就猶如數(shù)字經(jīng)濟(jì)的“強(qiáng)芯劑”。
2021-09-09 標(biāo)簽:IC測(cè)試集成電路測(cè)試測(cè)試設(shè)備 648 0
芯瑞微圍繞Chiplet研發(fā)EDA物理場(chǎng)仿真軟件工具
近期,芯瑞微(上海)電子科技有限公司(以下簡(jiǎn)稱“芯瑞微”)宣布完成數(shù)千萬(wàn)人民幣A+輪融資,由中科創(chuàng)星投資。本輪融資將主要用于研發(fā)團(tuán)隊(duì)擴(kuò)張,以及產(chǎn)業(yè)整合、...
從IDM到垂直分工,IC產(chǎn)業(yè)專業(yè)化分工催生獨(dú)立測(cè)試廠商出現(xiàn)。集成電路產(chǎn)業(yè)從上世紀(jì)60年代開始逐漸興起,早期企業(yè)都是IDM運(yùn)營(yíng)模式(垂直整合),這種模式涵...
Advantest將于3月10-11日舉行虛擬展會(huì)以在新冠疫情肆虐之下繼續(xù)提供IC測(cè)試信息
借助網(wǎng)絡(luò)會(huì)議,Advantest的技術(shù)專家將展示最新的半導(dǎo)體測(cè)試技術(shù)和最佳實(shí)踐,并與戰(zhàn)略合作伙伴及現(xiàn)有和潛在客戶進(jìn)行互動(dòng)。
2020-03-04 標(biāo)簽:IC測(cè)試半導(dǎo)體測(cè)試Advantest 1182 0
關(guān)鍵時(shí)刻!臺(tái)企力助華為自建供應(yīng)鏈!
華為因應(yīng)美方禁令封鎖,正加速自建供應(yīng)鏈,并拉攏臺(tái)灣半導(dǎo)體廠商突圍,日月光投控旗下矽品成為華為第一家青睞的臺(tái)資廠商。
盡管2019年半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)成長(zhǎng)有壓,加上貿(mào)易戰(zhàn)暗潮洶涌讓產(chǎn)業(yè)界上半年景氣能見(jiàn)度猶如霧里看花。不過(guò),5G基礎(chǔ)建設(shè)勢(shì)在必行,搶下基站芯片的前哨戰(zhàn)已經(jīng)開打,美、...
2016年臺(tái)灣IC產(chǎn)業(yè)表現(xiàn)優(yōu)于預(yù)期
2016年全年度全球半導(dǎo)體市場(chǎng)全年總銷售值達(dá)3,389億美元,較2015年成長(zhǎng)1.1%;2016年總銷售量達(dá)8,241億顆,較2015年成長(zhǎng)4.7%;2...
2017-02-22 標(biāo)簽:IC設(shè)計(jì)IC測(cè)試IC制造 1701 0
3D IC測(cè)試的兩個(gè)主要目標(biāo)是提高預(yù)封裝測(cè)試質(zhì)量,以及在堆棧芯片之間建立新的測(cè)試。業(yè)界如今已能有效測(cè)試堆棧在邏輯模塊上的內(nèi)存,但logic-on-log...
Mellanox Technologies 選用 Mentor Graphics Tessent階層化ATPG解決方案
Mentor Graphics 公司(納斯達(dá)克代碼:MENT)今天宣布,Mellanox Technologies 已將全新的 Mentor? Tes...
2015-05-19 標(biāo)簽:IC測(cè)試Mentor GraphicsATPG 1872 0
對(duì)基于SoC系統(tǒng)設(shè)計(jì)的探查
調(diào)試復(fù)雜電子系統(tǒng)從來(lái)都不是一項(xiàng)簡(jiǎn)單的工作,但至少是可以實(shí)現(xiàn)的。您要找到問(wèn)題所在。采用您最相信的“示波器”,通過(guò)模擬電路到數(shù)字轉(zhuǎn)換,您可以追溯到問(wèn)題的源頭...
2012-07-23 標(biāo)簽:ic測(cè)試soc系統(tǒng)soc供應(yīng)商 1313 0
靜電放電(ESD,electrostatic discharge)是電子工業(yè)最花代價(jià)的損壞原因之一,它會(huì)影響到生產(chǎn)合格率、制造成本、產(chǎn)品質(zhì)量與可靠性以及...
芯片開發(fā)和生產(chǎn)中的IC測(cè)試基本原理
1 引言 本文主要討論芯片開發(fā)和生產(chǎn)過(guò)程中的IC測(cè)試基本原理,內(nèi)容覆蓋了基本的測(cè)試原理,影響測(cè)試決策的基本因素以及IC測(cè)試中的常用術(shù)語(yǔ)。 ...
2010-09-02 標(biāo)簽:IC測(cè)試 3810 0
北京IC測(cè)試實(shí)驗(yàn)室成立 探索科研運(yùn)作新模式
北京IC測(cè)試實(shí)驗(yàn)室成立 探索科研運(yùn)作新模式 11月30日,北京集成電路測(cè)試技術(shù)聯(lián)合實(shí)驗(yàn)室正式啟動(dòng) 集成電路(IC)...
2009-12-09 標(biāo)簽:IC測(cè)試實(shí)驗(yàn)室 975 0
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