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5G時(shí)代,多端口器件測(cè)試面臨哪些挑戰(zhàn)?

Carol Li ? 來(lái)源:電子發(fā)燒友網(wǎng) ? 作者:李彎彎 ? 2019-10-25 07:50 ? 次閱讀

隨著5G來(lái)臨,元器件開始朝更多端口、更集成化、更高復(fù)雜度的方向發(fā)展。

從器件方面來(lái)看,2G/3G時(shí)代,手機(jī)背板基本貼的是單個(gè)元器件,包括濾波器、功放、雙工器。到5G時(shí)代,要求器件的尺寸越來(lái)越小,集成化就成了新趨勢(shì),比如射頻前端模塊,就是將天線開關(guān)、放大器、雙工器、濾波器等集成在一起。

從天線方面來(lái)看,2G時(shí)代,手機(jī)基本使用單端口天線。到5G時(shí)代,毫米波頻段的引用,使得射頻信號(hào)空間損耗非常大,為了改善這種狀況,開始采用MIMO陣列天線,就會(huì)有很多端口。MIMO(Multiple-InputMultiple-Output),指在發(fā)射端和接收端分別使用多個(gè)發(fā)射天線和接收天線,使信號(hào)通過(guò)發(fā)射端與接收端的多個(gè)天線傳送和接收,從而改善通信質(zhì)量。

圖:元器件朝更多端口、更集成化方向發(fā)展

同時(shí),更多端口、更集成化、更高復(fù)雜度的器件,給測(cè)試帶來(lái)了諸多挑戰(zhàn),在10月17日的是德科技測(cè)試技術(shù)研討會(huì)上,是德科技Application Engineer LiMeng分享了5G時(shí)代多端口器件測(cè)試存在的問(wèn)題及解決方案。

多端口器件測(cè)試面臨諸多挑戰(zhàn)

1.測(cè)試的參數(shù)越來(lái)越多。比如濾波器測(cè)試,過(guò)去只需測(cè)S參數(shù)(也就是散射參數(shù),是微波傳輸中的一個(gè)重要參數(shù))?,F(xiàn)在,因?yàn)榧苫厔?shì),需要測(cè)的可能就是FEMiD,與雙工器集成的前段模塊,除了S參數(shù)之外,還需要測(cè)增益壓縮、三階交調(diào)、噪聲系數(shù)等。

再比如高速互連線測(cè)試,如果是一個(gè)差分線,只需測(cè)插損或阻抗,而現(xiàn)在隨著傳輸速度增高、通道數(shù)增多,除了測(cè)阻抗、插損之外,還需要測(cè)延時(shí)、串?dāng)_(包括近串、遠(yuǎn)串等),可見測(cè)量參數(shù)急劇增加。

2.測(cè)試指標(biāo)要求高。因?yàn)槎喽丝跍y(cè)試量很大,所以需要測(cè)試效率必須很高。如果測(cè)試量急劇增多,而測(cè)試效率卻跟原來(lái)一樣的話,就需要非常長(zhǎng)的時(shí)間才能完成整個(gè)器件的測(cè)試。

3.精度高、系統(tǒng)穩(wěn)定性好。多端口的器件對(duì)于測(cè)試系統(tǒng)來(lái)說(shuō),提出了非常高的要求,如果希望測(cè)試出來(lái)的結(jié)果精度高,穩(wěn)定性好,就需要測(cè)試效率更高的測(cè)試系統(tǒng)。

面對(duì)多端口器件測(cè)試,面前市面上有兩大比較傳統(tǒng)的測(cè)試方案,一是用2端口或者4端口網(wǎng)絡(luò)分析儀多次測(cè)量,二是基于基于網(wǎng)絡(luò)分析儀和開關(guān)矩陣的多端口測(cè)試系統(tǒng),其中前者使用較少,后者較為常見,這兩大測(cè)試方案各有優(yōu)缺點(diǎn)。

傳統(tǒng)測(cè)試方案缺點(diǎn)顯著

用2端口或者4端口網(wǎng)絡(luò)分析儀多次測(cè)量,此方案的優(yōu)點(diǎn)在于,測(cè)試方法非常簡(jiǎn)單,儀表成本低。缺點(diǎn)很多,一是測(cè)試時(shí)間很長(zhǎng),Li Meng介紹到,是德科技做過(guò)一個(gè)實(shí)驗(yàn),讓對(duì)儀表操作非常熟練的工程師,對(duì)14端口的器件進(jìn)行全參數(shù)測(cè)試,需要50分鐘,這對(duì)于產(chǎn)線和研發(fā)來(lái)說(shuō),耗時(shí)太長(zhǎng);二是測(cè)試過(guò)程非常復(fù)雜,用2端口網(wǎng)絡(luò)分析儀對(duì)N端口器件進(jìn)行測(cè)試,需要將N個(gè)端口器件,兩兩間都要組合測(cè)量,即需要測(cè)量N(N-1)/2次;三是為了避免串?dāng)_,在測(cè)量這兩個(gè)端口參數(shù)的時(shí)候,其他端口還需要連上負(fù)載。

基于網(wǎng)絡(luò)分析儀和開關(guān)矩陣的多端口測(cè)試系統(tǒng),此方案是用兩端口的網(wǎng)絡(luò)分析儀,測(cè)N端口的器件,在網(wǎng)絡(luò)分析儀和器件之間,搭建一個(gè)開關(guān)矩陣,這樣就可以將網(wǎng)絡(luò)分析儀的兩個(gè)端口通過(guò)開關(guān)切到N個(gè)端口,測(cè)試的時(shí)候,只需把測(cè)試座N個(gè)端口與被測(cè)物連起來(lái)。

優(yōu)點(diǎn)在于,可一次連接所有端口,無(wú)需改變連接,并且對(duì)動(dòng)態(tài)范圍和精度要求不高的情況,具有較低的成本。缺點(diǎn)也很多,一是系統(tǒng)動(dòng)態(tài)范圍下降;二是系統(tǒng)精度和穩(wěn)定性不高;三是測(cè)試速度一般,加了開關(guān)箱之后,測(cè)試一個(gè)14端口器件需要12分鐘,雖然相較于方案一來(lái)說(shuō),時(shí)間雖然縮短很多,但是對(duì)于研發(fā)和產(chǎn)線來(lái)說(shuō),還是過(guò)長(zhǎng)。

什么是系統(tǒng)動(dòng)態(tài)范圍?系統(tǒng)動(dòng)態(tài)范圍指的是網(wǎng)絡(luò)分析儀端口最大輸出功率和端口噪底的差,系統(tǒng)指標(biāo)通常在10HzIFBW(中頻帶寬)下定義,IFBW每提高10倍,動(dòng)態(tài)范圍減少10dB。比如,若端口最大輸出5dBm,燥底為-115dBm,則系統(tǒng)動(dòng)態(tài)范圍為120dB(1FBW=10Hz),當(dāng)1FBW=1kHz時(shí),動(dòng)態(tài)范圍為100dB。

加開關(guān)箱之后,系統(tǒng)動(dòng)態(tài)范圍會(huì)受影響。一、開關(guān)矩陣內(nèi)部插損會(huì)降低動(dòng)態(tài)范圍,因?yàn)殚_關(guān)箱有插損,比如一個(gè)網(wǎng)絡(luò)分析儀,原本可以輸出10dBm的信號(hào),經(jīng)過(guò)開關(guān)箱,受插損影響之后,到達(dá)被測(cè)物的功率就會(huì)變小,不再是10dB;二、開關(guān)隔離度會(huì)限制系統(tǒng)動(dòng)態(tài)范圍;三是為了達(dá)到同樣的動(dòng)態(tài)范圍,需要設(shè)置更小的IFBW(中頻帶寬),測(cè)試速度就會(huì)變慢。

加開關(guān)箱之后,系統(tǒng)溫度穩(wěn)定性和精度不高。首先看溫度穩(wěn)定性,對(duì)于網(wǎng)絡(luò)分析儀來(lái)說(shuō),溫度穩(wěn)定性是一個(gè)非常重要的指標(biāo),什么是溫度穩(wěn)定性?簡(jiǎn)單點(diǎn)說(shuō),就是這個(gè)時(shí)刻測(cè)的結(jié)果,和兩個(gè)小時(shí)之后測(cè)的結(jié)果不一樣,這就是穩(wěn)定性不好,即存在溫漂。LiMeng指出,網(wǎng)絡(luò)分析儀內(nèi)部是由各種有源器件組成的,整套網(wǎng)絡(luò)分析儀系統(tǒng)在出場(chǎng)的時(shí)候,會(huì)給一個(gè)溫度穩(wěn)定性指標(biāo),一般這個(gè)溫度穩(wěn)定性的溫漂非常小,而加開關(guān)箱之后,溫度穩(wěn)定性的溫漂就很明顯,即同一個(gè)被測(cè)物,現(xiàn)在測(cè)的結(jié)果和兩個(gè)小時(shí)之后測(cè)的結(jié)果相差非常大。再來(lái)看系統(tǒng)的精度,因?yàn)樵诰W(wǎng)分和被測(cè)物之間,接入了一段電路,即開關(guān)箱,系統(tǒng)原始性能(匹配、方向性)就會(huì)變差,從而導(dǎo)致精度變差。

雖然開關(guān)矩陣的這些誤差能夠通過(guò)校準(zhǔn)消除掉,但是過(guò)程極其復(fù)雜,分兩種情況,如果網(wǎng)分和開關(guān)矩陣由同一廠家提供,并支持多端口校準(zhǔn),如Keysight PNA+多端口測(cè)試座,則校準(zhǔn)測(cè)量過(guò)程較為簡(jiǎn)單。而多數(shù)情況下,開關(guān)矩陣校準(zhǔn)測(cè)量復(fù)雜、耗時(shí),需要編程控制,比如校準(zhǔn)時(shí),需要切到兩個(gè)端口校準(zhǔn),保存校準(zhǔn)數(shù)據(jù),再切到下面?zhèn)€端口校準(zhǔn),保存校準(zhǔn)數(shù)據(jù),并且需要重復(fù)N(N-1)/2次,測(cè)量完成后,還需要切到兩個(gè)端口,調(diào)用校準(zhǔn)測(cè)量,再切到下兩個(gè)端口,調(diào)用校準(zhǔn)測(cè)量。

加開關(guān)箱之后,對(duì)整套系統(tǒng)測(cè)試速度有影響。上文提到,只用一個(gè)兩端口的網(wǎng)分,測(cè)一個(gè)14端口的器件,需要50分鐘,加開關(guān)箱之后,測(cè)量速度下降到12分鐘,雖然時(shí)長(zhǎng)大幅下降,但是節(jié)省下來(lái)的并不是系統(tǒng)處理數(shù)據(jù)的時(shí)間,而是手動(dòng)擰動(dòng)連接的時(shí)間。而處理數(shù)據(jù)的能力其實(shí)還是依賴于網(wǎng)分,比如兩端口的網(wǎng)分,加了一個(gè)多端口的開關(guān)箱,但實(shí)際上網(wǎng)分的接收通路還是網(wǎng)分的兩條通路。

網(wǎng)絡(luò)分析儀有一個(gè)影響測(cè)試速度的重要參數(shù),叫儀表的掃描次數(shù),Li Meng表示,只有通過(guò)網(wǎng)絡(luò)分析儀增加處理數(shù)據(jù)能力的接收機(jī),才能提高處理數(shù)據(jù)的速度。比如要處理一個(gè)8端口的器件,2端口的網(wǎng)分+開關(guān)箱,需要56次掃描;4端口的網(wǎng)分+開關(guān)箱,需要24次掃描;真正意義8端口網(wǎng)分,需要8次掃描,也就是真正意義8端口網(wǎng)分,8次掃描就可以把所有的參數(shù)取下來(lái)。

可見,加開關(guān)箱之后,雖然硬件的通道數(shù)可以達(dá)到,而這對(duì)整套系統(tǒng)的測(cè)試精度、溫度穩(wěn)定性、動(dòng)態(tài)范圍、測(cè)速速度、校準(zhǔn)的復(fù)雜度等都會(huì)帶來(lái)不好的影響。

因此,對(duì)多端口的器件的測(cè)試來(lái)說(shuō),只有具有真正意義的多端口接收機(jī)的網(wǎng)絡(luò)分析儀才能提供最好的系統(tǒng)性能。

是德科技多端口網(wǎng)絡(luò)分析儀

為了適應(yīng)5G時(shí)代,多端口器件的測(cè)試需求,是德科技于今年5月份推出了最新的網(wǎng)絡(luò)分析儀M980xA系列,就是一款真正意義的多端口網(wǎng)絡(luò)分析儀,網(wǎng)絡(luò)分析儀有四個(gè)非常重要的參數(shù),動(dòng)態(tài)范圍、掃描時(shí)間、軌跡噪聲和溫度穩(wěn)定性,M980xA系列在這四個(gè)參數(shù)的表現(xiàn)上都非常出色。

圖:是德科技多端口網(wǎng)絡(luò)分析儀M980xA系列特性

相較于傳統(tǒng)測(cè)量方案,該系列多端口網(wǎng)絡(luò)分析儀可以幫助客戶解決多方面的問(wèn):一、簡(jiǎn)化測(cè)試系統(tǒng),加快對(duì)測(cè)試系統(tǒng)的重新配置和校準(zhǔn);二、減少測(cè)試系統(tǒng)中的部件數(shù)量,最大限度地減少維護(hù)和停機(jī)成本;三、簡(jiǎn)單、方便地自動(dòng)完成設(shè)置,加快測(cè)試速度,提高測(cè)試吞吐量;四、避免使用額外連接和外部開關(guān)時(shí)所帶來(lái)的損耗,提高測(cè)試精度;五、定制硬件,輕松適應(yīng)未來(lái)的測(cè)試要求。

并且,該款新型網(wǎng)絡(luò)分析儀包含多種測(cè)量應(yīng)用軟件,如自動(dòng)夾具移除、時(shí)域分析、基礎(chǔ)脈沖射頻測(cè)量、標(biāo)量混頻器/變頻器測(cè)量、增益壓縮測(cè)量、頻譜分析等。

圖:M980xA系列網(wǎng)絡(luò)分析儀應(yīng)用范圍

此外,該系列多端口網(wǎng)絡(luò)分析儀具有很高的自由度和靈活性,可以通過(guò)將多個(gè)測(cè)試接口進(jìn)行連接,實(shí)現(xiàn)更多多口的器件測(cè)試,并且操作界面非常簡(jiǎn)單,只要點(diǎn)擊選擇需要使用的部分即可。

圖:新型多端口網(wǎng)絡(luò)分析儀操作界面

總結(jié)

相對(duì)于4G來(lái)說(shuō),5G時(shí)代在很多方面都發(fā)生了變化,這些變化意味著相關(guān)技術(shù)要面臨一場(chǎng)全面的革新,比如測(cè)試技術(shù),5G時(shí)代需要更高綜合度和靈活性的測(cè)試解決方案,用于應(yīng)對(duì)器件集成化等各方面帶來(lái)的測(cè)試挑戰(zhàn),這些挑戰(zhàn)同時(shí)也成了測(cè)試企業(yè)贏得市場(chǎng)的重要機(jī)會(huì)。

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    挑戰(zhàn)。 那么,5G-A的發(fā)展究竟會(huì)給5G射頻究竟會(huì)帶來(lái)哪些新的研發(fā)測(cè)試挑戰(zhàn)? 傳統(tǒng)的MIMO和波束賦形
    的頭像 發(fā)表于 12-13 16:15 ?1272次閱讀
    【12月21日】  邀你連線專家,一起探索<b class='flag-5'>5G</b>-A <b class='flag-5'>時(shí)代</b>射頻天線<b class='flag-5'>測(cè)試</b>新<b class='flag-5'>挑戰(zhàn)</b>

    Arm架構(gòu)在5G商用中的優(yōu)勢(shì)與挑戰(zhàn)

    Arm架構(gòu)還能解決5G推廣中面臨的高能耗問(wèn)題。Arm最新推出的輕量化5G端側(cè)協(xié)議,能夠很好地推動(dòng)5G模組走向高性能、低功耗、低成本的市場(chǎng)趨勢(shì)。這也是Arm架構(gòu)被選擇的重要原因。
    發(fā)表于 12-04 14:57 ?459次閱讀